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1. 发明专利

TW201443432A 利用薄層層析質譜分析化合物的方法审中-公开
简体标题：利用薄层层析质谱分析化合物的方法
公开(公告)号：TW201443432A
公开(公告)日：2014-11-16
申请号：TW102116006
申请日：2013-05-06
申请人：國立中山大學 , NATIONAL SUN YAT-SEN UNIVERSITY
发明人：林伯樵 , LIN, PO CHAO , 陳駿其 , CHEN, CHUN CHI
IPC分类号： G01N30/72 , G01N30/86
摘要：本發明提供一種利用薄層層析質譜分析化合物的方法，包括以下步驟：(a)提供一樣品，其中該樣品溶於一分離溶液中且該樣品中具有複數個化合物；(b)將該樣品點附於一基板(plate)上，藉由一薄層層析法(thin layer chromatography)分離該樣品，以得到複數個分析點，其中每一個分析點包括至少一個化合物；(c)將一奈米粒子溶液滴於該些分析點，使該些化合物吸附於該奈米粒子溶液中；(d)對該基板進行一乾燥步驟；以及(e)將吸附上該些化合物的該基板直接置入一質譜儀中，以進行質譜分析。
简体摘要：本发明提供一种利用薄层层析质谱分析化合物的方法，包括以下步骤：(a)提供一样品，其中该样品溶于一分离溶液中且该样品中具有复数个化合物；(b)将该样品点附于一基板(plate)上，借由一薄层层析法(thin layer chromatography)分离该样品，以得到复数个分析点，其中每一个分析点包括至少一个化合物；(c)将一奈米粒子溶液滴于该些分析点，使该些化合物吸附于该奈米粒子溶液中；(d)对该基板进行一干燥步骤；以及(e)将吸附上该些化合物的该基板直接置入一质谱仪中，以进行质谱分析。

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