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1. 发明专利

TWI286299B 用於平面顯示器之訊號驅動系統 SOURCE DRIVER FOR DISPLAY 有权
简体标题：用于平面显示器之信号驱动系统 SOURCE DRIVER FOR DISPLAY
公开(公告)号：TWI286299B
公开(公告)日：2007-09-01
申请号：TW093104091
申请日：2004-02-19
申请人：奇美電子股份有限公司 CHI MEI OPTOELECTRONICS CORPORATION , 奇景光電股份有限公司 HIMAX TECHNOLOGIES, INC.
发明人：卜令楷 BU, LIN KAI , 陳英烈 CHEN, YING LIEH , 吳宗佑 WU, TSUNG YU , 李欣達 LEE, HSIN TA , 回寶珩 HWE, BOU HERNG , 駱坤祥 LO, KUN HSIANG , 辜宗堯 KU, TZONG YAU
IPC分类号： G09G
CPC分类号： G09G3/3685 , G09G2330/06
摘要：本發明係關於一種用於平面顯示器之訊號驅動系統，包括：一訊號控制器、一可撓式連接器及複數個驅動裝置。該訊號控制器用以產生一第一控制訊號。該可撓式連接器連接至該訊號控制器，用以接收該第一控制訊號。該等驅動裝置之其中之一係連接至該可撓式連接器，該等驅動裝置係串聯連接，每一驅動裝置具有一資料輸入埠、一資料輸出埠及一驅動訊號輸出埠，該資料輸入埠用以接收該第一控制訊號或一第二控制訊號，該資料輸出埠用以傳輸出該第二控制訊號，該驅動訊號輸出埠用以依據該第一控制訊號或該第二控制訊號，傳輸出一驅動訊號。利用本發明之訊號驅動系統，可使該等驅動裝置之資料輸出埠保持傳輸出該第二控制訊號至次一級之驅動裝置。因此，本發明之訊號驅動系統可以解決不同電路介面之不同控制訊號所發生之問題。並且，利用本發明之訊號驅動系統，可以兼具以第一控制訊號在訊號控制器端處理之優點，以及利用該第二控制訊號可於該等驅動裝置間傳送之優點。
简体摘要：本发明系关于一种用于平面显示器之信号驱动系统，包括：一信号控制器、一可挠式连接器及复数个驱动设备。该信号控制器用以产生一第一控制信号。该可挠式连接器连接至该信号控制器，用以接收该第一控制信号。该等驱动设备之其中之一系连接至该可挠式连接器，该等驱动设备系串联连接，每一驱动设备具有一数据输入端口、一数据输出端口及一驱动信号输出端口，该数据输入端口用以接收该第一控制信号或一第二控制信号，该数据输出端口用以传输出该第二控制信号，该驱动信号输出端口用以依据该第一控制信号或该第二控制信号，传输出一驱动信号。利用本发明之信号驱动系统，可使该等驱动设备之数据输出端口保持传输出该第二控制信号至次一级之驱动设备。因此，本发明之信号驱动系统可以解决不同电路界面之不同控制信号所发生之问题。并且，利用本发明之信号驱动系统，可以兼具以第一控制信号在信号控制器端处理之优点，以及利用该第二控制信号可于该等驱动设备间发送之优点。

