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1. 发明专利

TW201115162A 測試系統 TEST SYSTEM 审中-公开
简体标题：测试系统 TEST SYSTEM
公开(公告)号：TW201115162A
公开(公告)日：2011-05-01
申请号：TW098136997
申请日：2009-10-30
申请人：啟碁科技股份有限公司
发明人：陳柏義 , 陳逸瑞 , 吳旻蓉 , 詹豐吉 , 陳國瑋
IPC分类号： G01R
CPC分类号： H04B17/0085
摘要：本發明提供一種測試系統，該測試系統包含有一訊號產生器，用以產生輸入訊號；一訊號分配器，將輸入訊號分配成第一分流訊號以及第二分流訊號；一微控制單元，用以產生第一控制訊號以及第二控制訊號；一第一傳輸介面，用以傳輸該第一分流訊號以及該第一控制訊號；一第二傳輸介面，用以傳輸該第二分流訊號以及該第二控制訊號；以及一第一訊號調整單元，根據該第一控制訊號，將該第一分流訊號轉換成第一測試訊號，以輸出提供測試。
简体摘要：本发明提供一种测试系统，该测试系统包含有一信号产生器，用以产生输入信号；一信号分配器，将输入信号分配成第一分流信号以及第二分流信号；一微控制单元，用以产生第一控制信号以及第二控制信号；一第一传输界面，用以传输该第一分流信号以及该第一控制信号；一第二传输界面，用以传输该第二分流信号以及该第二控制信号；以及一第一信号调整单元，根据该第一控制信号，将该第一分流信号转换成第一测试信号，以输出提供测试。

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