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    • 1. 发明专利
    • 光電裝置、電子機器及光電裝置之製造方法
    • 光电设备、电子机器及光电设备之制造方法
    • TW200302938A
    • 2003-08-16
    • TW092101031
    • 2003-01-17
    • 精工愛普生股份有限公司 SEIKO EPSON CORPORATOIN
    • 藤田伸
    • G02F
    • G02F1/13454G02F2001/136254G02F2203/69H01L27/124H01L27/1255H01L29/78621Y10T29/41
    • 提供可以確實地檢查形成在保持光電物質之基板上的多數薄膜開關元件之電氣性特性的光電裝置、電子機器及光電裝置之製造方法。其解決手段於液晶裝置之TFT基板10中,在位於畫素區域10a之外圍側上的一個虛設畫素100d上,形成檢查用TFT30g,並且將連接於該汲極區域1e之畫素電極9a當作第1檢查墊片31g。與此鄰接的虛設畫素是將與自資料線延部分6g電氣性連接之畫素電極9a當作第2檢查墊片32g,其他鄰接之虛設畫素是將對自掃描線3a延伸部分3g,透過中繼電極6h而電氣連接的畫素電極9a當作第3檢查墊片33g。
    • 提供可以确实地检查形成在保持光电物质之基板上的多数薄膜开关组件之电气性特性的光电设备、电子机器及光电设备之制造方法。其解决手段于液晶设备之TFT基板10中,在位于像素区域10a之外围侧上的一个虚设像素100d上,形成检查用TFT30g,并且将连接于该汲极区域1e之像素电极9a当作第1检查垫片31g。与此邻接的虚设像素是将与自数据线延部分6g电气性连接之像素电极9a当作第2检查垫片32g,其他邻接之虚设像素是将对自扫描线3a延伸部分3g,透过中继电极6h而电气连接的像素电极9a当作第3检查垫片33g。