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1. 发明专利

TWI471555B 陣列測試裝置及其光學檢測單元有权
简体标题：数组测试设备及其光学检测单元
公开(公告)号：TWI471555B
公开(公告)日：2015-02-01
申请号：TW100131243
申请日：2011-08-31
申请人：塔工程有限公司 , TOP ENGINEERING CO., LTD.
发明人：潘俊浩 , BAN, JUN HO , 鄭東賢 , JUNG, DONG HYUN , 李寧郁 , LEE, YOUNG WOOK
IPC分类号： G01N21/956

2. 发明专利

TWI391665B 陣列測試器有权
简体标题：数组测试器
公开(公告)号：TWI391665B
公开(公告)日：2013-04-01
申请号：TW097147669
申请日：2008-12-08
申请人：塔工程有限公司 , TOP ENGINEERING CO., LTD.
发明人：潘俊浩 , BAN, JUN-HO , 丁東澈 , JUNG, DONG-CHUL , 崔淵圭 , CHOI, YUN-KYU , 方圭龍 , BANG, KYU YONG , 張文柱 , JANG, MOON-JU
IPC分类号： G01R1/02 , G01R31/28 , G12B3/00

3. 发明专利

TWI460448B 陣列測試裝置有权
简体标题：数组测试设备
公开(公告)号：TWI460448B
公开(公告)日：2014-11-11
申请号：TW100146455
申请日：2011-12-15
申请人：塔工程有限公司 , TOP ENGINEERING CO., LTD.
发明人：鄭東賢 , JUNG, DONG HYUN , 潘俊浩 , BAN, JUN HO
IPC分类号： G01R31/302 , G02F1/13

4. 发明专利

TW201319598A 陣列測試裝置审中-公开
简体标题：数组测试设备
公开(公告)号：TW201319598A
公开(公告)日：2013-05-16
申请号：TW100146455
申请日：2011-12-15
申请人：塔工程有限公司 , TOP ENGINEERING CO., LTD.
发明人：鄭東賢 , JUNG, DONG HYUN , 潘俊浩 , BAN, JUN HO
IPC分类号： G01R31/302 , G02F1/13
摘要：本發明揭露一種陣列測試裝置，其可預防調節器產生晃動或傾斜。
简体摘要：本发明揭露一种数组测试设备，其可预防调节器产生晃动或倾斜。

5. 发明专利

TW201003088A 陣列測試器 ARRAY TESTER 审中-公开
简体标题：数组测试器 ARRAY TESTER
公开(公告)号：TW201003088A
公开(公告)日：2010-01-16
申请号：TW097125020
申请日：2008-07-03
申请人：塔工程有限公司
发明人：潘俊浩 , 丁東澈 , 鄭永珍
IPC分类号： G01R , G02F
摘要：本發明提供一種陣列測試器，包含：一裝載單元，包含複數個裝載盤，其支撐待測試之面板且彼此相隔；一測試單元，置於靠近裝載單元之第一軸方向且測試面板以偵測電缺陷；以及複數個面板傳送組件，各自裝載單元傳送面板到測試單元，其中面板傳送組件包含導軌安裝於裝載盤間之於第一軸方向，第一移動構件於第一軸方向可移動地耦合導軌，第二移動構件於垂直第一軸方向之第二軸方向可移動地耦合第一移動構件，以及抽吸塊耦合第二移動構件以自較低側支撐面板。
简体摘要：本发明提供一种数组测试器，包含：一装载单元，包含复数个装载盘，其支撑待测试之皮肤且彼此相隔；一测试单元，置于靠近装载单元之第一轴方向且测试皮肤以侦测电缺陷；以及复数个皮肤发送组件，各自装载单元发送皮肤到测试单元，其中皮肤发送组件包含导轨安装于装载盘间之于第一轴方向，第一移动构件于第一轴方向可移动地耦合导轨，第二移动构件于垂直第一轴方向之第二轴方向可移动地耦合第一移动构件，以及抽吸块耦合第二移动构件以自较低侧支撑皮肤。

