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1. 发明专利

TW200422125A 反射體及其用途失效
简体标题：反射体及其用途
公开(公告)号：TW200422125A
公开(公告)日：2004-11-01
申请号：TW093104410
申请日：2004-02-23
申请人：三井化學股份有限公司 MITSUI CHEMICALS, INC.
发明人：小池勝彥 KOIKE, KATSUHIKO , 島田幸一 SHIMADA, KOICHI , 福田伸 FUKUDA, SHIN
IPC分类号： B23B
CPC分类号： G02B5/0858 , F21V7/22 , G02F1/133553
摘要：本發明係針對使用金屬薄膜層的反射體，以提供具有較習知者高的反射率之反射體為課題經檢討而提出者。具體而言，係以提供顯示出優異的增反射效果之反射體作為課題經檢討而提出者。其結果，發現：藉由將與金屬層(A)相接之低折射率薄膜層(B)的厚度控制於0.7λ／8nL～1.3λ／8nL的範圍中，則具有金屬層(A)／低折射率薄膜層(B)／高折射率薄膜層(C)構成之反射體較習知者在寬廣的波長域中有極優異的反射率。更具體而言，乃可製得顯示較純銀膜更高的反射率且耐久性優異的反射體。本發明之燈反射器、導光板下反射體，由於使用上述之反射體，故使用於各種顯示裝置時，可實現高亮度與清晰的影像。又，本發明之液晶顯示裝置，由於使用上述之反射體，可實現明亮且清晰的影像。
简体摘要：本发明系针对使用金属薄膜层的反射体，以提供具有较习知者高的反射率之反射体为课题经检讨而提出者。具体而言，系以提供显示出优异的增反射效果之反射体作为课题经检讨而提出者。其结果，发现：借由将与金属层(A)相接之低折射率薄膜层(B)的厚度控制于0.7λ／8nL～1.3λ／8nL的范围中，则具有金属层(A)／低折射率薄膜层(B)／高折射率薄膜层(C)构成之反射体较习知者在宽广的波长域中有极优异的反射率。更具体而言，乃可制得显示较纯银膜更高的反射率且耐久性优异的反射体。本发明之灯反射器、导光板下反射体，由于使用上述之反射体，故使用于各种显示设备时，可实现高亮度与清晰的影像。又，本发明之液晶显示设备，由于使用上述之反射体，可实现明亮且清晰的影像。

2. 发明专利

TW200512480A 反射體,其用途及反射體的製造方法 REFLECTOR, USAGE OF RELFECTOR, AND MANUFACTURE, METHOD OF REFLECTOR 失效
简体标题：反射体,其用途及反射体的制造方法 REFLECTOR, USAGE OF RELFECTOR, AND MANUFACTURE, METHOD OF REFLECTOR
公开(公告)号：TW200512480A
公开(公告)日：2005-04-01
申请号：TW093113710
申请日：2004-05-14
申请人：三井化學股份有限公司 MITSUI CHEMICALS, INC.
发明人：島田幸一 SHIMADA, KOICHI , 小池勝彥 KOIKE, KATSUHIKO , 福田伸 FUKUDA, SHIN
IPC分类号： G02B
CPC分类号： G02B5/0858 , G02B6/0031 , G02B6/0055 , Y10S359/90
摘要：本發明之目的是提供反射體，具有高反射率，在該反射體使用有以選自銀、鋁之金屬作為主體之金屬層，和提供使用有該反射體之反射器、導光板下反射體、背照裝置、和液晶顯示裝置。另外，本發明之目的亦提供上述之反射體之製造方法。依照本發明時，提供一種反射體，其構造是在高分子基體上積層高折射率層、低折射率層、和以銀或鋁作為主體之金屬層，利用構成高分子基體表面和內部之XPS可測定之原子大致相同之高分子基體，可以獲得具有反射率比先前技術高之反射體。另外，該反射體可以使用在反射器、導光板下反射體、背照裝置和液晶顯示裝置。上述高分子基體最好可以經由高分子基體和液體之接觸處理而獲得。本發明之反射體之反射率比銀單層或鋁單層之反射體高。因此，當使用本發明之反射體時，可以獲得高反射率之反射器或導光板下反射體。另外，使用本發明之反射體時，可以實現背照裝置和液晶顯示裝置之高亮度化、高效率化。
简体摘要：本发明之目的是提供反射体，具有高反射率，在该反射体使用有以选自银、铝之金属作为主体之金属层，和提供使用有该反射体之反射器、导光板下反射体、背照设备、和液晶显示设备。另外，本发明之目的亦提供上述之反射体之制造方法。依照本发明时，提供一种反射体，其构造是在高分子基体上积层高折射率层、低折射率层、和以银或铝作为主体之金属层，利用构成高分子基体表面和内部之XPS可测定之原子大致相同之高分子基体，可以获得具有反射率比先前技术高之反射体。另外，该反射体可以使用在反射器、导光板下反射体、背照设备和液晶显示设备。上述高分子基体最好可以经由高分子基体和液体之接触处理而获得。本发明之反射体之反射率比银单层或铝单层之反射体高。因此，当使用本发明之反射体时，可以获得高反射率之反射器或导光板下反射体。另外，使用本发明之反射体时，可以实现背照设备和液晶显示设备之高亮度化、高效率化。

