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1. 实用新型

TWM341841U 多頭式測試治具失效
简体标题：多头式测试治具
公开(公告)号：TWM341841U
公开(公告)日：2008-10-01
申请号：TW096219158
申请日：2007-11-13
申请人：建欣電科技股份有限公司 KIN TEC TECHNOLOGY CORPORATION
发明人：朱國强 CHU, KUO-CHIANG
IPC分类号： G01L
摘要：本創作為有關一種多頭式測試治具,尤指可活動伸縮式調整測誠高度位置之治具,該治具基座為設有連接部及複數容置孔,並藉由各容置孔供複數偵測單元之套筒分別穿設,且各套筒壁面上分別設有滑移槽、兩側開口處則分別套設有具通孔之蓋體,而可在各套筒內部分別穿設偵測元件,複數偵測元件係分別穿設有彈性體,並可對各彈性體進行荷重係數之設定,兩側乃分別抵持於蓋體內側面及定位滑移體上,而各定位滑移體外緣設有推移桿可穿出各套筒滑移槽外,且各定位滑移體可連動各偵測元件在套筒內位移,以供各偵測元件兩側分別由蓋體之通孔穿出外部,並在一側設有之探測體,即可藉由定位滑移體調整偵測元件之高度位置,而使偵測元件可以測試不同高度按鍵之彈性壽命。
简体摘要：本创作为有关一种多头式测试治具,尤指可活动伸缩式调整测诚高度位置之治具,该治具基座为设有连接部及复数容置孔,并借由各容置孔供复数侦测单元之套筒分别穿设,且各套筒壁面上分别设有滑移槽、两侧开口处则分别套设有具通孔之盖体,而可在各套筒内部分别穿设侦测组件,复数侦测组件系分别穿设有弹性体,并可对各弹性体进行荷重系数之设置,两侧乃分别抵持于盖体内侧面及定位滑移体上,而各定位滑移体外缘设有推移杆可穿出各套筒滑移槽外,且各定位滑移体可连动各侦测组件在套筒内位移,以供各侦测组件两侧分别由盖体之通孔穿出外部,并在一侧设有之探测体,即可借由定位滑移体调整侦测组件之高度位置,而使侦测组件可以测试不同高度按键之弹性寿命。

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