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    • 6. 发明专利
    • 利用光催化技術之磷化氫氣體定量分析方法
    • 利用光催化技术之磷化氢气体定量分析方法
    • TW201326811A
    • 2013-07-01
    • TW100149378
    • 2011-12-28
    • 國立台灣科技大學NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
    • 曾堯宣TSENG, YAO HSUAN李澈LEE, CHE
    • G01N33/00G01N1/28
    • 本發明揭示一種利用光催化技術之磷化氫氣體定量分析方法,其係將磷化氫氣體連續通入以紫外光/可見光照射之光觸媒,來進行光催化降解的反應,接著以離子層析儀(IC)、原子吸收光譜儀(AAS)、感應耦合電漿原子發射光譜儀(ICP-AES)或感應偶合電漿質譜儀(ICP-MS),來分析光觸媒表面上之磷化氫的光催化氧化產物,並藉由該分析數據來製備一檢量線,以發展出一種低濃度磷化氫氣體的簡易定量方法。本發明可以提供簡易且快速的定量分析方法,從而解決低濃度磷化氫氣體分析的問題。
    • 本发明揭示一种利用光催化技术之磷化氢气体定量分析方法,其系将磷化氢气体连续通入以紫外光/可见光照射之光触媒,来进行光催化降解的反应,接着以离子层析仪(IC)、原子吸收光谱仪(AAS)、感应耦合等离子原子发射光谱仪(ICP-AES)或感应偶合等离子质谱仪(ICP-MS),来分析光触媒表面上之磷化氢的光催化氧化产物,并借由该分析数据来制备一检量线,以发展出一种低浓度磷化氢气体的简易定量方法。本发明可以提供简易且快速的定量分析方法,从而解决低浓度磷化氢气体分析的问题。