会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 2. 发明专利
    • 氧化銦系透明導電膜之製造方法 METHOD FOR MANUFACTURE OF TRANSPARENT, CONDUCTIVE INDIUM OXIDE FILM
    • 氧化铟系透明导电膜之制造方法 METHOD FOR MANUFACTURE OF TRANSPARENT, CONDUCTIVE INDIUM OXIDE FILM
    • TW200901228A
    • 2009-01-01
    • TW097111628
    • 2008-03-31
    • 三井金屬業股份有限公司 MITSUI MINING & SMELTING CO., LTD.
    • 高橋誠一郎 TAKAHASHI, SEIICHIRO宮下德彥 MIYASHITA, NORIHIKO
    • H01BC01BC23C
    • C23C14/086C23C14/3414C23C14/5806
    • 本發明之課題是提供一種,為非晶質膜且可以容易藉由弱酸蝕刻形成圖案,並且具有低電阻且高透明率可以容易予以結晶化之氧化銦系透明導電膜之製造方法。本發明之解決手段為具備:對含有氧化銦與添加元素之濺鍍靶材,確認可於特定的成膜溫度使非晶質膜成膜,之後,於特定的退火溫度藉由退火而可以將前述非晶質膜予以結晶化之製程;與於前述特定的成膜溫度成膜之非晶質膜的電阻率成為最低之氧分壓的最適氧分壓不同,而是求出於前述特定的退火溫度進行退火而予以結晶化之膜的電阻率成為最低之氧分壓,作為成膜氧分壓之製程;於此成膜氧分壓下藉由濺鍍而使非晶質膜成膜之製程;以及於前述特定退火溫度藉由對此非晶質膜進行退火,予以結晶化而形成氧化銦系透明導電膜之製程。
    • 本发明之课题是提供一种,为非晶质膜且可以容易借由弱酸蚀刻形成图案,并且具有低电阻且高透明率可以容易予以结晶化之氧化铟系透明导电膜之制造方法。本发明之解决手段为具备:对含有氧化铟与添加元素之溅镀靶材,确认可于特定的成膜温度使非晶质膜成膜,之后,于特定的退火温度借由退火而可以将前述非晶质膜予以结晶化之制程;与于前述特定的成膜温度成膜之非晶质膜的电阻率成为最低之氧分压的最适氧分压不同,而是求出于前述特定的退火温度进行退火而予以结晶化之膜的电阻率成为最低之氧分压,作为成膜氧分压之制程;于此成膜氧分压下借由溅镀而使非晶质膜成膜之制程;以及于前述特定退火温度借由对此非晶质膜进行退火,予以结晶化而形成氧化铟系透明导电膜之制程。