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1. 发明专利

TW201718677A 由紅外線分光法所進行之含氟聚合物的分析审中-公开
简体标题：由红外线分光法所进行之含氟聚合物的分析
公开(公告)号：TW201718677A
公开(公告)日：2017-06-01
申请号：TW105126552
申请日：2016-08-19
申请人：大金工業股份有限公司 , DAIKIN INDUSTRIES, LTD.
发明人：高橋可奈子 , TAKAHASHI, KANAKO , 山本育男 , YAMAMOTO, IKUO , 長谷川健 , HASEGAWA, TAKESHI , 下赤卓史 , SHIMOAKA, TAKAFUMI
IPC分类号： C08F220/24 , C08F20/22 , G01N21/35
CPC分类号： G01N21/35
摘要：本發明之課題，係提供一種簡便求取在含有含氟表面處理劑的物品之氟烷基的碳數之分析方法，其中該含氟表面處理劑係以含氟聚合物作為有效成分。本發明之解決手段，係提供一種分析方法，其係藉由使用傅立葉變換紅外線分光器(FT-IR)之紅外線全反射衰減法(IR-ATR法)求取含氟表面處理劑所具有的氟烷基之碳數，來分析含有含氟表面處理劑的物品之方法，含氟表面處理劑係含有含氟聚合物作為有效成分，含氟聚合物係具有從式：CH2=C(-X)-C(=O)-Y-Z-Rf表示的含氟單體所衍生之重複單元，[式中，X為氫原子、一價有機基或鹵素原子，Y為-O-或-NH-，Z為直接鍵結或二價有機基，Rf為碳數1至20的氟烷基]。
简体摘要：本发明之课题，系提供一种简便求取在含有含氟表面处理剂的物品之氟烷基的碳数之分析方法，其中该含氟表面处理剂系以含氟聚合物作为有效成分。本发明之解决手段，系提供一种分析方法，其系借由使用傅里叶变换红外线分光器(FT-IR)之红外线全反射衰减法(IR-ATR法)求取含氟表面处理剂所具有的氟烷基之碳数，来分析含有含氟表面处理剂的物品之方法，含氟表面处理剂系含有含氟聚合物作为有效成分，含氟聚合物系具有从式：CH2=C(-X)-C(=O)-Y-Z-Rf表示的含氟单体所衍生之重复单元，[式中，X为氢原子、一价有机基或卤素原子，Y为-O-或-NH-，Z为直接键结或二价有机基，Rf为碳数1至20的氟烷基]。

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