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    • 9. 发明专利
    • 透明導電性膜及其之製造方法
    • 透明导电性膜及其之制造方法
    • TW201320109A
    • 2013-05-16
    • TW101130155
    • 2012-08-20
    • 日東電工股份有限公司NITTO DENKO CORPORATION
    • 山崎由佳YAMAZAKI, YUKA梨木智剛NASHIKI, TOMOTAKE菅原英男SUGAWARA, HIDEO
    • H01B5/14B32B7/02H01B13/00
    • C23C14/086C23C14/024C23C14/35C23C14/5873G06F3/041G06F2203/04103Y10T428/266
    • 於本發明之在可撓性透明基材上具有結晶性之透明導電體層的透明導電性膜中,即便於透明導電體層經圖案化之情形時,亦可於組入觸控面板等中時,抑制由可視認圖案開口部與圖案形成部之邊界所導致之美觀性之降低。本發明之透明導電性膜係於可撓性透明基材之一面上形成包含結晶性導電性金屬氧化物之透明導電體層者,且可撓性透明基材之厚度為80 μm以下。本發明之透明導電性膜於140℃下加熱30分鐘時之尺寸變化率H1與將藉由自透明導電性膜蝕刻去除透明導電體層而成者於140℃下加熱30分鐘時之尺寸變化率H2的差H1-H2為-0.02%~0.043%。因此,可降低組入觸控面板等中時之圖案邊界上之階差,抑制美觀性之降低。
    • 于本发明之在可挠性透明基材上具有结晶性之透明导电体层的透明导电性膜中,即便于透明导电体层经图案化之情形时,亦可于组入触摸皮肤等中时,抑制由可视认图案开口部与图案形成部之边界所导致之美观性之降低。本发明之透明导电性膜系于可挠性透明基材之一面上形成包含结晶性导电性金属氧化物之透明导电体层者,且可挠性透明基材之厚度为80 μm以下。本发明之透明导电性膜于140℃下加热30分钟时之尺寸变化率H1与将借由自透明导电性膜蚀刻去除透明导电体层而成者于140℃下加热30分钟时之尺寸变化率H2的差H1-H2为-0.02%~0.043%。因此,可降低组入触摸皮肤等中时之图案边界上之阶差,抑制美观性之降低。