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1. 发明专利

TW201728141A 二位元相位偏移解調變器审中-公开
简体标题：二比特相位偏移解调制器
公开(公告)号：TW201728141A
公开(公告)日：2017-08-01
申请号：TW105102160
申请日：2016-01-25
申请人：國立交通大學 , NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY
发明人：羅吉逸 , LO, CHI-YI , 洪浩喬 , HONG, HAO-CHIAO
IPC分类号： H04L27/233
CPC分类号： H04L27/2275 , H03D3/00
摘要：本發明提供一種二位元相位偏移解調變器，其是利用一延遲電路以延遲一二位元相位偏移調變訊號，將其與未延遲的二位元相位偏移調變訊號混合，以輸出一解調資料訊號，同時利用一相位旋轉電路，藉由該解調資料訊號以解出一載波時脈。其中，延遲電路的操作頻率為一倍或二分之一倍的載波頻率，可大幅減少功率消耗，且其於數位或類比電路皆可實施。
简体摘要：本发明提供一种二比特相位偏移解调制器，其是利用一延迟电路以延迟一二比特相位偏移调制信号，将其与未延迟的二比特相位偏移调制信号混合，以输出一解调数据信号，同时利用一相位旋转电路，借由该解调数据信号以解出一载波时脉。其中，延迟电路的操作频率为一倍或二分之一倍的载波频率，可大幅减少功率消耗，且其于数码或模拟电路皆可实施。

2. 发明专利

TWI538408B 使用週期性重置積分之角度解調變裝置及其方法有权
简体标题：使用周期性重置积分之角度解调制设备及其方法
公开(公告)号：TWI538408B
公开(公告)日：2016-06-11
申请号：TW102117824
申请日：2013-05-21
申请人：國立交通大學 , NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY
发明人：洪浩喬 , HONG, HAO CHIAO , 陳昀澤 , CHEN, YUN TSE , 洪紹峰 , HUNG, SHAO FENG
IPC分类号： H03K9/04 , G01B9/02
CPC分类号： H03D3/00 , G01J9/02 , G01J9/04 , H03D3/04 , H03D7/161 , H03D2200/0021 , H03D2200/0049

3. 发明专利

TWI587663B 二位元相位偏移解調變器有权
简体标题：二比特相位偏移解调制器
公开(公告)号：TWI587663B
公开(公告)日：2017-06-11
申请号：TW105102160
申请日：2016-01-25
申请人：國立交通大學 , NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY
发明人：羅吉逸 , LO, CHI-YI , 洪浩喬 , HONG, HAO-CHIAO
IPC分类号： H04L27/233
CPC分类号： H04L27/2275 , H03D3/00

4. 发明专利

TW201616139A 超大型電晶體陣列式電氣參數測試裝置审中-公开
简体标题：超大型晶体管数组式电气参数测试设备
公开(公告)号：TW201616139A
公开(公告)日：2016-05-01
申请号：TW103136266
申请日：2014-10-21
申请人：國立交通大學 , NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY
发明人：洪浩喬 , HONG, HAO CHIAO
IPC分类号： G01R31/28
摘要：本發明係揭露一種超大型電晶體陣列式電氣參數測試裝置，其包含複數測試晶胞，每一測試晶胞更包含一待測場效電晶體與一控制場效電晶體，該控制場效電晶體之源極連接該待測場效電晶體之汲極或源極。每一測試晶胞依序被選擇作為待測晶胞。在待測晶胞進行量測時，在此待測晶胞中之該控制場效電晶體工作於飽和區或次臨界電壓區，使其汲極電流主要由其閘極與源極之電壓差所決定，藉由控制此待測晶胞的控制場效電晶體之閘極電壓以設定此待測晶胞的該待測場效電晶體之汲極或源極電壓，以準確量測此待測晶胞之待測場效電晶體之電氣參數。
简体摘要：本发明系揭露一种超大型晶体管数组式电气参数测试设备，其包含复数测试晶胞，每一测试晶胞更包含一待测场效应管与一控制场效应管，该控制场效应管之源极连接该待测场效应管之汲极或源极。每一测试晶胞依序被选择作为待测晶胞。在待测晶胞进行量测时，在此待测晶胞中之该控制场效应管工作于饱和区或次临界电压区，使其汲极电流主要由其闸极与源极之电压差所决定，借由控制此待测晶胞的控制场效应管之闸极电压以设置此待测晶胞的该待测场效应管之汲极或源极电压，以准确量测此待测晶胞之待测场效应管之电气参数。

