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    • 4. 发明专利
    • 外鑄造半導體材料物品之方法 METHOD OF EXOCASTING AN ARTICLE OF SEMICONDUCTING MATERIAL
    • 外铸造半导体材料物品之方法 METHOD OF EXOCASTING AN ARTICLE OF SEMICONDUCTING MATERIAL
    • TW201137191A
    • 2011-11-01
    • TW099141315
    • 2010-11-30
    • 康寧公司
    • 馬入德 派提克森曼 巴朗
    • C30B
    • C30B15/007C30B11/00C30B19/062C30B29/06
    • 一種製作半導體材料物品的方法,其中牽涉到選定該物品的目標厚度,然後將一模具浸沒於熔融半導體材料內一段能夠在該模具之外部表面上有效地構成半導體材料固體層的浸沒時間,其中該固體層的厚度大致等於該目標厚度。該浸沒時間係經選定以大致等於該轉變時間,此時間係自針對具有特定屬性,包含模具組成成分、模具厚度及初始模具溫度在內,之模具的固體層厚度相對於浸沒時間之點繪圖所決定。該轉變時間,且因而該浸沒時間,係對應於針對該特定模具之固體層厚度相對於浸沒時間曲線中的固體層厚度之最大值。
    • 一种制作半导体材料物品的方法,其中牵涉到选定该物品的目标厚度,然后将一模具浸没于熔融半导体材料内一段能够在该模具之外部表面上有效地构成半导体材料固体层的浸没时间,其中该固体层的厚度大致等于该目标厚度。该浸没时间系经选定以大致等于该转变时间,此时间系自针对具有特定属性,包含模具组成成分、模具厚度及初始模具温度在内,之模具的固体层厚度相对于浸没时间之点绘图所决定。该转变时间,且因而该浸没时间,系对应于针对该特定模具之固体层厚度相对于浸没时间曲线中的固体层厚度之最大值。