2. 发明专利

TWI267776B 一種串聯系統及於串聯系統中處理資料的方法 DATA TRANSFORMATION METHOD FOR REVERSED TARGET SEQUENCE IN A FORWARD CONNECTED CASCADE SYSTEM AND RELATED CASCADE SYSTEM 失效
简体标题：一种串联系统及于串联系统中处理数据的方法 DATA TRANSFORMATION METHOD FOR REVERSED TARGET SEQUENCE IN A FORWARD CONNECTED CASCADE SYSTEM AND RELATED CASCADE SYSTEM
公开(公告)号：TWI267776B
公开(公告)日：2006-12-01
申请号：TW093122747
申请日：2004-07-29
申请人：奇景光電股份有限公司 HIMAX TECHNOLOGIES, INC
发明人：吳宗佑 WU, TSUNG YU , 卜令楷 BU, LIN KAI , 陳明勇 CHEN, MING YEONG
IPC分类号： G06F
摘要：本發明提供一種可以在順向傳輸之串聯系統上處理資料的方法，包含有下列步驟：將一序列子系統連接於一時序控制器，序列子系統包含相互串接之一第一及第二單元，且第一單元與時序控制器連接；將一序列資料輸入時序控制器；由時序控制器輸出一時脈至序列子系統，並依據時脈及序列資料輸出一串列資料至序列子系統；當第二單元處理串列資料之一筆資料時，第二單元觸發第一單元處理串列資料之另一筆資料。
简体摘要：本发明提供一种可以在顺向传输之串联系统上处理数据的方法，包含有下列步骤：将一串行子系统连接于一时序控制器，串行子系统包含相互串接之一第一及第二单元，且第一单元与时序控制器连接；将一串行数据输入时序控制器；由时序控制器输出一时脉至串行子系统，并依据时脉及串行数据输出一串行数据至串行子系统；当第二单元处理串行数据之一笔数据时，第二单元触发第一单元处理串行数据之另一笔数据。

3. 发明专利

TW200602838A 一種於順向傳輸之串聯系統中維持資料之工作週期的方法 METHOD OF MAINTAINING THE DUTY CYCLE OF DATA IN A CASCADE SYSTEM 失效
简体标题：一种于顺向传输之串联系统中维持数据之工作周期的方法 METHOD OF MAINTAINING THE DUTY CYCLE OF DATA IN A CASCADE SYSTEM
公开(公告)号：TW200602838A
公开(公告)日：2006-01-16
申请号：TW093121044
申请日：2004-07-14
申请人：奇景光電股份有限公司 HIMAX TECHNOLOGIES, INC.
发明人：吳宗佑 WU, TSUNG YU , 卜令楷 BU, LIN KAI
IPC分类号： G06F
摘要：本發明提供一種可以於順向傳輸之串聯系統中維持資料之工作週期的方法。該方法係反轉由一子系統輸出之資料後，在接續之下一子系統處理該資料前先逆反轉該資料，以維持串聯系統中傳輸之資料的工作週期。
简体摘要：本发明提供一种可以于顺向传输之串联系统中维持数据之工作周期的方法。该方法系反转由一子系统输出之数据后，在接续之下一子系统处理该数据前先逆反转该数据，以维持串联系统中传输之数据的工作周期。

4. 发明专利

TWI298975B 具有保持工作週期之串接系統 CASCADE SYSTEM WITH KEEPING DUTY CYCLE 失效
简体标题：具有保持工作周期之串接系统 CASCADE SYSTEM WITH KEEPING DUTY CYCLE
公开(公告)号：TWI298975B
公开(公告)日：2008-07-11
申请号：TW094112715
申请日：2005-04-21
申请人：奇景光電股份有限公司 HIMAX TECHNOLOGIES, INC.
发明人：吳宗佑 WU, TSUNG YU , 卜令楷 BU, LIN KAI
IPC分类号： H03H , G09G
CPC分类号： H03K5/1565
摘要：本發明係關於一種具有保持工作週期之串接系統,該串接系統接收一輸入訊號,該輸入訊號具有一輸入訊號工作週期。該串接系統包括複數級電路。該等電路串接,每一級電路用以接收前一級電路所輸出之訊號。經由至少一級電路,該級電路之一處理訊號具有一處理訊號工作週期,該處理訊號工作週期與該輸入訊號工作週期具有一工作週期偏差量。依據至少一設定級數間隔,選定至少一級電路,將經選定之該級電路所處理之訊號反相,以補償該工作週期偏差量,以保持每一級電路之該處理訊號工作週期與該輸入訊號工作週期之工作週期偏差量於一設定之範圍內。
简体摘要：本发明系关于一种具有保持工作周期之串接系统,该串接系统接收一输入信号,该输入信号具有一输入信号工作周期。该串接系统包括复数级电路。该等电路串接,每一级电路用以接收前一级电路所输出之信号。经由至少一级电路,该级电路之一处理信号具有一处理信号工作周期,该处理信号工作周期与该输入信号工作周期具有一工作周期偏差量。依据至少一设置级数间隔,选定至少一级电路,将经选定之该级电路所处理之信号反相,以补偿该工作周期偏差量,以保持每一级电路之该处理信号工作周期与该输入信号工作周期之工作周期偏差量于一设置之范围内。

