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    • 2. 发明专利
    • 薄膜電晶体及其製造方法
    • 薄膜电晶体及其制造方法
    • TW295728B
    • 1997-01-11
    • TW084113408
    • 1995-12-15
    • 美國三角研究協會夏普股份有限公司
    • 森田達夫羅.J.馬克納斯
    • H01L
    • H01L29/66757H01L21/28008H01L21/28158H01L29/4908H01L29/66765
    • 本發明提供了一種薄膜電晶體 ( T F T ) 及其製造方法,該 TFT 即使用低溫製程製造,也不會因為應力施加在界面上而受損,且能發揮良好的動作特性。
      本發明之薄膜電晶體具有一絕緣體 (閘極絕緣膜),該絕緣體夾持於閘極電極與多結晶矽半導體之間,該多結晶矽半導體層具有源極區域及吸極區域,且在源極區域與吸極區域間有一通道 ( channel ) 。該絕緣體具有與多結晶矽半導體層接觸的界面氧化層、與閘極電極接觸的覆蓋 (c a p)氧化層、及夾持於界面氧化層與覆蓋氧化層間之氮化層。
    • 本发明提供了一种薄膜晶体管 ( T F T ) 及其制造方法,该 TFT 即使用低温制程制造,也不会因为应力施加在界面上而受损,且能发挥良好的动作特性。 本发明之薄膜晶体管具有一绝缘体 (闸极绝缘膜),该绝缘体夹持于闸极电极与多结晶硅半导体之间,该多结晶硅半导体层具有源极区域及吸极区域,且在源极区域与吸极区域间有一信道 ( channel ) 。该绝缘体具有与多结晶硅半导体层接触的界面氧化层、与闸极电极接触的覆盖 (c a p)氧化层、及夹持于界面氧化层与覆盖氧化层间之氮化层。