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1. 发明专利

TW201800822A 多鏡頭模組的調校方法及其系統审中-公开
简体标题：多镜头模块的调校方法及其系统
公开(公告)号：TW201800822A
公开(公告)日：2018-01-01
申请号：TW105119829
申请日：2016-06-24
申请人：聚晶半導體股份有限公司 , ALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：王煜智 , WANG, YU-CHIH , 魏守德 , WEI, SHOU-TE , 黃昱瑋 , HUANG, YU-WEI , 楊富貴 , YANG, FU-KUI , 黃琪盈 , HUANG, CHI-YING
IPC分类号： G03B5/00 , G03B19/22
CPC分类号： G06T7/80 , G06T5/006 , G06T7/001 , G06T7/0018
摘要：一種多鏡頭模組的調校方法及其系統，適用於出廠前針對多鏡頭模組進行調校，此方法包括下列步驟。利用多鏡頭模組中的第一鏡頭以及第二鏡頭拍攝校正物，據以產生第一鏡頭的內部參數以及外部參數以及第二鏡頭的內部參數以及外部參數，其中第一鏡頭的外部參數與第二鏡頭的外部參數關聯於共同參考座標系統。利用第一鏡頭以及第二鏡頭拍攝標的物，並且利用第一鏡頭以及第二鏡頭各自的內部參數以及外部參數對於第一鏡頭以及第二鏡頭所分別拍攝到的標的物的影像進行處理，以產生已校正影像。根據已校正影像，調整並且對齊第一鏡頭以及第二鏡頭。
简体摘要：一种多镜头模块的调校方法及其系统，适用于出厂前针对多镜头模块进行调校，此方法包括下列步骤。利用多镜头模块中的第一镜头以及第二镜头拍摄校正物，据以产生第一镜头的内部参数以及外部参数以及第二镜头的内部参数以及外部参数，其中第一镜头的外部参数与第二镜头的外部参数关联于共同参考座标系统。利用第一镜头以及第二镜头拍摄标的物，并且利用第一镜头以及第二镜头各自的内部参数以及外部参数对于第一镜头以及第二镜头所分别拍摄到的标的物的影像进行处理，以产生已校正影像。根据已校正影像，调整并且对齐第一镜头以及第二镜头。

2. 发明专利

TWI584634B 適於產生深度圖的電子裝置與方法有权
简体标题：适于产生深度图的电子设备与方法
公开(公告)号：TWI584634B
公开(公告)日：2017-05-21
申请号：TW105126999
申请日：2016-08-24
申请人：聚晶半導體股份有限公司 , ALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：周宏隆 , CHOU, HONG-LONG , 魏守德 , WEI, SHOU-TE , 廖元麟 , LIAO, YUAN-LIN , 王煜智 , WANG, YU-CHIH , 曾開瑜 , TSENG, KAI-YU
IPC分类号： H04N13/00
CPC分类号： H04N13/243 , G06T7/521 , G06T7/55 , G06T2207/10012 , G06T2207/10016 , G06T2207/10024 , G06T2207/10048 , G06T2207/30168 , H04N5/2226 , H04N5/2258 , H04N5/33 , H04N13/128

3. 发明专利

TW201733350A 適於產生深度圖的電子裝置與方法审中-公开
简体标题：适于产生深度图的电子设备与方法
公开(公告)号：TW201733350A
公开(公告)日：2017-09-16
申请号：TW105126999
申请日：2016-08-24
申请人：聚晶半導體股份有限公司 , ALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：周宏隆 , CHOU, HONG-LONG , 魏守德 , WEI, SHOU-TE , 廖元麟 , LIAO, YUAN-LIN , 王煜智 , WANG, YU-CHIH , 曾開瑜 , TSENG, KAI-YU
IPC分类号： H04N13/00
CPC分类号： H04N13/243 , G06T7/521 , G06T7/55 , G06T2207/10012 , G06T2207/10016 , G06T2207/10024 , G06T2207/10048 , G06T2207/30168 , H04N5/2226 , H04N5/2258 , H04N5/33 , H04N13/128
摘要：適於產生深度圖的電子裝置與方法。電子裝置包括投光裝置、第一攝像裝置、第二攝像裝置與處理裝置。投光裝置投影圖案化的不可見光於場景上。第一攝像裝置擷取可見光資訊以產生場景的第一影像。第二攝像裝置擷取可見光資訊與不可見光資訊以產生場景的第二影像。處理裝置接收第一影像與第二影像，並且處理裝置中的第一深度資訊單元比對第一影像與第二影像的可見光影像以取得第一深度資訊，而處理裝置中的第二深度資訊單元辨識第二影像中的不可見光影像以取得第二深度資訊。處理裝置選擇性地由第一深度資訊與第二深度資訊產生場景的深度圖。
简体摘要：适于产生深度图的电子设备与方法。电子设备包括投光设备、第一摄像设备、第二摄像设备与处理设备。投光设备投影图案化的不可见光于场景上。第一摄像设备截取可见光信息以产生场景的第一影像。第二摄像设备截取可见光信息与不可见光信息以产生场景的第二影像。处理设备接收第一影像与第二影像，并且处理设备中的第一深度信息单元比对第一影像与第二影像的可见光影像以取得第一深度信息，而处理设备中的第二深度信息单元辨识第二影像中的不可见光影像以取得第二深度信息。处理设备选择性地由第一深度信息与第二深度信息产生场景的深度图。

