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1. 发明专利

TW201619624A 測試分選機审中-公开
简体标题：测试分选机
公开(公告)号：TW201619624A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：TW104139313
申请日：2015-11-26
申请人：泰克元有限公司 , TECHWING CO.,LTD.
发明人：羅閏成 , NA, YUN-SUNG , 盧鍾基 , NOH, JONG KI
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2867 , G01R31/2874
摘要：一種測試分選機包括：載入裝置，配置為將電子部件載入測試盤；測試室，包括配置為與每個電子部件緊密接觸以測試每個電子部件的測試器；推動裝置，配置為朝向測試器推動安裝在測試盤上的每個電子部件；以及卸載裝置，配置為從測試盤上卸載在測試室中測試的每個電子部件，其中推動裝置包括配置為將壓力傳遞至電子部件的壓板、設置在壓板的中心部分中以在水準方向上延伸的第一軌道、具有配置為與第一軌道接觸的下端部分的上匹配板、具有配置為與第一軌道接觸的上端部分的下匹配板、以及設置在上、下匹配板中以與電子部件接觸的多個推動器。
简体摘要：一种测试分选机包括：加载设备，配置为将电子部件加载测试盘；测试室，包括配置为与每个电子部件紧密接触以测试每个电子部件的测试器；推动设备，配置为朝向测试器推动安装在测试盘上的每个电子部件；以及卸载设备，配置为从测试盘上卸载在测试室中测试的每个电子部件，其中推动设备包括配置为将压力传递至电子部件的压板、设置在压板的中心部分中以在水准方向上延伸的第一轨道、具有配置为与第一轨道接触的下端部分的上匹配板、具有配置为与第一轨道接触的上端部分的下匹配板、以及设置在上、下匹配板中以与电子部件接触的多个推动器。

2. 发明专利

TWI561834B 測試分選機及測試分選機中測試托盤的循環方法有权
简体标题：测试分选机及测试分选机中测试托盘的循环方法
公开(公告)号：TWI561834B
公开(公告)日：2016-12-11
申请号：TW104106595
申请日：2015-03-03
申请人：泰克元有限公司 , TECHWING CO., LTD.
发明人：羅閏成 , NA, YUN-SUNG , 權寧鎬 , KWEON, YOUNG-HO , 盧鍾基 , NOH, JONG KI
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2874 , G01R31/2867 , H01L21/67248

3. 发明专利

TWI589896B 測試分選機有权
简体标题：测试分选机
公开(公告)号：TWI589896B
公开(公告)日：2017-07-01
申请号：TW104139313
申请日：2015-11-26
申请人：泰克元有限公司 , TECHWING CO.,LTD.
发明人：羅閏成 , NA, YUN-SUNG , 盧鍾基 , NOH, JONG KI
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2867 , G01R31/2874

4. 发明专利

TW201534944A 測試分選機及測試分選機中測試托盤的循環方法审中-公开
简体标题：测试分选机及测试分选机中测试托盘的循环方法
公开(公告)号：TW201534944A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：TW104106595
申请日：2015-03-03
申请人：泰克元有限公司 , TECHWING CO., LTD.
发明人：羅閏成 , NA, YUN-SUNG , 權寧鎬 , KWEON, YOUNG-HO , 盧鍾基 , NOH, JONG KI
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2874 , G01R31/2867 , H01L21/67248
摘要：一種測試分選機中測試托盤的循環方法，該方法包括：在第一溫度條件測試模式的情況下，首先使測試托盤沿著第一循環路徑循環；以及，在不同於第一溫度條件測試模式的第二溫度條件測試模式的情況下，其次，使測試托盤沿著第二循環路徑循環，其中，第一循環路徑和第二循環路徑至少在一些段中在測試托盤的傳輸方向上彼此不同。
简体摘要：一种测试分选机中测试托盘的循环方法，该方法包括：在第一温度条件测试模式的情况下，首先使测试托盘沿着第一循环路径循环；以及，在不同于第一温度条件测试模式的第二温度条件测试模式的情况下，其次，使测试托盘沿着第二循环路径循环，其中，第一循环路径和第二循环路径至少在一些段中在测试托盘的传输方向上彼此不同。

5. 发明专利

TWI440868B 測試分選機有权
简体标题：测试分选机
公开(公告)号：TWI440868B
公开(公告)日：2014-06-11
申请号：TW100141892
申请日：2011-11-16
申请人：泰克元股份有限公司 , TECHWING., CO. LTD.
发明人：羅閏成 , NA, YUN-SUNG , 具泰興 , KU, TAE-HUNG , 夫哲圭 , BOO, CHEUL-GYU
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66 , H01L23/34