6. 发明专利

TWI365291B 陣列測試器 ARRAY TESTER 有权
简体标题：数组测试器 ARRAY TESTER
公开(公告)号：TWI365291B
公开(公告)日：2012-06-01
申请号：TW097125020
申请日：2008-07-03
申请人：塔工程有限公司
发明人：潘俊浩 , 丁東澈 , 鄭永珍
IPC分类号： G01R , G02F
摘要：本發明提供一種陣列測試器，包含：一裝載單元，包含複數個裝載盤，其支撐待測試之面板且彼此相隔；一測試單元，置於靠近裝載單元之第一軸方向且測試面板以偵測電缺陷；以及複數個面板傳送組件，各自裝載單元傳送面板到測試單元，其中面板傳送組件包含導軌安裝於裝載盤間之於第一軸方向，第一移動構件於第一軸方向可移動地耦合導軌，第二移動構件於垂直第一軸方向之第二軸方向可移動地耦合第一移動構件，以及抽吸塊耦合第二移動構件以自較低側支撐面板。
简体摘要：本发明提供一种数组测试器，包含：一装载单元，包含复数个装载盘，其支撑待测试之皮肤且彼此相隔；一测试单元，置于靠近装载单元之第一轴方向且测试皮肤以侦测电缺陷；以及复数个皮肤发送组件，各自装载单元发送皮肤到测试单元，其中皮肤发送组件包含导轨安装于装载盘间之于第一轴方向，第一移动构件于第一轴方向可移动地耦合导轨，第二移动构件于垂直第一轴方向之第二轴方向可移动地耦合第一移动构件，以及抽吸块耦合第二移动构件以自较低侧支撑皮肤。

7. 发明专利

TW201248139A 陣列測試裝置及其光學檢測單元 OPTICAL INSPECTION DEVICE AND ARRAY TEST APPARATUS HAVING THE SAME 审中-公开
简体标题：数组测试设备及其光学检测单元 OPTICAL INSPECTION DEVICE AND ARRAY TEST APPARATUS HAVING THE SAME
公开(公告)号：TW201248139A
公开(公告)日：2012-12-01
申请号：TW100131243
申请日：2011-08-31
申请人：塔工程有限公司
发明人：潘俊浩 , 鄭東賢 , 李寧郁
IPC分类号： G01N
摘要：本發明係揭露一種光學檢測單元以及一種具有光學檢測單元之陣列測試裝置。本發明可簡化光學系統之放大倍率之一調整結構,並避免當調整光學系統之放大倍率時產生雜質,進而避免光學系統或一玻璃面板被雜質所污染。
简体摘要：本发明系揭露一种光学检测单元以及一种具有光学检测单元之数组测试设备。本发明可简化光学系统之放大倍率之一调整结构,并避免当调整光学系统之放大倍率时产生杂质,进而避免光学系统或一玻璃皮肤被杂质所污染。

8. 发明专利

TW201015141A 陣列測試器 ARRAY TESTER 审中-公开
简体标题：数组测试器 ARRAY TESTER
公开(公告)号：TW201015141A
公开(公告)日：2010-04-16
申请号：TW097147667
申请日：2008-12-08
申请人：塔工程有限公司
发明人：潘俊浩 , 張文柱
IPC分类号： G02F , G01R
摘要：提供一種陣列測試器。固定塊平行移動於至少一方向。調變器塊可提升地耦接固定塊之下部，與形成在基板上之電極形成電場，且根據電場的強度偵測基板之任何缺陷。空氣軸承插置於固定塊及調變器塊之間，且當調變器塊移動時避免調變器塊振動。當調變器塊耦接固定塊時，由於空氣軸承之噴射流中心位於調變器塊之重心之高度，當調變器塊移動時，可降低調變器塊的振動。再者，由於安頓時間降低，所以可高速執行陣列測試。
简体摘要：提供一种数组测试器。固定块平行移动于至少一方向。调制器块可提升地耦接固定块之下部，与形成在基板上之电极形成电场，且根据电场的强度侦测基板之任何缺陷。空气轴承插置于固定块及调制器块之间，且当调制器块移动时避免调制器块振动。当调制器块耦接固定块时，由于空气轴承之喷射流中心位于调制器块之重心之高度，当调制器块移动时，可降低调制器块的振动。再者，由于安顿时间降低，所以可高速运行数组测试。

