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1. 发明专利

TWI623741B 光學檢測系統有权
简体标题：光学检测系统
公开(公告)号：TWI623741B
公开(公告)日：2018-05-11
申请号：TW105119735
申请日：2016-06-23
申请人：由田新技股份有限公司 , UTECHZONE CO., LTD.
发明人：王人傑 , WANG, JEN CHIEH , 賴明正 , LAI, MING CHENG
IPC分类号： G01N21/95 , B07C5/342

2. 发明专利

TWI593968B 用於同時檢測複數個待測料片之移載設備及其單側式／雙側式檢測系統有权
简体标题：用于同时检测复数个待测料片之移载设备及其单侧式／双侧式检测系统
公开(公告)号：TWI593968B
公开(公告)日：2017-08-01
申请号：TW105125209
申请日：2016-08-08
申请人：由田新技股份有限公司 , UTECHZONE CO., LTD.
发明人：鄒嘉駿 , TSOU, CHIA CHUN , 王人傑 , WANG, JEN CHIEH , 古振男 , KU, CHEN NAN
IPC分类号： G01N35/10 , G01N21/84

3. 发明专利

TWI573655B 工件傾角校正系統有权
简体标题：工件倾角校正系统
公开(公告)号：TWI573655B
公开(公告)日：2017-03-11
申请号：TW105107178
申请日：2016-03-09
申请人：由田新技股份有限公司 , UTECHZONE CO., LTD.
发明人：王人傑 , WANG, JEN CHIEH , 柯岳廷 , KE, YUEH TING
IPC分类号： B23P19/10 , A63B53/00

4. 发明专利

TWI571620B 模板式真空吸平裝置及其料片檢測設備及料片移載設備有权
简体标题：模板式真空吸平设备及其料片检测设备及料片移载设备
公开(公告)号：TWI571620B
公开(公告)日：2017-02-21
申请号：TW104104346
申请日：2015-02-10
申请人：由田新技股份有限公司 , UTECHZONE CO., LTD.
发明人：鄒嘉駿 , TSOU, CHIA CHUN , 蔡鴻儒 , TSAI, HUNG JU , 王人傑 , WANG, JEN CHIEH , 徐志宏 , HSU, CHIH HUNG
IPC分类号： G01M11/02

5. 发明专利

TW201702557A 往復式線性編碼器及具有往復式線性編碼器的光學檢測平台审中-公开
简体标题：往复式线性编码器及具有往复式线性编码器的光学检测平台
公开(公告)号：TW201702557A
公开(公告)日：2017-01-16
申请号：TW104122990
申请日：2015-07-15
申请人：由田新技股份有限公司 , UTECHZONE CO., LTD.
发明人：鄒嘉駿 , TSOU, CHIA CHUN , 蔡鴻儒 , TSAI, HUNG JU , 方志恆 , FANG, CHIH HENG , 陸家樑 , LU, CHIA LIANG , 王人傑 , WANG, JEN CHIEH , 徐志宏 , HSU, CHIH HUNG
IPC分类号： G01D5/00 , G01B11/00
摘要：一種光學檢測平台，包含有一輸送裝置，一攝像裝置，一真空吸平裝置，以及一往復式線性編碼器。該輸送裝置帶動輸送帶朝一檢測方向移動。該攝像裝置朝該輸送帶的方向拍攝藉以於該輸送帶上界定一待測區域。該真空吸平裝置對該輸送帶上的複數個通孔提供吸附力。該往復式線性編碼器用於量測該輸送帶精確的位置及行程距離。
简体摘要：一种光学检测平台，包含有一输送设备，一摄像设备，一真空吸平设备，以及一往复式线性编码器。该输送设备带动输送带朝一检测方向移动。该摄像设备朝该输送带的方向拍摄借以于该输送带上界定一待测区域。该真空吸平设备对该输送带上的复数个通孔提供吸附力。该往复式线性编码器用于量测该输送带精确的位置及行程距离。

6. 发明专利

TW201506418A 物品檢測方法及實現該方法的物品檢測設備审中-公开
简体标题：物品检测方法及实现该方法的物品检测设备
公开(公告)号：TW201506418A
公开(公告)日：2015-02-16
申请号：TW102129203
申请日：2013-08-14
申请人：由田新技股份有限公司 , UTECHZONE CO., LTD.
发明人：王人傑 , WANG, JEN CHIEH , 張銘杰 , CHANG, KEVIN , 蕭聖哲 , HSIO, SHENG CHE , 陳靖文 , CHEN, CHING WEN , 張文政 , CHANG, WEN CHENG , 陳炳坤 , CHEN, PING KUN
IPC分类号： G01R31/01 , G01R3/00
摘要：本發明揭露一種物品檢測方法，其係先將分別載有物品的多個托盤依序從一入料位置先送到一檢測裝置對進行雙面檢測，完成雙面檢測後的托盤再送到一挑揀準備位置。接著，將先、後到達該挑揀準備位置的托盤分別移送到一待補料位置及一補料位置。然後，將位在該待補料位置的托盤上的第一種等級物品挑出並放到已預先放在一接收位置的一個空的托盤上，及將位於該補料位置的托盤上的第二種等級物品挑出並填補到位在該待補料位置的托盤上的空位。本發還提供一種用於實現該方法的物品檢測設備，其主要包括一檢裝測裝置及一挑揀裝置。該檢裝測裝置係對從一入料位置移到一檢測位置的托盤上的物品進行檢測，用以從該些物品中找出良好物品及不良物品。這些托盤隨後會被送該挑揀裝置下方，由該該挑揀裝置將位於一待補料位置的托盤上的不良物品取出並放到預先放置的一空托盤上，及將位於一補料位置的托盤上的良好物品取出並放到位於該待補料位置的托盤上。
简体摘要：本发明揭露一种物品检测方法，其系先将分别载有物品的多个托盘依序从一入料位置先送到一检测设备对进行双面检测，完成双面检测后的托盘再送到一挑拣准备位置。接着，将先、后到达该挑拣准备位置的托盘分别移送到一待补料位置及一补料位置。然后，将位在该待补料位置的托盘上的第一种等级物品挑出并放到已预先放在一接收位置的一个空的托盘上，及将位于该补料位置的托盘上的第二种等级物品挑出并填补到位在该待补料位置的托盘上的空位。本发还提供一种用于实现该方法的物品检测设备，其主要包括一检装测设备及一挑拣设备。该检装测设备系对从一入料位置移到一检测位置的托盘上的物品进行检测，用以从该些物品中找出良好物品及不良物品。这些托盘随后会被送该挑拣设备下方，由该该挑拣设备将位于一待补料位置的托盘上的不良物品取出并放到预先放置的一空托盘上，及将位于一补料位置的托盘上的良好物品取出并放到位于该待补料位置的托盘上。

