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1. 发明专利

TW201443440A 探針审中-公开
简体标题：探针
公开(公告)号：TW201443440A
公开(公告)日：2014-11-16
申请号：TW102116387
申请日：2013-05-08
申请人：木本軍生 , KIMOTO, GUNSEI
发明人：木本軍生 , KIMOTO, GUNSEI
IPC分类号： G01R1/067
摘要：一種在於提供確保過量驅動、且可細微控制擦淨量的探針；因此在朝垂直方向延伸的垂直探針、及朝與垂直方向交叉之方向延伸的直線或曲線形狀，約略朝水平方向延伸，一端連接固定端，另一端則與上述垂直探針連接成1對相對的水平懸臂樑而構成之含連桿機構探針；該探針之1對相對的上述水平懸臂樑之間距為連續或不連續變化，上述水平懸臂樑間距在靠近固定端時達最大，在靠近上述垂直探針時達最小，是透過數學算式而取得。
简体摘要：一种在于提供确保过量驱动、且可细微控制擦净量的探针；因此在朝垂直方向延伸的垂直探针、及朝与垂直方向交叉之方向延伸的直线或曲线形状，约略朝水平方向延伸，一端连接固定端，另一端则与上述垂直探针连接成1对相对的水平悬臂梁而构成之含连杆机构探针；该探针之1对相对的上述水平悬臂梁之间距为连续或不连续变化，上述水平悬臂梁间距在靠近固定端时达最大，在靠近上述垂直探针时达最小，是透过数学算式而取得。

2. 发明专利

TW201333473A 探針組裝审中-公开
简体标题：探针组装
公开(公告)号：TW201333473A
公开(公告)日：2013-08-16
申请号：TW101104593
申请日：2012-02-13
申请人：木本軍生 , KIMOTO, GUNSEI
发明人：木本軍生 , KIMOTO, GUNSEI
IPC分类号： G01R1/067
摘要：本發明提供一種探針組裝，能因應窄間距的電極接觸墊，以進行低成本探針組裝；為此，包含將金屬箔進行蝕刻加工所形成之接觸受檢半導體晶片電極的一垂直探針、從前述垂直探針的相反邊突出，以接觸配線板的一輸出端子、及具有截面形狀的一部分與概略四邊形支承桿相嵌合之開口部的一薄板狀探針；前述支承桿具有引導前述開口部的第1導槽、引導前述垂直探針的第2導槽、及引導前述輸出端子之第3導槽。
简体摘要：本发明提供一种探针组装，能因应窄间距的电极接触垫，以进行低成本探针组装；为此，包含将金属箔进行蚀刻加工所形成之接触受检半导体芯片电极的一垂直探针、从前述垂直探针的相反边突出，以接触配线板的一输出端子、及具有截面形状的一部分与概略四边形支承杆相嵌合之开口部的一薄板状探针；前述支承杆具有引导前述开口部的第1导槽、引导前述垂直探针的第2导槽、及引导前述输出端子之第3导槽。

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