6. 发明专利

TW201502543A 半導體元件測試用分選機的托盤裝載裝置审中-公开
简体标题：半导体组件测试用分选机的托盘装载设备
公开(公告)号：TW201502543A
公开(公告)日：2015-01-16
申请号：TW103117167
申请日：2014-05-15
申请人：泰克元股份有限公司 , TECHWING., CO. LTD.
发明人：羅閏成 , NA, YUN-SUNG , 成耆炷 , SUNG, KI-JOO , 咸鐘仁 , HAM, JONG-IN
IPC分类号： G01R31/26
摘要：本發明涉及半導體元件測試用分選機的托盤裝載裝置。根據本發明的托盤裝載裝置還具備用於調節客戶托盤的支撐高度的高度調節部件。因此，通過簡單地操作高度調節部件，能夠相互轉用具有彼此相同的裝載高度的客戶托盤的移動技術，因此能夠消除交替費用和交替時間，還能夠減少人力浪費，最終具有提高設備的使用率的效果。
简体摘要：本发明涉及半导体组件测试用分选机的托盘装载设备。根据本发明的托盘装载设备还具备用于调节客户托盘的支撑高度的高度调节部件。因此，通过简单地操作高度调节部件，能够相互转用具有彼此相同的装载高度的客户托盘的移动技术，因此能够消除交替费用和交替时间，还能够减少人力浪费，最终具有提高设备的使用率的效果。

7. 发明专利

TW201439557A 半導體元件測試用分選機审中-公开
简体标题：半导体组件测试用分选机
公开(公告)号：TW201439557A
公开(公告)日：2014-10-16
申请号：TW103108407
申请日：2014-03-11
申请人：泰克元股份有限公司 , TECHWING., CO. LTD.
发明人：羅閏成 , NA, YUN-SUNG , 成耆炷 , SUNG, KI-JOO
IPC分类号： G01R31/26 , B07C5/34
摘要：本發明涉及支援半導體元件的測試的半導體測試用分選機。根據本發明提供一種在校正半導體元件的位置之後能夠將半導體元件電連接到測試插座的新的形態的技術。而且，為此在能夠抓持半導體元件或解除抓持的抓持頭和設置有測試插座的插座板之間配備用於校正半導體元件的位置的凹袋板。根據本發明，可帶來半導體元件和測試插座之間的電連接的可靠性提高的效果。
简体摘要：本发明涉及支持半导体组件的测试的半导体测试用分选机。根据本发明提供一种在校正半导体组件的位置之后能够将半导体组件电连接到测试插座的新的形态的技术。而且，为此在能够抓持半导体组件或解除抓持的抓持头和设置有测试插座的插座板之间配备用于校正半导体组件的位置的凹袋板。根据本发明，可带来半导体组件和测试插座之间的电连接的可靠性提高的效果。

8. 发明专利

TWI526701B 半導體元件測試用分選機有权
简体标题：半导体组件测试用分选机
公开(公告)号：TWI526701B
公开(公告)日：2016-03-21
申请号：TW103108407
申请日：2014-03-11
申请人：泰克元股份有限公司 , TECHWING., CO. LTD.
发明人：羅閏成 , NA, YUN-SUNG , 成耆炷 , SUNG, KI-JOO
IPC分类号： G01R31/26 , B07C5/34

9. 发明专利

TWI525329B 半導體元件測試用分選機的托盤裝載裝置有权
简体标题：半导体组件测试用分选机的托盘装载设备
公开(公告)号：TWI525329B
公开(公告)日：2016-03-11
申请号：TW103117167
申请日：2014-05-15
申请人：泰克元股份有限公司 , TECHWING., CO. LTD.
发明人：羅閏成 , NA, YUN-SUNG , 成耆炷 , SUNG, KI-JOO , 咸鐘仁 , HAM, JONG-IN
IPC分类号： G01R31/26

10. 发明专利

TWI503557B 測試分選機用插件有权
简体标题：测试分选机用插件
公开(公告)号：TWI503557B
公开(公告)日：2015-10-11
申请号：TW102134135
申请日：2013-09-23
申请人：泰克元股份有限公司 , TECHWING., CO. LTD.
发明人：羅閏成 , NA, YUN-SUNG , 柳晛準 , YOO, HYUN-JUN , 黃正佑 , HWANG, JUNG-WOO
IPC分类号： G01R31/26 , G01R1/04

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