9. 发明专利

TW201007168A 陣列測試器 ARRAY TESTER 审中-公开
简体标题：数组测试器 ARRAY TESTER
公开(公告)号：TW201007168A
公开(公告)日：2010-02-16
申请号：TW097147669
申请日：2008-12-08
申请人：塔工程有限公司
发明人：潘俊浩 , 丁東澈 , 崔淵圭 , 方圭龍 , 張文柱
IPC分类号： G01R , G12B
摘要：揭露一種陣列測試器，其執行顯示面板之基板上的複數個電極是否有電缺陷之測試。陣列測試器包含至少一光源及至少一調變器。光源設置於基板上調變器設置之位置之相對側，且一個接一個地對應調變器，發射光到對應的調變器，且移動到與調變器相同之位置。光源之尺寸與調變器一樣小，因此可顯著降低光源的亮度差異。因此，光源朝基板發射均勻的光，而提供調變器均勻的光，藉此能根據面板電極是否有缺陷而使改變的光量穩定。因此，陣列測試器之偵測單元量測通過調變器的光量，並精確地決定電極是否有缺陷，因而增加面板缺陷偵測之測試可靠度。
简体摘要：揭露一种数组测试器，其运行显示皮肤之基板上的复数个电极是否有电缺陷之测试。数组测试器包含至少一光源及至少一调制器。光源设置于基板上调制器设置之位置之相对侧，且一个接一个地对应调制器，发射光到对应的调制器，且移动到与调制器相同之位置。光源之尺寸与调制器一样小，因此可显着降低光源的亮度差异。因此，光源朝基板发射均匀的光，而提供调制器均匀的光，借此能根据皮肤电极是否有缺陷而使改变的光量稳定。因此，数组测试器之侦测单元量测通过调制器的光量，并精确地决定电极是否有缺陷，因而增加皮肤缺陷侦测之测试可靠度。

10. 发明专利

TWI377379B 陣列測試器 ARRAY TESTER 有权
简体标题：数组测试器 ARRAY TESTER
公开(公告)号：TWI377379B
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：TW097147667
申请日：2008-12-08
申请人：塔工程有限公司
发明人：潘俊浩 , 張文柱
IPC分类号： G02F , G01R
摘要：提供一種陣列測試器。固定塊平行移動於至少一方向。調變器塊可提升地耦接固定塊之下部，與形成在基板上之電極形成電場，且根據電場的強度偵測基板之任何缺陷。空氣軸承插置於固定塊及調變器塊之間，且當調變器塊移動時避免調變器塊振動。當調變器塊耦接固定塊時，由於空氣軸承之噴射流中心位於調變器塊之重心之高度，當調變器塊移動時，可降低調變器塊的振動。再者，由於安頓時間降低，所以可高速執行陣列測試。
简体摘要：提供一种数组测试器。固定块平行移动于至少一方向。调制器块可提升地耦接固定块之下部，与形成在基板上之电极形成电场，且根据电场的强度侦测基板之任何缺陷。空气轴承插置于固定块及调制器块之间，且当调制器块移动时避免调制器块振动。当调制器块耦接固定块时，由于空气轴承之喷射流中心位于调制器块之重心之高度，当调制器块移动时，可降低调制器块的振动。再者，由于安顿时间降低，所以可高速运行数组测试。

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