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1. 发明专利

TWI420802B 自動校正頻率之頻率校正電路及其方法有权
简体标题：自动校正频率之频率校正电路及其方法
公开(公告)号：TWI420802B
公开(公告)日：2013-12-21
申请号：TW099129876
申请日：2010-09-03
申请人：偉詮電子股份有限公司 , WELTREND SEMICONDUCTOR INC.
发明人：蕭福源 , HSIAO, FU YUAN , 潘克寧 , PAN, KE NING
IPC分类号： H03B5/02
CPC分类号： H03L7/085 , H03L7/1077

2. 发明专利

TW201637610A 偵測心率的方法审中-公开
简体标题：侦测心率的方法
公开(公告)号：TW201637610A
公开(公告)日：2016-11-01
申请号：TW104113599
申请日：2015-04-28
申请人：偉詮電子股份有限公司 , WELTREND SEMICONDUCTOR, INC.
发明人：潘克寧 , PAN, KE NING , 郭世宗 , KUO, SHIH TSUNG , 何吉忠 , HO, CHI CHUNG
IPC分类号： A61B5/02 , A61B5/024 , A61B5/0285
CPC分类号： A61B5/7257 , A61B5/02438 , A61B5/11 , A61B5/721 , A61B2562/0219
摘要：本發明係一種偵測心率的方法，包括提供一光偵測器模組、一運動偵測器與一快速傅立葉轉換(Fast Fourier Transform,FFT)模組，藉由該光偵測器模組與該FFT模組以得到一第一心率，在不同時間進行取樣，藉由該運動偵測器與該FFT模組產生一頻譜資訊框(frame)，其中該頻譜資訊框具有複數個峰值(peak)以及對應該複數個峰值(peak)的第一複數個指標(index)，並利用該第一複數個指標定義複數個運動區間，以及利用該第一心率與不同時間取樣所得之該複數個運動區間進行一區間追蹤演算法以獲得一目前心率。
简体摘要：本发明系一种侦测心率的方法，包括提供一光侦测器模块、一运动侦测器与一快速傅里叶转换(Fast Fourier Transform,FFT)模块，借由该光侦测器模块与该FFT模块以得到一第一心率，在不同时间进行采样，借由该运动侦测器与该FFT模块产生一频谱信息框(frame)，其中该频谱信息框具有复数个峰值(peak)以及对应该复数个峰值(peak)的第一复数个指针(index)，并利用该第一复数个指针定义复数个运动区间，以及利用该第一心率与不同时间采样所得之该复数个运动区间进行一区间追踪算法以获得一目前心率。

3. 发明专利

TWI499963B 在薄膜輸入裝置上偵測觸壓點的方法有权
简体标题：在薄膜输入设备上侦测触压点的方法
公开(公告)号：TWI499963B
公开(公告)日：2015-09-11
申请号：TW102133242
申请日：2013-09-13
申请人：偉詮電子股份有限公司 , WELTREND SEMICONDUCTOR INC.
发明人：潘克寧 , PAN, KE NING , 張瓊文 , CHANG, CHIUNG WEN
IPC分类号： G06F3/045 , G06K9/62 , G06K11/00

4. 发明专利

TWI417702B 自動校正頻率之頻率校正電路及其方法有权
简体标题：自动校正频率之频率校正电路及其方法
公开(公告)号：TWI417702B
公开(公告)日：2013-12-01
申请号：TW099111454
申请日：2010-04-13
申请人：偉詮電子股份有限公司 , WELTREND SEMICONDUCTOR INC.
发明人：蕭福源 , HSIAO, FU YUAN , 潘克寧 , PAN, KE NING , 江宗志 , CHIANG, TSUNG CHIH
IPC分类号： G06F1/12

5. 发明专利

TWI535415B 偵測心率的方法有权
简体标题：侦测心率的方法
公开(公告)号：TWI535415B
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：TW104113599
申请日：2015-04-28
申请人：偉詮電子股份有限公司 , WELTREND SEMICONDUCTOR, INC.
发明人：潘克寧 , PAN, KE NING , 郭世宗 , KUO, SHIH TSUNG , 何吉忠 , HO, CHI CHUNG
IPC分类号： A61B5/02 , A61B5/024 , A61B5/0285
CPC分类号： A61B5/7257 , A61B5/02438 , A61B5/11 , A61B5/721 , A61B2562/0219