5. 发明专利

TW200638674A 具有保持工作週期之串接系統 CASCADE SYSTEM WITH KEEPING DUTY CYCLE 失效
简体标题：具有保持工作周期之串接系统 CASCADE SYSTEM WITH KEEPING DUTY CYCLE
公开(公告)号：TW200638674A
公开(公告)日：2006-11-01
申请号：TW094112715
申请日：2005-04-21
申请人：奇景光電股份有限公司 HIMAX TECHNOLOGIES, INC.
发明人：吳宗佑 WU, TSUNG YU , 卜令楷 BU, LIN KAI
IPC分类号： H03H , G09G
CPC分类号： H03K5/1565
摘要：本發明係關於一種具有保持工作週期之串接系統，該串接系統接收一輸入訊號，該輸入訊號具有一輸入訊號工作週期。該串接系統包括複數級電路。該等電路串接，每一級電路用以接收前一級電路所輸出之訊號。經由至少一級電路，該級電路之一處理訊號具有一處理訊號工作週期，該處理訊號工作週期與該輸入訊號工作週期具有一工作週期偏差量。依據至少一設定級數間隔，選定至少一級電路，將經選定之該級電路所處理之訊號反相，以補償該工作週期偏差量，以保持每一級電路之該處理訊號工作週期與該輸入訊號工作週期之工作週期偏差量於一設定之範圍內。
简体摘要：本发明系关于一种具有保持工作周期之串接系统，该串接系统接收一输入信号，该输入信号具有一输入信号工作周期。该串接系统包括复数级电路。该等电路串接，每一级电路用以接收前一级电路所输出之信号。经由至少一级电路，该级电路之一处理信号具有一处理信号工作周期，该处理信号工作周期与该输入信号工作周期具有一工作周期偏差量。依据至少一设置级数间隔，选定至少一级电路，将经选定之该级电路所处理之信号反相，以补偿该工作周期偏差量，以保持每一级电路之该处理信号工作周期与该输入信号工作周期之工作周期偏差量于一设置之范围内。

6. 发明专利

TWI230264B 可實施老化與電性測試之晶圓及其實施方法失效
简体标题：可实施老化与电性测试之晶圆及其实施方法
公开(公告)号：TWI230264B
公开(公告)日：2005-04-01
申请号：TW093100722
申请日：2004-01-12
申请人：奇景光電股份有限公司 HIMAX TECHNOLOGIES, INC.
发明人：陳英烈 CHEN, YING LIEH , 卜令楷 BU, LIN KAI , 吳宗佑 WU, TSUNG YU , 陳俊榮 CHEN, JUNG ZONE
IPC分类号： G01R
摘要：一種可實施老化與電性測試之晶圓(wafer)及其實施方法，此晶圓包括第一裸晶(die)、切割道(scribe line)、第一老化圖案生成電路(aging pattern generation circuit)與電極墊(pad)。切割道形成於第一裸晶之外之晶圓上，而第一老化圖案生成電路用以對第一裸晶進行老化(aging)測試。電極墊設置於切割道上並與第一老化圖案生成電路電性連接，電極墊用以與一電壓源電性連接。本發明改變習知於封裝後才進行老化測試的製程，於晶圓上即同時進行老化與電性測試，可大幅提高效率，並節省原料成本耗費。
简体摘要：一种可实施老化与电性测试之晶圆(wafer)及其实施方法，此晶圆包括第一裸晶(die)、切割道(scribe line)、第一老化图案生成电路(aging pattern generation circuit)与电极垫(pad)。切割道形成于第一裸晶之外之晶圆上，而第一老化图案生成电路用以对第一裸晶进行老化(aging)测试。电极垫设置于切割道上并与第一老化图案生成电路电性连接，电极垫用以与一电压源电性连接。本发明改变习知于封装后才进行老化测试的制程，于晶圆上即同时进行老化与电性测试，可大幅提高效率，并节省原料成本耗费。

