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    • 1. 发明专利
    • 殘留應力測定裝置及殘留應力測定方法
    • 残留应力测定设备及残留应力测定方法
    • TW201700961A
    • 2017-01-01
    • TW105101912
    • 2016-01-21
    • 新東工業股份有限公司SINTOKOGIO, LTD.
    • 小林祐次KOBAYASHI, YUJI松井彰則MATSUI, AKINORI
    • G01L5/00G01L1/25
    • G01N23/207
    • 本發明之裝置包括:X射線產生源,其對測定對象物照射X射線;第1檢測元件,其於第1檢測位置檢測上述測定對象物之繞射X射線之強度;第2檢測元件,其於不同於上述第1檢測位置之第2檢測位置檢測上述測定對象物之繞射X射線之強度;移動機構,其使上述第1檢測元件及上述第2檢測元件沿著沿與X射線之入射方向正交之方向延伸之直線分別移動;移動控制部,其驅動上述移動機構而控制上述第1檢測元件及上述第2檢測元件之各自之檢測位置;及應力計算部,其根據藉由利用上述移動機構使上述第1檢測元件及上述第2檢測元件分別移動而分別檢測到的繞射X射線之強度峰,計算上述測定對象物之殘留應力。
    • 本发明之设备包括:X射线产生源,其对测定对象物照射X射线;第1检测组件,其于第1检测位置检测上述测定对象物之绕射X射线之强度;第2检测组件,其于不同于上述第1检测位置之第2检测位置检测上述测定对象物之绕射X射线之强度;移动机构,其使上述第1检测组件及上述第2检测组件沿着沿与X射线之入射方向正交之方向延伸之直线分别移动;移动控制部,其驱动上述移动机构而控制上述第1检测组件及上述第2检测组件之各自之检测位置;及应力计算部,其根据借由利用上述移动机构使上述第1检测组件及上述第2检测组件分别移动而分别检测到的绕射X射线之强度峰,计算上述测定对象物之残留应力。