专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

2. 发明专利

TW201614226A Ｘ射線薄膜檢查裝置审中-公开
简体标题：Ｘ射线薄膜检查设备
公开(公告)号：TW201614226A
公开(公告)日：2016-04-16
申请号：TW104120714
申请日：2015-06-26
申请人：理學股份有限公司 , RIGAKU CORPORATION
发明人：尾形潔 , OGATA, KIYOSHI , 吉原正 , YOSHIHARA, SEI , 杵渕隆男 , KINEFUCHI, TAKAO , 梅垣志朗 , UMEGAKI, SHIRO , 淺野繁松 , ASANO, SHIGEMATSU , 洞田克隆 , HORADA, KATSUTAKA , 吉田宗生 , YOSHIDA, MUNEO , 本野寬 , MOTONO, HIROSHI , 高橋秀明 , TAKAHASHI, HIDEAKI , 樋口明房 , HIGUCHI, AKIFUSA , 表和彥 , OMOTE, KAZUHIKO , 伊藤義泰 , ITO, YOSHIYASU , 河原直樹 , KAWAHARA, NAOKI , 中野朝雄 , NAKANO, ASAO
IPC分类号： G01N23/223
CPC分类号： G01N23/223 , G01N23/203 , G01N23/2204 , G01N23/2206 , G01N2223/076 , G01N2223/315 , G01N2223/61 , G01N2223/6116
摘要：本發明之X射線薄膜檢查裝置，其具備有：X射線照射單元40，其係搭載於第1旋轉臂32；X射線檢測器50，其係搭載於第2旋轉臂33；及螢光X射線檢測器60，其藉由X射線之照射檢測自檢查對象所產生之螢光X射線。而且，X射線照射單元40包含有：X射線光學元件43，其由共焦反射鏡所構成，且使放射自X射線管42之X射線入射，將單色化為特定波長之複數條聚合X射線進行反射，而使該等複數條聚合X射線聚合於預先設定之焦點；及狹縫機構46，其使反射自X射線光學元件43之複數條聚合X射線中的任意條聚合X射線通過。
简体摘要：本发明之X射线薄膜检查设备，其具备有：X射线照射单元40，其系搭载于第1旋转臂32；X射线检测器50，其系搭载于第2旋转臂33；及萤光X射线检测器60，其借由X射线之照射检测自检查对象所产生之萤光X射线。而且，X射线照射单元40包含有：X射线光学组件43，其由共焦反射镜所构成，且使放射自X射线管42之X射线入射，将单色化为特定波长之复数条聚合X射线进行反射，而使该等复数条聚合X射线聚合于预先设置之焦点；及狭缝机构46，其使反射自X射线光学组件43之复数条聚合X射线中的任意条聚合X射线通过。

3. 发明专利

TWI444614B 微小部Ｘ線計測裝置失效
简体标题：微小部Ｘ线计测设备
公开(公告)号：TWI444614B
公开(公告)日：2014-07-11
申请号：TW100100931
申请日：2011-01-11
申请人：理學股份有限公司 , RIGAKU C0RPORATION
发明人：中野朝雄 , NAKANO, ASAO , 稻葉克彥 , INABA, KATSUHIKO , 野野口雅弘 , NONOGUCHI, MASAHIRO
IPC分类号： G01N23/223 , G02B21/00 , G21K1/00

4. 发明专利

TW201213794A 彩色濾光片基板檢查方法及檢查裝置审中-公开
简体标题：彩色滤光片基板检查方法及检查设备
公开(公告)号：TW201213794A
公开(公告)日：2012-04-01
申请号：TW100113742
申请日：2011-04-20
申请人：理學股份有限公司 , 凸版印刷股份有限公司
发明人：中野朝雄 , 齊藤純一 , 崔海龍 , 稻葉克彥 , 野野口雅弘
IPC分类号： G01N , G02F
摘要：本發明之課題在於提供由其導電性的觀點來檢查附著於液晶顯示裝置用的基板之異物的方法及裝置。本發明之解決手段為一種檢查附著於液晶顯示裝置用的基板之異物手包含金屬元素的方法，對於檢查對象之前述基板之每特定枚數，一次性地測定針對沒有異物的處所預先測定之比較用螢光X線光譜，與前述基板之附著異物之1處或複數處所之螢光X線光譜，藉由資料處理複數之X線光譜，高精度地判定前述異物是否含有金屬元素。
简体摘要：本发明之课题在于提供由其导电性的观点来检查附着于液晶显示设备用的基板之异物的方法及设备。本发明之解决手段为一种检查附着于液晶显示设备用的基板之异物手包含金属元素的方法，对于检查对象之前述基板之每特定枚数，一次性地测定针对没有异物的处所预先测定之比较用萤光X线光谱，与前述基板之附着异物之1处或复数处所之萤光X线光谱，借由数据处理复数之X线光谱，高精度地判定前述异物是否含有金属元素。

5. 发明专利

TW201142275A 微小部Ｘ線計測裝置失效
简体标题：微小部Ｘ线计测设备
公开(公告)号：TW201142275A
公开(公告)日：2011-12-01
申请号：TW100100931
申请日：2011-01-11
申请人：理學股份有限公司
发明人：中野朝雄 , 稻葉克彥 , 野野口雅弘
IPC分类号： G01N , G02B , G21K
摘要：本發明之課題在於提供即使被搭載試樣的基板(基材)之元素，與試樣所包含的元素為相同，也可以安定地進行微小部分的成分計測之微小部X線計測裝置。解決手段為具備：X線發生裝置、使放出的X線聚焦照射於50μm直徑以下的剖面積之X線光學元件、檢測螢光X線之X線檢測器、可攝影光學影像的光學顯微鏡與影像辨識機能，可以使試樣二次元地移動而定位，且於高度方向上可以調整其位置的試樣相對移動機構；可進行試樣的特定位置之螢光X線計測，且在來自被置於基材上的測定試樣的螢光X線也可以計測的微小部X線計測裝置；使X線照射位置與前述X線檢測器之間的螢光X線的光徑為抑制螢光X線的衰減之構造(真空或氦氣置換)，而且具備備有即使基材上的測定試樣包含與基材相同的金屬元素，也可以判定出測定試樣含有相同的金屬元素的資料處理機能之資料處理部。
简体摘要：本发明之课题在于提供即使被搭载试样的基板(基材)之元素，与试样所包含的元素为相同，也可以安定地进行微小部分的成分计测之微小部X线计测设备。解决手段为具备：X线发生设备、使放出的X线聚焦照射于50μm直径以下的剖面积之X线光学组件、检测萤光X线之X线检测器、可摄影光学影像的光学显微镜与影像辨识机能，可以使试样二次元地移动而定位，且于高度方向上可以调整其位置的试样相对移动机构；可进行试样的特定位置之萤光X线计测，且在来自被置于基材上的测定试样的萤光X线也可以计测的微小部X线计测设备；使X线照射位置与前述X线检测器之间的萤光X线的光径为抑制萤光X线的衰减之构造(真空或氦气置换)，而且具备备有即使基材上的测定试样包含与基材相同的金属元素，也可以判定出测定试样含有相同的金属元素的数据处理机能之数据处理部。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式