7. 发明专利

TW200634706A 訊號傳輸介面 SIGNAL INTERFACE 失效
简体标题：信号传输界面 SIGNAL INTERFACE
公开(公告)号：TW200634706A
公开(公告)日：2006-10-01
申请号：TW094109452
申请日：2005-03-25
申请人：奇景光電股份有限公司 HIMAX TECHNOLOGIES, INC.
发明人：陳俊榮 CHEN, JUNG ZONE , 吳宗佑 WU, TSUNG YU , 陳英烈 CHEN, YING LIEH
IPC分类号： G09G
摘要：本發明揭露一種訊號傳輸介面，用以將一資料訊號傳送至一驅動電路。上述之訊號傳輸介面包括第一電路、第二電路以及資料匯流排。第一電路包括第一暫存器。第二電路包括選擇器、第二暫存器、訊號接收器以及第三暫存器。若資料訊號為一單端訊號，則第一暫存器與選擇器接收資料訊號，選擇器接著將資料訊號傳送至第二暫存器，以使資料匯流排輸出第一暫存器與第二暫存器之訊號至驅動電路。若資料訊號為一串列訊號，則選擇器接收資料訊號，並將之傳送至訊號接收器，以將資料訊號轉換成單端訊號，再輸出至第三暫存器，經由資料匯流排輸出。
简体摘要：本发明揭露一种信号传输界面，用以将一数据信号发送至一驱动电路。上述之信号传输界面包括第一电路、第二电路以及数据总线。第一电路包括第一寄存器。第二电路包括选择器、第二寄存器、信号接收器以及第三寄存器。若数据信号为一单端信号，则第一寄存器与选择器接收数据信号，选择器接着将数据信号发送至第二寄存器，以使数据总线输出第一寄存器与第二寄存器之信号至驱动电路。若数据信号为一串行信号，则选择器接收数据信号，并将之发送至信号接收器，以将数据信号转换成单端信号，再输出至第三寄存器，经由数据总线输出。

8. 发明专利

TW200523561A 可實施老化與電性測試之晶圓及其實施方法失效
简体标题：可实施老化与电性测试之晶圆及其实施方法
公开(公告)号：TW200523561A
公开(公告)日：2005-07-16
申请号：TW093100722
申请日：2004-01-12
申请人：奇景光電股份有限公司 HIMAX TECHNOLOGIES, INC
发明人：陳英烈 CHEN, YING LIEH , 卜令楷 BU, LIN KAI , 吳宗佑 WU, TSUNG YU , 陳俊榮 CHEN, JUNG ZONE
IPC分类号： G01R
摘要：一種可實施老化與電性測試之晶圓(wafer)及其實施方法，此晶圓包括第一裸晶(die)、切割道(scribe line)、第一老化圖案生成電路(aging pattern generation circuit)與電極墊(pad)。切割道形成於第一裸晶之外之晶圓上，而第一老化圖案生成電路用以對第一裸晶進行老化(aging)測試。電極墊設置於切割道上並與第一老化圖案生成電路電性連接，電極墊用以與一電壓源電性連接。本發明改變習知於封裝後才進行老化測試的製程，於晶圓上即同時進行老化與電性測試，可大幅提高效率，並節省原料成本耗費。
简体摘要：一种可实施老化与电性测试之晶圆(wafer)及其实施方法，此晶圆包括第一裸晶(die)、切割道(scribe line)、第一老化图案生成电路(aging pattern generation circuit)与电极垫(pad)。切割道形成于第一裸晶之外之晶圆上，而第一老化图案生成电路用以对第一裸晶进行老化(aging)测试。电极垫设置于切割道上并与第一老化图案生成电路电性连接，电极垫用以与一电压源电性连接。本发明改变习知于封装后才进行老化测试的制程，于晶圆上即同时进行老化与电性测试，可大幅提高效率，并节省原料成本耗费。

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