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1. 发明专利

TW200933162A 調整頻率刻度抑制洩漏量之頻譜分析方法审中-公开
简体标题：调整频率刻度抑制泄漏量之频谱分析方法
公开(公告)号：TW200933162A
公开(公告)日：2009-08-01
申请号：TW097102035
申请日：2008-01-18
申请人：義守大學 I-SHOU UNIVERSITY
发明人：吳榮慶 WU, RONG CHING , 江景泰 CHIANG, CHING TAI , 吳永駿 WU, YUNG CHUN
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R23/16
摘要：本發明係一種調整頻率刻度抑制洩漏量之頻譜分析方法,係將一連續信號取樣為取樣信號,並轉換成一第一頻譜後,再計算取樣信號之所有分量的振幅與頻率。係依第一頻譜所示之取樣信號的頻率、振幅與取樣點數來建立一洩漏量計算式,並利用洩漏量計算式計算取樣信號中,洩漏量最小之取樣點數並取得一刻度位移函數。再以洩漏量最小之取樣點數調整信號長度,最後由調整後之取樣信號與刻度位移函數轉換出一第二頻譜。以此方法,使轉換出的分量可準確座落於頻譜之頻率刻度上,使分量不會座落於不正確之刻度而產生洩漏效應,進而提高頻譜之精確性。
简体摘要：本发明系一种调整频率刻度抑制泄漏量之频谱分析方法,系将一连续信号采样为采样信号,并转换成一第一频谱后,再计算采样信号之所有分量的振幅与频率。系依第一频谱所示之采样信号的频率、振幅与采样点数来创建一泄漏量计算式,并利用泄漏量计算式计算采样信号中,泄漏量最小之采样点数并取得一刻度位移函数。再以泄漏量最小之采样点数调整信号长度,最后由调整后之采样信号与刻度位移函数转换出一第二频谱。以此方法,使转换出的分量可准确座落于频谱之频率刻度上,使分量不会座落于不正确之刻度而产生泄漏效应,进而提高频谱之精确性。

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