6. 发明专利

TW201510837A 在薄膜輸入裝置上偵測觸壓點的方法审中-公开
简体标题：在薄膜输入设备上侦测触压点的方法
公开(公告)号：TW201510837A
公开(公告)日：2015-03-16
申请号：TW102133242
申请日：2013-09-13
申请人：偉詮電子股份有限公司 , WELTREND SEMICONDUCTOR INC.
发明人：潘克寧 , PAN, KE NING , 張瓊文 , CHANG, CHIUNG WEN
IPC分类号： G06F3/045 , G06K9/62 , G06K11/00
摘要：在薄膜輸入裝置包含之薄膜元件上偵測觸壓點時，透過薄膜輸入裝置包含之處理器的控制，先行將薄膜元件上的縱向感應線與橫向感應線皆以直流電壓源進行充電，再將欲偵測之縱向感應線接地並將其餘的縱向感應線皆浮接，以及藉由將與欲偵測之橫向感應線浮接並將其餘的橫向感應線皆掛載於感應電阻以耦接於直流電壓源，使得出現多個被觸壓的觸壓點時，防止被觸壓的感應線交錯點受到感應電阻並聯而減小阻值的影響而被誤判為未觸壓點，並可節省採用高電阻值之感應電阻所帶來的高成本與大積體電路面積。
简体摘要：在薄膜输入设备包含之薄膜组件上侦测触压点时，透过薄膜输入设备包含之处理器的控制，先行将薄膜组件上的纵向感应线与横向感应线皆以直流电压源进行充电，再将欲侦测之纵向感应线接地并将其余的纵向感应线皆浮接，以及借由将与欲侦测之横向感应线浮接并将其余的横向感应线皆挂载于感应电阻以耦接于直流电压源，使得出现多个被触压的触压点时，防止被触压的感应线交错点受到感应电阻并联而减小阻值的影响而被误判为未触压点，并可节省采用高电阻值之感应电阻所带来的高成本与大集成电路面积。

7. 发明专利

TW201135402A 自動校正頻率之頻率校正電路及其方法 FREQUENCY CALIBRATION CIRCUIT FOR AUTOMATICALLY CALIBRATING FREQUENCY AND METHOD THEREOF 审中-公开
简体标题：自动校正频率之频率校正电路及其方法 FREQUENCY CALIBRATION CIRCUIT FOR AUTOMATICALLY CALIBRATING FREQUENCY AND METHOD THEREOF
公开(公告)号：TW201135402A
公开(公告)日：2011-10-16
申请号：TW099111454
申请日：2010-04-13
申请人：偉詮電子股份有限公司
发明人：蕭福源 , 潘克寧 , 江宗志
IPC分类号： G06F
摘要：根據從一低速傳輸模式下的一通用序列匯流排所接收的差動訊號對產生一序列數位資料；當偵測到一毫秒的封包末端時，產生一脈衝；計數在連續兩脈衝期間由一阻容振盪器產生的時脈數；比較該時脈數和一預定數值以產生一比較結果；及根據該比較結果校正該阻容振盪器的一頻率。
简体摘要：根据从一低速传输模式下的一通用串行总线所接收的差动信号对产生一串行数码数据；当侦测到一毫秒的封包末端时，产生一脉冲；计数在连续两脉冲期间由一阻容振荡器产生的时脉数；比较该时脉数和一预定数值以产生一比较结果；及根据该比较结果校正该阻容振荡器的一频率。

8. 发明专利

TW201201504A 自動校正頻率之頻率校正電路及其方法 FREQUENCY CALIBRATION CIRCUIT FOR AUTOMATICALLY CALIBRATING FREQUENCY AND METHOD THEREOF 审中-公开
简体标题：自动校正频率之频率校正电路及其方法 FREQUENCY CALIBRATION CIRCUIT FOR AUTOMATICALLY CALIBRATING FREQUENCY AND METHOD THEREOF
公开(公告)号：TW201201504A
公开(公告)日：2012-01-01
申请号：TW099129876
申请日：2010-09-03
申请人：偉詮電子股份有限公司
发明人：蕭福源 , 潘克寧
IPC分类号： H03B
CPC分类号： H03L7/085 , H03L7/1077
摘要：根據從一低速傳輸模式下的一通用序列滙流排所接收的差動訊號對,產生一序列數位資料;根據該序列數位資料中的封包末端的寬度,粗調一振盪器的時脈;及根據該序列數位資料中的同步訊號的寬度,細調該振盪器的時脈。
简体摘要：根据从一低速传输模式下的一通用串行汇流排所接收的差动信号对,产生一串行数码数据;根据该串行数码数据中的封包末端的宽度,粗调一振荡器的时脉;及根据该串行数码数据中的同步信号的宽度,细调该振荡器的时脉。

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