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1. 发明专利

TWI231363B 多點測定裝置及方法 MULTIPOINT MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD 失效
简体标题：多点测定设备及方法 MULTIPOINT MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD
公开(公告)号：TWI231363B
公开(公告)日：2005-04-21
申请号：TW092107081
申请日：2003-03-28
申请人：大塚電子股份有限公司 OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：藤村慎二 SHINJI FUJIMURA , 播磨達也 TATSUYA HARIMA , 田口都一 KUNIKAZU TAGUCHI
IPC分类号： G01J
CPC分类号： G01J3/02 , G01J3/0218 , G01J3/0229 , G01J3/0232 , G01J3/04 , G01J2003/326 , G01N21/253 , G01N21/474 , G01N21/55 , G01N21/59 , G01N2201/043
摘要：本發明是一種多點測定裝置，具備有：光源1,2；多根之投光光纖5,6，用來將光源之光照射在試料之多個點；多根之受光光纖8,9，用來採集來自該多個點之透過光、反射光和散射光等；射束選擇器10，由具有1個透過孔之旋轉圓板12構成，用來使該多根之受光光纖8,9所採集到之光，通到任何1根之受光光纖；和MCPD4。當使旋轉圓板12旋轉，使之移動到可以讓欲測定之通道光通過透過孔後保持靜止的話，如此光便只透過該受光光纖而進行測定。要測定其他通道之光時，可以使旋轉圓板旋轉指定之角度。
简体摘要：本发明是一种多点测定设备，具备有：光源1,2；多根之投光光纤5,6，用来将光源之光照射在试料之多个点；多根之受光光纤8,9，用来采集来自该多个点之透过光、反射光和散射光等；射束选择器10，由具有1个透过孔之旋转圆板12构成，用来使该多根之受光光纤8,9所采集到之光，通到任何1根之受光光纤；和MCPD4。当使旋转圆板12旋转，使之移动到可以让欲测定之信道光通过透过孔后保持静止的话，如此光便只透过该受光光纤而进行测定。要测定其他信道之光时，可以使旋转圆板旋转指定之角度。

2. 发明专利

TWI224189B 螢光測定裝置 FLUORESCENCE MEASURING APPARATUS 失效
简体标题：萤光测定设备 FLUORESCENCE MEASURING APPARATUS
公开(公告)号：TWI224189B
公开(公告)日：2004-11-21
申请号：TW092107082
申请日：2003-03-28
申请人：大塚電子股份有限公司 OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：松村義彥 YOSHIHIKO MATSUMURA , 藤村慎二 SHINJI FUJIMURA
IPC分类号： G01J , G01N
CPC分类号： G01N21/6452 , G01N21/253 , G01N21/6458 , G01N2021/6417 , G01N2201/04 , G01N2201/0415
摘要：本發明之螢光測定裝置使用激勵光源，大致同時的測定試料室內之多個試料，或同一試料之多個點。在激勵光之照射位置具備有旋轉試料台2，在上述之旋轉試料台2，於圓周上形成有多個之穿通孔2a，試料設置部3可以插入到該穿通孔2a。使試料台2對激勵光之照射位置進行相對移動，即使不更換試料室1內之試料，亦可以進行多個試料之螢光測定。
简体摘要：本发明之萤光测定设备使用激励光源，大致同时的测定试料室内之多个试料，或同一试料之多个点。在激励光之照射位置具备有旋转试料台2，在上述之旋转试料台2，于圆周上形成有多个之穿通孔2a，试料设置部3可以插入到该穿通孔2a。使试料台2对激励光之照射位置进行相对移动，即使不更换试料室1内之试料，亦可以进行多个试料之萤光测定。

3. 发明专利

TW200307120A 多點測定裝置及方法 MULTIPOINT MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD 失效
简体标题：多点测定设备及方法 MULTIPOINT MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD
公开(公告)号：TW200307120A
公开(公告)日：2003-12-01
申请号：TW092107081
申请日：2003-03-28
申请人：大塚電子股份有限公司 OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：藤村慎二 SHINJI FUJIMURA , 播磨達也 TATSUYA HARIMA , 田口都一 KUNIKAZU TAGUCHI
IPC分类号： G01J
CPC分类号： G01J3/02 , G01J3/0218 , G01J3/0229 , G01J3/0232 , G01J3/04 , G01J2003/326 , G01N21/253 , G01N21/474 , G01N21/55 , G01N21/59 , G01N2201/043
摘要：本發明是一種多點測定裝置，具備有：光源1，2；多根之投光光纖5，6，用來將光源之光照射在試料之多個點；多根之受光光纖8，9，用來採集來自該多個點之透過光、反射光和散射光等；射束選擇器10，由具有1個透過孔之旋轉圓板12構成，用來使該多根之受光光纖8，9所採集到之光，通到任何1根之受光光纖；和MCPD4。當使旋轉圓板12旋轉，使之移動到可以讓欲測定之通道光通過透過孔後保持靜止的話，如此光便只透過該受光光纖而進行測定。要測定其他通道之光時，可以使旋轉圓板旋轉指定之角度。
简体摘要：本发明是一种多点测定设备，具备有：光源1，2；多根之投光光纤5，6，用来将光源之光照射在试料之多个点；多根之受光光纤8，9，用来采集来自该多个点之透过光、反射光和散射光等；射束选择器10，由具有1个透过孔之旋转圆板12构成，用来使该多根之受光光纤8，9所采集到之光，通到任何1根之受光光纤；和MCPD4。当使旋转圆板12旋转，使之移动到可以让欲测定之信道光通过透过孔后保持静止的话，如此光便只透过该受光光纤而进行测定。要测定其他信道之光时，可以使旋转圆板旋转指定之角度。