5. 发明专利

TW200713836A 於類比測試中可接收數位測試激發訊號之可重新規劃切換電容輸入電路失效
简体标题：于模拟测试中可接收数码测试激发信号之可重新规划切换电容输入电路
公开(公告)号：TW200713836A
公开(公告)日：2007-04-01
申请号：TW094132003
申请日：2005-09-16
申请人：國立交通大學 NATIONAL CHIAO-TUNG UNIVERSITY
发明人：洪浩喬
IPC分类号： H03M
CPC分类号： H03M3/378 , H03M3/458
摘要：本發明提出一種於類比測試中可接收數位測試激發訊號之可重新規劃切換電容輸入電路,係以電容、類比開關及數位電路作為數位輸入介面來測試混合訊號電路,因此可利用價格便宜的數位測試平台完成電路測試,解決傳統上需要使用高成本的混合模式測試機台和極嚴苛的測試環境條件的問題,因而改善可測性及降低測試成本,從而加速設計流程及縮短產品上市時間的限制。
简体摘要：本发明提出一种于模拟测试中可接收数码测试激发信号之可重新规划切换电容输入电路,系以电容、模拟开关及数字电路作为数码输入界面来测试混合信号电路,因此可利用价格便宜的数码测试平台完成电路测试,解决传统上需要使用高成本的混合模式测试机台和极严苛的测试环境条件的问题,因而改善可测性及降低测试成本,从而加速设计流程及缩短产品上市时间的限制。

6. 发明专利

TWI509267B 超大型電晶體陣列式電氣參數測試裝置有权
简体标题：超大型晶体管数组式电气参数测试设备
公开(公告)号：TWI509267B
公开(公告)日：2015-11-21
申请号：TW103136266
申请日：2014-10-21
申请人：國立交通大學 , NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY
发明人：洪浩喬 , HONG, HAO CHIAO
IPC分类号： G01R31/28

7. 发明专利

TWI501562B 估測逐次漸近類比數位轉換器中電容權重誤差之方法與其應用於校正該逐次漸進類比數位轉換器有权
简体标题：估测逐次渐近模拟数码转换器中电容权重误差之方法与其应用于校正该逐次渐进模拟数码转换器
公开(公告)号：TWI501562B
公开(公告)日：2015-09-21
申请号：TW101136974
申请日：2012-10-05
申请人：國立交通大學 , NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY
发明人：洪浩喬 , HONG, HAO CHIAO , 謝宗殷 , HSIEH, TSUNG YIN
IPC分类号： H03M1/12 , H03M1/42
CPC分类号： H03M1/1071 , H03M1/1038 , H03M1/12 , H03M1/466

8. 发明专利

TW201445889A 使用週期性重置積分之角度解調變裝置及其方法审中-公开
简体标题：使用周期性重置积分之角度解调制设备及其方法
公开(公告)号：TW201445889A
公开(公告)日：2014-12-01
申请号：TW102117824
申请日：2013-05-21
申请人：國立交通大學 , NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY
发明人：洪浩喬 , HONG, HAO CHIAO , 陳昀澤 , CHEN, YUN TSE , 洪紹峰 , HUNG, SHAO FENG
IPC分类号： H03K9/04 , G01B9/02
CPC分类号： H03D3/00 , G01J9/02 , G01J9/04 , H03D3/04 , H03D7/161 , H03D2200/0021 , H03D2200/0049
摘要：使用週期性重置積分之角度解調變裝置及其方法，其使用波形乘法器及週期性重置積分器，可將一連續時間角度調變訊號解調變為一離散時間訊號。將連續時間角度調變訊號先經過波形乘法器乘上頻率為整數倍載波頻率的方波訊號後，傳送至週期性重置積分電路進行積分一個載波週期而產生一離散時間角度解調變輸出訊號。本發明對於調變深度的值並無任何限制，因此可大幅地降低前端光學式感測系統的設計難度，實現了體積小、速度快、靈敏度高、可靠度高、性能佳、環境適應性強之功效。
简体摘要：使用周期性重置积分之角度解调制设备及其方法，其使用波形乘法器及周期性重置积分器，可将一连续时间角度调制信号解调制为一离散时间信号。将连续时间角度调制信号先经过波形乘法器乘上频率为整数倍载波频率的方波信号后，发送至周期性重置积分电路进行积分一个载波周期而产生一离散时间角度解调制输出信号。本发明对于调制深度的值并无任何限制，因此可大幅地降低前端光学式传感系统的设计难度，实现了体积小、速度快、灵敏度高、可靠度高、性能佳、环境适应性强之功效。