3. 发明专利

TWI225227B 顯示器用濾光器,顯示裝置及其製造方法 A DISPLAYING FILTER, A DISPLAY DEVICE AND A MANUFACTURING METHOD THEREOF 失效
简体标题：显示器用滤光器,显示设备及其制造方法 A DISPLAYING FILTER, A DISPLAY DEVICE AND A MANUFACTURING METHOD THEREOF
公开(公告)号：TWI225227B
公开(公告)日：2004-12-11
申请号：TW090102016
申请日：2001-02-01
申请人：三井化學股份有限公司 MITSUI CHEMICALS, INC.
发明人：小池勝彥 KOIKE, KATSUHIKO , 岡村友之 , 北河敏久 , 西鄉宏明 , 福田伸 FUKUDA, SHIN , 山崎文晴 , 西本泰三 NISHIMOTO, TAIZO , 三澤傳美 MISAWA, TSUTAMI
IPC分类号： G09F , G02B , B32B
摘要：顯示器用濾光器係由含有色素之透明粘結層(C)31，高分子薄膜(B)20，透明導電層(D)10，透明粘結層(E)40，及具有反射防止性，硬塗(hard-coat)性，氣體遮斷(gas-barrier)性，靜電防止性，防污性之功能性透明層(A)60順序疊積而成，並粘結於顯示器之顯示部00之上，透明導電層(D)10係經電極50，導電性銅箔粘結帶80接於顯示器之接地端子以行接地。
简体摘要：显示器用滤光器系由含有色素之透明粘结层(C)31，高分子薄膜(B)20，透明导电层(D)10，透明粘结层(E)40，及具有反射防止性，硬涂(hard-coat)性，气体遮断(gas-barrier)性，静电防止性，防污性之功能性透明层(A)60顺序叠积而成，并粘结于显示器之显示部00之上，透明导电层(D)10系经电极50，导电性铜箔粘结带80接于显示器之接地端子以行接地。

