专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

TW202026852A 電容式觸控偵測電路审中-公开
简体标题：电容式触摸侦测电路
公开(公告)号：TW202026852A
公开(公告)日：2020-07-16
申请号：TW108100394
申请日：2019-01-04
申请人：瑞鼎科技股份有限公司 , RAYDIUM SEMICONDUCTOR CORPORATION
发明人：張智凱 , CHANG, CHIH KAI , 陳治雄 , CHEN, CHIH HSIUNG , 許有津 , HSU, YU CHIN
IPC分类号： G06F3/0488
摘要：一種電容式觸控偵測電路，包含第一開關至第十四開關、運算放大器、比較器、偵測電容、回授電容、放大器電容及互感電容。第十開關耦接於第一接點與第二接點之間。第一接點及第二接點分別耦接運算放大器之負輸入端及輸出端。放大器電容耦接於第三接點與第四接點之間。第十一開關耦接於第一接點與第三接點之間。第十二開關耦接於第二接點與第四接點之間。第十三開關耦接於第三接點與第二接點之間。第十四開關耦接於第四接點與第一接點之間。電容式觸控偵測電路依序運作於第一充電相位、第一導通相位、第二充電相位及第二導通相位下。
简体摘要：一种电容式触摸侦测电路，包含第一开关至第十四开关、运算放大器、比较器、侦测电容、回授电容、放大器电容及互感电容。第十开关耦接于第一接点与第二接点之间。第一接点及第二接点分别耦接运算放大器之负输入端及输出端。放大器电容耦接于第三接点与第四接点之间。第十一开关耦接于第一接点与第三接点之间。第十二开关耦接于第二接点与第四接点之间。第十三开关耦接于第三接点与第二接点之间。第十四开关耦接于第四接点与第一接点之间。电容式触摸侦测电路依序运作于第一充电相位、第一导通相位、第二充电相位及第二导通相位下。

2. 发明专利

TWI692716B 電容式觸控偵測電路有权
简体标题：电容式触摸侦测电路
公开(公告)号：TWI692716B
公开(公告)日：2020-05-01
申请号：TW108100394
申请日：2019-01-04
申请人：瑞鼎科技股份有限公司 , RAYDIUM SEMICONDUCTOR CORPORATION
发明人：張智凱 , CHANG, CHIH KAI , 陳治雄 , CHEN, CHIH HSIUNG , 許有津 , HSU, YU CHIN
IPC分类号： G06F3/0488

3. 发明专利

TW202026843A 電容式觸控偵測電路审中-公开
简体标题：电容式触摸侦测电路
公开(公告)号：TW202026843A
公开(公告)日：2020-07-16
申请号：TW108100755
申请日：2019-01-08
申请人：瑞鼎科技股份有限公司 , RAYDIUM SEMICONDUCTOR CORPORATION
发明人：張智凱 , CHANG, CHIH KAI , 陳治雄 , CHEN, CHIH HSIUNG , 光宇 , KUANG, YU , 許有津 , HSU, YU CHIN
IPC分类号： G06F3/044
摘要：一種電容式觸控偵測電路，包含運算放大器、並接電容、串接電容、偵測電容、測試電容、第一~第八開關及第一~第二電流源。並接電容耦接運算放大器之第一輸入端與輸出端。串接電容與偵測電容串接於第一輸入端與接地端之間。測試電容耦接第二接點與接地端。第一開關耦接工作電壓與第一接點。第二開關耦接第一接點與接地端。第三開關耦接第二接點與接地端。第四開關耦接工作電壓與第二接點。第一電流源與第五開關串接於工作電壓與第一接點之間。第六開關與第二電流源串接於第一接點與接地端之間。第七開關耦接第二及第三接點。第八開關並聯並接電容。
简体摘要：一种电容式触摸侦测电路，包含运算放大器、并接电容、串接电容、侦测电容、测试电容、第一~第八开关及第一~第二电流源。并接电容耦接运算放大器之第一输入端与输出端。串接电容与侦测电容串接于第一输入端与接地端之间。测试电容耦接第二接点与接地端。第一开关耦接工作电压与第一接点。第二开关耦接第一接点与接地端。第三开关耦接第二接点与接地端。第四开关耦接工作电压与第二接点。第一电流源与第五开关串接于工作电压与第一接点之间。第六开关与第二电流源串接于第一接点与接地端之间。第七开关耦接第二及第三接点。第八开关并联并接电容。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式