4. 发明专利

TW201801516A 影像擷取裝置及其攝影構圖的方法审中-公开
简体标题：影像截取设备及其摄影构图的方法
公开(公告)号：TW201801516A
公开(公告)日：2018-01-01
申请号：TW105119818
申请日：2016-06-24
申请人：聚晶半導體股份有限公司 , ALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：王煜智 , WANG, YU-CHIH , 魏守德 , WEI, SHOU-TE
IPC分类号： H04N5/232 , H04N5/225
CPC分类号： H04N5/2226 , H04N5/2257 , H04N5/23222
摘要：本發明提出一種影像擷取裝置及其攝影構圖的方法，此方法適用於具有第一鏡頭以及深度感測器的影像擷取裝置，並且包括下列步驟。首先，利用第一鏡頭取得拍攝場景的預覽畫面，並且利用深度感測器取得拍攝場景的深度資訊。接著，根據深度資訊，針對預覽畫面進行場景分析，以產生場景分析結果。之後，根據場景分析結果以及對應的攝影構圖法則，判斷預覽畫面是否符合攝影構圖要求。若是，利用第一鏡頭拍攝預覽畫面；若否，則根據場景分析結果所對應的攝影構圖法則，提供符合拍攝場景的構圖建議。
简体摘要：本发明提出一种影像截取设备及其摄影构图的方法，此方法适用于具有第一镜头以及深度传感器的影像截取设备，并且包括下列步骤。首先，利用第一镜头取得拍摄场景的预览画面，并且利用深度传感器取得拍摄场景的深度信息。接着，根据深度信息，针对预览画面进行场景分析，以产生场景分析结果。之后，根据场景分析结果以及对应的摄影构图法则，判断预览画面是否符合摄影构图要求。若是，利用第一镜头拍摄预览画面；若否，则根据场景分析结果所对应的摄影构图法则，提供符合拍摄场景的构图建议。

5. 发明专利

TWI640199B 影像擷取裝置及其攝影構圖的方法有权
简体标题：影像截取设备及其摄影构图的方法
公开(公告)号：TWI640199B
公开(公告)日：2018-11-01
申请号：TW105119818
申请日：2016-06-24
申请人：聚晶半導體股份有限公司 , ALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：王煜智 , WANG, YU-CHIH , 魏守德 , WEI, SHOU-TE
IPC分类号： H04N5/232 , H04N5/225

6. 发明专利

TWI616715B 多鏡頭模組的調校方法及其系統有权
简体标题：多镜头模块的调校方法及其系统
公开(公告)号：TWI616715B
公开(公告)日：2018-03-01
申请号：TW105119829
申请日：2016-06-24
申请人：聚晶半導體股份有限公司 , ALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：王煜智 , WANG, YU-CHIH , 魏守德 , WEI, SHOU-TE , 黃昱瑋 , HUANG, YU-WEI , 楊富貴 , YANG, FU-KUI , 黃琪盈 , HUANG, CHI-YING
IPC分类号： G03B5/00 , G03B19/22
CPC分类号： G06T7/80 , G06T5/006 , G06T7/001 , G06T7/0018

7. 发明专利

TWI629550B 影像擷取裝置及其縮放影像的方法有权
简体标题：影像截取设备及其缩放影像的方法
公开(公告)号：TWI629550B
公开(公告)日：2018-07-11
申请号：TW106102481
申请日：2017-01-23
申请人：聚晶半導體股份有限公司 , ALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：王煜智 , WANG, YU-CHIH , 魏守德 , WEI, SHOU-TE , 王耀笙 , WANG, YAO-SHENG , 黃琪盈 , HUANG, CHI-YING , 陳正旻 , CHEN, CHENG MING
IPC分类号： G03B13/32 , G03B13/00 , G06T3/20

8. 发明专利

TW201812424A 影像擷取裝置及其縮放影像的方法审中-公开
简体标题：影像截取设备及其缩放影像的方法
公开(公告)号：TW201812424A
公开(公告)日：2018-04-01
申请号：TW106102481
申请日：2017-01-23
申请人：聚晶半導體股份有限公司 , ALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：王煜智 , WANG, YU-CHIH , 魏守德 , WEI, SHOU-TE , 王耀笙 , WANG, YAO-SHENG , 黃琪盈 , HUANG, CHI-YING , 陳正旻 , CHEN, CHENG MING
IPC分类号： G03B13/32 , G03B13/00 , G06T3/20
摘要：一種影像擷取裝置及其縮放影像的方法。此方法利用廣角鏡頭與望遠鏡頭分別拍攝廣角影像與望遠影像，接著辨識廣角影像或望遠影像中的興趣物件。然後，接收縮放倍率以縮放廣角影像或望遠影像，並在縮放過程中調整用以擷取廣角影像與望遠影像的興趣視窗的擷取範圍，使得由興趣視窗所擷取的廣角影像的中心朝向該興趣物件移動，且當縮放倍率到達望遠鏡頭的放大倍率時，該興趣物件在興趣視窗所擷取的廣角影像與望遠影像中的位置等同。
简体摘要：一种影像截取设备及其缩放影像的方法。此方法利用广角镜头与望远镜头分别拍摄广角影像与望远影像，接着辨识广角影像或望远影像中的兴趣对象。然后，接收缩放倍率以缩放广角影像或望远影像，并在缩放过程中调整用以截取广角影像与望远影像的兴趣窗口的截取范围，使得由兴趣窗口所截取的广角影像的中心朝向该兴趣对象移动，且当缩放倍率到达望远镜头的放大倍率时，该兴趣对象在兴趣窗口所截取的广角影像与望远影像中的位置等同。

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