会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 4. 发明专利
    • 防眩度測量系統及其測量方法
    • 防眩度测量系统及其测量方法
    • TW201508256A
    • 2015-03-01
    • TW102129844
    • 2013-08-20
    • 住華科技股份有限公司SUMIKA TECHNOLOGY CO., LTD.
    • 黃帝鈞HUANG, DIJIUN徐維廷HSU, WEITING林百顯LIN, PAIHSIEN
    • G01M11/02G02B5/02
    • 一種防眩度測量系統及其測量方法,適用以測量一薄膜之防眩度。防眩度測量系統包含固定座、基板、白色光源裝置、亮度偵測裝置及計算裝置。基板設於固定座上,且包含一表面,其中表面具有第一區及第二區且適用以供薄膜設置。白色光源裝置朝設於基板上之薄膜發射白色光束,以在第一區之薄膜上產生光源影像以及在第二區之薄膜上產生光暈影像。亮度偵測裝置用來偵測薄膜在第一區之複數個第一亮度及在第二區之複數個第二亮度。計算裝置用以接收此些第一亮度與此些第二亮度,以計算薄膜之防眩度。
    • 一种防眩度测量系统及其测量方法,适用以测量一薄膜之防眩度。防眩度测量系统包含固定座、基板、白色光源设备、亮度侦测设备及计算设备。基板设于固定座上,且包含一表面,其中表面具有第一区及第二区且适用以供薄膜设置。白色光源设备朝设于基板上之薄膜发射白色光束,以在第一区之薄膜上产生光源影像以及在第二区之薄膜上产生光晕影像。亮度侦测设备用来侦测薄膜在第一区之复数个第一亮度及在第二区之复数个第二亮度。计算设备用以接收此些第一亮度与此些第二亮度,以计算薄膜之防眩度。