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1. 发明专利

TWI671508B 熱測量器型ＴＨｚ檢測器有权
简体标题：热测量器型ＴＨｚ检测器
公开(公告)号：TWI671508B
公开(公告)日：2019-09-11
申请号：TW105101106
申请日：2016-01-14
申请人：日商濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K. K.
发明人：北浦隆介 , KITAURA, RYUSUKE , 石原正敏 , ISHIHARA, MASATOSHI , 山崎理弘 , YAMAZAKI, MASAHIRO , 高橋宏典 , TAKAHASHI, HIRONORI
IPC分类号： G01J5/10

2. 发明专利

TW201829989A 光檢測器审中-公开
简体标题：光检测器
公开(公告)号：TW201829989A
公开(公告)日：2018-08-16
申请号：TW106143163
申请日：2017-12-08
申请人：日商濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：山崎理弘 , YAMAZAKI, MASAHIRO , 柴山勝己 , SHIBAYAMA, KATSUMI , 北浦隆介 , KITAURA, RYUSUKE
IPC分类号： G01J1/02 , G01J1/42 , H01L27/14
摘要：本發明之光檢測器具備基板、及膜體，其以與基板之表面之間形成空隙之方式被支持於基板之表面上，膜體具有：第1配線層及第2配線層，其等經由沿線延伸之間隙而相互對向；電阻層，其與第1配線層及第2配線層各者電性連接，具有依存於溫度之電性電阻；光吸收層，其與基板之表面對向；及分離層，其配置於上述第1配線層及上述第2配線層之各者與上述光吸收層之間。光吸收層包含：第1區域，其於自基板之厚度方向觀察之情形時，相對於第1配線層於第2配線層之相反側擴展；及第2區域，其於自基板之厚度方向觀察之情形時，相對於第2配線層於第1配線層之相反側擴展。
简体摘要：本发明之光检测器具备基板、及膜体，其以与基板之表面之间形成空隙之方式被支持于基板之表面上，膜体具有：第1配线层及第2配线层，其等经由沿线延伸之间隙而相互对向；电阻层，其与第1配线层及第2配线层各者电性连接，具有依存于温度之电性电阻；光吸收层，其与基板之表面对向；及分离层，其配置于上述第1配线层及上述第2配线层之各者与上述光吸收层之间。光吸收层包含：第1区域，其于自基板之厚度方向观察之情形时，相对于第1配线层于第2配线层之相反侧扩展；及第2区域，其于自基板之厚度方向观察之情形时，相对于第2配线层于第1配线层之相反侧扩展。

3. 发明专利

TW201826511A 光檢測器审中-公开
简体标题：光检测器
公开(公告)号：TW201826511A
公开(公告)日：2018-07-16
申请号：TW106143162
申请日：2017-12-08
申请人：日商濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：山崎理弘 , YAMAZAKI, MASAHIRO , 柴山勝己 , SHIBAYAMA, KATSUMI , 北浦隆介 , KITAURA, RYUSUKE
IPC分类号： H01L27/14 , H01L37/00 , G02B27/00
摘要：本發明之光檢測器具備基板、及以與基板之表面之間形成空隙之方式被支持於基板之表面上之膜體，膜體具有：第1配線層及第2配線層，其等經由沿包含曲線部之線延伸之間隙而相互對向；及電阻層，其與第1配線層及第2配線層之各者電性連接，具有依存於溫度之電性電阻，第1配線層之線側的第1緣部及第2配線層之線側的第2緣部係分別連續延伸。
简体摘要：本发明之光检测器具备基板、及以与基板之表面之间形成空隙之方式被支持于基板之表面上之膜体，膜体具有：第1配线层及第2配线层，其等经由沿包含曲线部之线延伸之间隙而相互对向；及电阻层，其与第1配线层及第2配线层之各者电性连接，具有依存于温度之电性电阻，第1配线层之线侧的第1缘部及第2配线层之线侧的第2缘部系分别连续延伸。

4. 发明专利

TW201629446A 熱測量器型ＴＨｚ檢測器审中-公开
简体标题：热测量器型ＴＨｚ检测器
公开(公告)号：TW201629446A
公开(公告)日：2016-08-16
申请号：TW105101106
申请日：2016-01-14
申请人：濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K. K.
发明人：北浦隆介 , KITAURA, RYUSUKE , 石原正敏 , ISHIHARA, MASATOSHI , 山崎理弘 , YAMAZAKI, MASAHIRO , 高橋宏典 , TAKAHASHI, HIRONORI
IPC分类号： G01J5/10
CPC分类号： G01J1/02 , G01N21/3581 , G01R29/08 , H01Q19/30
摘要：本發明之熱測量器型THz檢測器具備接收並放射波長λ之THz波之指向性天線1、與指向性天線1對向配置之受信天線2、及檢測由流經受信天線2之電流引起之發熱的熱測量器4，且指向性天線1在平面觀察下係與受信天線2重疊，指向性天線1之長度方向長被設定為較受信天線2之長度方向長為短。
简体摘要：本发明之热测量器型THz检测器具备接收并放射波长λ之THz波之指向性天线1、与指向性天线1对向配置之受信天线2、及检测由流经受信天线2之电流引起之发热的热测量器4，且指向性天线1在平面观察下系与受信天线2重叠，指向性天线1之长度方向长被设置为较受信天线2之长度方向长为短。

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