4. 发明专利

TW575728B 光學自動測定方法有权
简体标题：光学自动测定方法
公开(公告)号：TW575728B
公开(公告)日：2004-02-11
申请号：TW090118418
申请日：2001-07-27
申请人：大塚電子股份有限公司 OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：稻本直樹 , 澤村義巳 , 藤村慎二 SHINJI FUJIMURA , 田口都一 KUNIKAZU TAGUCHI
IPC分类号： G01N
CPC分类号： G01N21/55 , G01N21/276 , G01N21/4785 , G01N2021/4745 , G01N2201/128
摘要：在依據本發明之一種光學自動測定方法中，將可移動反射板6移動至置於光軸下，光接收部位3b可接收自光投射部位3a所投射之經由可移動反射板6、固定反射板11、及可移動反射板6反射之光線，而將可移動反射板6自光軸移開且設定一基準件8在樣本級台10上，光接收部位3b可接收自光投射部位3a所投射之經由基準件8反射的光線，從而判定在所接收光線之強度間的比率。於樣本測定期間，將可移動反射板6移動至置於光軸下，光接收部位3b可接收來自光投射部位3a所投射之經由可移動反射板6、固定反射板11、及可移動反射板6反射之光線，因此，前述比率與因而接收之光線強度被使用以估計將以基準件測定之光線強度，所估計之光線強度被使用以校正經由一樣本所接收之光線強度。
简体摘要：在依据本发明之一种光学自动测定方法中，将可移动反射板6移动至置于光轴下，光接收部位3b可接收自光投射部位3a所投射之经由可移动反射板6、固定反射板11、及可移动反射板6反射之光线，而将可移动反射板6自光轴移开且设置一基准件8在样本级台10上，光接收部位3b可接收自光投射部位3a所投射之经由基准件8反射的光线，从而判定在所接收光线之强度间的比率。于样本测定期间，将可移动反射板6移动至置于光轴下，光接收部位3b可接收来自光投射部位3a所投射之经由可移动反射板6、固定反射板11、及可移动反射板6反射之光线，因此，前述比率与因而接收之光线强度被使用以估计将以基准件测定之光线强度，所估计之光线强度被使用以校正经由一样本所接收之光线强度。

5. 发明专利

TW200306408A 螢光測定裝置 FLUORESCENCE MEASURING APPARATUS 失效
简体标题：萤光测定设备 FLUORESCENCE MEASURING APPARATUS
公开(公告)号：TW200306408A
公开(公告)日：2003-11-16
申请号：TW092107082
申请日：2003-03-28
申请人：大塚電子股份有限公司 OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：松村義彥 YOSHIHIKO MATSUMURA , 藤村慎二 SHINJI FUJIMURA
IPC分类号： G01J , G01N
CPC分类号： G01N21/6452 , G01N21/253 , G01N21/6458 , G01N2021/6417 , G01N2201/04 , G01N2201/0415
摘要：本發明之螢光測定裝置使用激勵光源，大致同時的測定試料室內之多個試料，或同一試料之多個點。在激勵光之照射位置具備有旋轉試料台2，在上述之旋轉試料台2，於圓周上形成有多個之穿通孔2a，試料設置部3可以插入到該穿通孔2a，使試料台2對激勵光之照射位置進行相對移動，即使不更換試料室1內之試料，亦可以進行多個試料之螢光測定。
简体摘要：本发明之萤光测定设备使用激励光源，大致同时的测定试料室内之多个试料，或同一试料之多个点。在激励光之照射位置具备有旋转试料台2，在上述之旋转试料台2，于圆周上形成有多个之穿通孔2a，试料设置部3可以插入到该穿通孔2a，使试料台2对激励光之照射位置进行相对移动，即使不更换试料室1内之试料，亦可以进行多个试料之萤光测定。

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