9. 发明专利

TW201424273A 數位類比轉換電路及其權重誤差估測與校正方法审中-公开
简体标题：数码模拟转换电路及其权重误差估测与校正方法
公开(公告)号：TW201424273A
公开(公告)日：2014-06-16
申请号：TW101147417
申请日：2012-12-14
申请人：國立交通大學 , NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY
发明人：洪浩喬 , HONG, HAO CHIAO , 王毓賢 , WANG, YU SHIEN
IPC分类号： H03M1/06 , H03M1/46 , H03M1/80
CPC分类号： H03M1/1061
摘要：本發明揭露一種數位類比轉換電路及其權重誤差估測與校正方法。本發明係利用輸出切換電路自所有轉換器單元中動態選取至少包含已知權重轉換器單元的數個轉換器單元作為參考轉換器群組，以及由未知權重轉換器單元中動態選取至少一個未知權重轉換器單元，藉由一個類比數位轉換器將參考轉換器群組的輸出與未知權重轉換器單元的輸出總和的差值數位化並將結果輸入數位控制器，數位控制器根據類比數位轉換器輸出控制參考轉換器群組的輸入使參考轉換器群組的輸出逼近該未知權重轉換器單元的輸出，並依過程中所得之類比數位轉換器輸出計算出該等未知權重轉換器單元的真實數位權重，並儲存於校正記憶體以供校正之用。
简体摘要：本发明揭露一种数码模拟转换电路及其权重误差估测与校正方法。本发明系利用输出切换电路自所有转换器单元中动态选取至少包含已知权重转换器单元的数个转换器单元作为参考转换器群组，以及由未知权重转换器单元中动态选取至少一个未知权重转换器单元，借由一个模拟数码转换器将参考转换器群组的输出与未知权重转换器单元的输出总和的差值数码化并将结果输入数码控制器，数码控制器根据模拟数码转换器输出控制参考转换器群组的输入使参考转换器群组的输出逼近该未知权重转换器单元的输出，并依过程中所得之模拟数码转换器输出计算出该等未知权重转换器单元的真实数码权重，并存储于校正内存以供校正之用。

10. 发明专利

TWI270254B 於類比測試中可接收數位測試激發訊號之可重新規劃切換電容輸入電路失效
简体标题：于模拟测试中可接收数码测试激发信号之可重新规划切换电容输入电路
公开(公告)号：TWI270254B
公开(公告)日：2007-01-01
申请号：TW094132003
申请日：2005-09-16
申请人：國立交通大學 NATIONAL CHIAO-TUNG UNIVERSITY
发明人：洪浩喬
IPC分类号： H03M
CPC分类号： H03M3/378 , H03M3/458
摘要：本發明提出一種於類比測試中可接收數位測試激發訊號之可重新規劃切換電容輸入電路，係以電容、類比開關及數位電路作為數位輸入介面來測試混合訊號電路，因此可利用價格便宜的數位測試平台完成電路測試，解決傳統上需要使用高成本的混合模式測試機台和極嚴苛的測試環境條件的問題，因而改善可測性及降低測試成本，從而加速設計流程及縮短產品上市時間的限制。
简体摘要：本发明提出一种于模拟测试中可接收数码测试激发信号之可重新规划切换电容输入电路，系以电容、模拟开关及数字电路作为数码输入界面来测试混合信号电路，因此可利用价格便宜的数码测试平台完成电路测试，解决传统上需要使用高成本的混合模式测试机台和极严苛的测试环境条件的问题，因而改善可测性及降低测试成本，从而加速设计流程及缩短产品上市时间的限制。

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