4. 发明专利

TWI241932B 反射體及其用途失效
简体标题：反射体及其用途
公开(公告)号：TWI241932B
公开(公告)日：2005-10-21
申请号：TW093104410
申请日：2004-02-23
申请人：三井化學股份有限公司 MITSUI CHEMICALS, INC.
发明人：小池勝彥 KOIKE, KATSUHIKO , 島田幸一 SHIMADA, KOICHI , 福田伸 FUKUDA, SHIN
IPC分类号： B23B
CPC分类号： G02B5/0858 , F21V7/22 , G02F1/133553
摘要：本發明係針對使用金屬薄膜層的反射體，以提供具有較習知者高的反射率之反射體為課題經檢討而提出者。具體而言，係以提供顯示出優異的增反射效果之反射體作為課題經檢討而提出者。
其結果，發現：藉由將與金屬層(A)相接之低折射率薄膜層(B)的厚度控制於0.7λ/8nL~1.3λ/8nL的範圍中，則具有金屬層(A)/低折射率薄膜層(B)/高折射率薄膜層(C)構成之反射體較習知者在寬廣的波長域中有極優異的反射率。更具體而言，乃可製得顯示較純銀膜更高的反射率且耐久性優異的反射體。本發明之燈反射器、導光板下反射體，由於使用上述之反射體，故使用於各種顯示裝置時，可實現高亮度與清晰的影像。又，本發明之液晶顯示裝置，由於使用上述之反射體，可實現明亮且清晰的影像。
简体摘要：本发明系针对使用金属薄膜层的反射体，以提供具有较习知者高的反射率之反射体为课题经检讨而提出者。具体而言，系以提供显示出优异的增反射效果之反射体作为课题经检讨而提出者。其结果，发现：借由将与金属层(A)相接之低折射率薄膜层(B)的厚度控制于0.7λ/8nL~1.3λ/8nL的范围中，则具有金属层(A)/低折射率薄膜层(B)/高折射率薄膜层(C)构成之反射体较习知者在宽广的波长域中有极优异的反射率。更具体而言，乃可制得显示较纯银膜更高的反射率且耐久性优异的反射体。本发明之灯反射器、导光板下反射体，由于使用上述之反射体，故使用于各种显示设备时，可实现高亮度与清晰的影像。又，本发明之液晶显示设备，由于使用上述之反射体，可实现明亮且清晰的影像。

5. 发明专利

TWI237128B 反射體,其用途及反射體的製造方法 REFLECTOR, USAGE OF RELFECTOR, AND MANUFACTURE METHOD OF REFLECTOR 失效
简体标题：反射体,其用途及反射体的制造方法 REFLECTOR, USAGE OF RELFECTOR, AND MANUFACTURE METHOD OF REFLECTOR
公开(公告)号：TWI237128B
公开(公告)日：2005-08-01
申请号：TW093113710
申请日：2004-05-14
申请人：三井化學股份有限公司 MITSUI CHEMICALS, INC.
发明人：島田幸一 SHIMADA, KOICHI , 小池勝彥 KOIKE, KATSUHIKO , 福田伸 FUKUDA, SHIN
IPC分类号： G02B
CPC分类号： G02B5/0858 , G02B6/0031 , G02B6/0055 , Y10S359/90
摘要：本發明之目的是提供反射體，具有高反射率，在該反射體使用有以選自銀、鋁之金屬作為主體之金屬層，和提供使用有該反射體之反射器、導光板下反射體、背照裝置、和液晶顯示裝置。另外，本發明之目的亦提供上述之反射體之製造方法。
依照本發明時，提供一種反射體，其構造是在高分子基體上積層高折射率層、低折射率層、和以銀或鋁作為主體之金屬層，利用構成高分子基體表面和內部之XPS可測定之原子大致相同之高分子基體，可以獲得具有反射率比先前技術高之反射體。另外，該反射體可以使用在反射器、導光板下反射體、背照裝置和液晶顯示裝置。
上述高分子基體最好可以經由高分子基體和液體之接觸處理而獲得。
本發明之反射體之反射率比銀單層或鋁單層之反射體高。因此，當使用本發明之反射體時，可以獲得高反射率之反射器或導光板下反射體。另外，使用本發明之反射體時，可以實現背照裝置和液晶顯示裝置之高亮度化、高效率化。
简体摘要：本发明之目的是提供反射体，具有高反射率，在该反射体使用有以选自银、铝之金属作为主体之金属层，和提供使用有该反射体之反射器、导光板下反射体、背照设备、和液晶显示设备。另外，本发明之目的亦提供上述之反射体之制造方法。依照本发明时，提供一种反射体，其构造是在高分子基体上积层高折射率层、低折射率层、和以银或铝作为主体之金属层，利用构成高分子基体表面和内部之XPS可测定之原子大致相同之高分子基体，可以获得具有反射率比先前技术高之反射体。另外，该反射体可以使用在反射器、导光板下反射体、背照设备和液晶显示设备。上述高分子基体最好可以经由高分子基体和液体之接触处理而获得。本发明之反射体之反射率比银单层或铝单层之反射体高。因此，当使用本发明之反射体时，可以获得高反射率之反射器或导光板下反射体。另外，使用本发明之反射体时，可以实现背照设备和液晶显示设备之高亮度化、高效率化。

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