7. 发明专利

TW201800747A 光學檢測系統审中-公开
简体标题：光学检测系统
公开(公告)号：TW201800747A
公开(公告)日：2018-01-01
申请号：TW105119735
申请日：2016-06-23
申请人：由田新技股份有限公司 , UTECHZONE CO., LTD.
发明人：王人傑 , WANG, JEN CHIEH , 賴明正 , LAI, MING CHENG
IPC分类号： G01N21/95 , B07C5/342
摘要：一種光學檢測系統，包含有一進料裝置、一多軸機械手臂、以及一待測物分類站台。該進料裝置係用以供待測物放置。該多軸機械手臂用以抓取該進料裝置上的該待測物，並將該待測物移動至影像檢測站台，以供該影像檢測站台上的影像擷取裝置拍攝該待測物的表面影像，藉以檢測該待測物的表面瑕疵。該待測物分類站台係包含有複數個出料裝置設置於該影像檢測站台的一側，該多軸機械手臂係依據該待測物的狀態將該待測物分類至個別該出料裝置。
简体摘要：一种光学检测系统，包含有一进料设备、一多轴机械手臂、以及一待测物分类站台。该进料设备系用以供待测物放置。该多轴机械手臂用以抓取该进料设备上的该待测物，并将该待测物移动至影像检测站台，以供该影像检测站台上的影像截取设备拍摄该待测物的表面影像，借以检测该待测物的表面瑕疵。该待测物分类站台系包含有复数个出料设备设置于该影像检测站台的一侧，该多轴机械手臂系依据该待测物的状态将该待测物分类至个别该出料设备。

8. 发明专利

TW201731621A 工件傾角校正系統审中-公开
简体标题：工件倾角校正系统
公开(公告)号：TW201731621A
公开(公告)日：2017-09-16
申请号：TW105107179
申请日：2016-03-09
申请人：由田新技股份有限公司 , UTECHZONE CO., LTD.
发明人：王人傑 , WANG, JEN CHIEH , 柯岳廷 , KE, YUEH TING
IPC分类号： B23P19/10 , A63B53/00
摘要：一種工件傾角校正系統，包含有治具、第一檢測裝置、第二檢測裝置、傾角校正裝置、以及控制單元。該治具用以固定該工件。該第一檢測裝置及該第二檢測裝置分別由二方向拍攝該第二區段的第一角度影像以及第二角度影像。該傾角校正裝置朝二維的方向施力調整工件第二區段與第一區段之間的至少一傾角。該控制單元係由該第一角度影像及該第二角度影像產生第一修正角度及第二修正角度，並基於該第一修正角度及該第二修正角度產生控制訊號。該傾角校正裝置依據該控制訊號朝該二維的方向扳轉該第二區段以修正該至少一傾角。
简体摘要：一种工件倾角校正系统，包含有治具、第一检测设备、第二检测设备、倾角校正设备、以及控制单元。该治具用以固定该工件。该第一检测设备及该第二检测设备分别由二方向拍摄该第二区段的第一角度影像以及第二角度影像。该倾角校正设备朝二维的方向施力调整工件第二区段与第一区段之间的至少一倾角。该控制单元系由该第一角度影像及该第二角度影像产生第一修正角度及第二修正角度，并基于该第一修正角度及该第二修正角度产生控制信号。该倾角校正设备依据该控制信号朝该二维的方向扳转该第二区段以修正该至少一倾角。

9. 发明专利

TWI585393B 料件檢查系統及料件檢查方法有权
简体标题：料件检查系统及料件检查方法
公开(公告)号：TWI585393B
公开(公告)日：2017-06-01
申请号：TW104135746
申请日：2015-10-30
申请人：由田新技股份有限公司 , UTECHZONE CO., LTD.
发明人：王人傑 , WANG, JEN-CHIEH , 賴明正 , LAI, MING-CHENG , 徐志宏 , HSU, CHIH HUNG
IPC分类号： G01N21/88

10. 发明专利

TWI573656B 工件傾角校正系統有权
简体标题：工件倾角校正系统
公开(公告)号：TWI573656B
公开(公告)日：2017-03-11
申请号：TW105107179
申请日：2016-03-09
申请人：由田新技股份有限公司 , UTECHZONE CO., LTD.
发明人：王人傑 , WANG, JEN CHIEH , 柯岳廷 , KE, YUEH TING
IPC分类号： B23P19/10 , A63B53/00

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