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1. 发明专利

TWI277776B 包括一具有自由旋轉度及一具有自由轉移度之微鏡之變焦長度透鏡 VARIABLE FOCAL LENGTH LENS COMPRISING MICROMIRRORS WITH ONE DEGREE OF FREEDOM ROTATION AND ONE DEGREE OF FREEDOM TRANSLATION 失效
简体标题：包括一具有自由旋转度及一具有自由转移度之微镜之变焦长度透镜 VARIABLE FOCAL LENGTH LENS COMPRISING MICROMIRRORS WITH ONE DEGREE OF FREEDOM ROTATION AND ONE DEGREE OF FREEDOM TRANSLATION
公开(公告)号：TWI277776B
公开(公告)日：2007-04-01
申请号：TW094117166
申请日：2005-05-26
申请人：立體播放有限公司 STEREO DISPLAY, INC. , 埃斯壯有限公司 ANGSTROM, INC.
发明人：金泰縣 KIM, TAE HYEON , 白祥鉉 BAEK, SANG HYUNE
IPC分类号： G02B
CPC分类号： G02B26/0833 , G02B26/06 , Y10S359/904
摘要：一種微鏡陣列透鏡，其由一具有自由旋轉度、一具有自由轉移度，及多個致動零件之許多微鏡所組成。作為一反射變焦長度透鏡，微鏡陣列令由一物體之一點所散射之所有光線，具有相同週期相位，且會聚於成像面板之一點。因用於透鏡之操作方法，該等致動零件以靜電地及/或電磁地控制微鏡之位置。藉由在微鏡之下設置一機械結構即可增加該微鏡陣列透鏡之光效率，該機械結構可支持微鏡及致動零件。習知半導體顯微電子技術可消除因電極墊及電線所造成之有效反射區損失。藉由獨立控制各微鏡，該透鏡可校正像差。藉由習知之半導體顯微電子技術即可獨立控制各微鏡。
简体摘要：一种微镜数组透镜，其由一具有自由旋转度、一具有自由转移度，及多个致动零件之许多微镜所组成。作为一反射变焦长度透镜，微镜数组令由一物体之一点所散射之所有光线，具有相同周期相位，且会聚于成像皮肤之一点。因用于透镜之操作方法，该等致动零件以静电地及/或电磁地控制微镜之位置。借由在微镜之下设置一机械结构即可增加该微镜数组透镜之光效率，该机械结构可支持微镜及致动零件。习知半导体显微电子技术可消除因电极垫及电线所造成之有效反射区损失。借由独立控制各微镜，该透镜可校正像差。借由习知之半导体显微电子技术即可独立控制各微镜。

2. 发明专利

TWI266893B 使用微鏡陣列透鏡之射束聚焦及掃描系統 BEAM FOCUSING AND SCANNING SYSTEM USING MICROMIRROR ARRAY LENS 有权
简体标题：使用微镜数组透镜之射束聚焦及扫描系统 BEAM FOCUSING AND SCANNING SYSTEM USING MICROMIRROR ARRAY LENS
公开(公告)号：TWI266893B
公开(公告)日：2006-11-21
申请号：TW094138500
申请日：2005-11-02
申请人：立體播放有限公司 STEREO DISPLAY, INC. , 埃斯壯有限公司 ANGSTROM, INC.
发明人：趙京一 CHO, GYOUNG IL , 金泰縣 TAE HYEON KIM , 徐清洙 SEO, CHEONG SOO
IPC分类号： G02B
CPC分类号： G02B7/32 , G02B5/09 , G02B26/0825 , G02B26/0833 , G02B26/0841 , G02B26/085 , G02B26/105 , G02B27/40
摘要：本發明揭露一種使用微鏡陣列透鏡之射束聚焦及掃描系統(光學系統)，其包括一用以發射光線之光源，及一微鏡陣列透鏡；其中微鏡陣列透鏡包括至少一微鏡，其光耦合至光源，並配置而用以將光線反射至一投射媒體(投射平面)上。光學系統亦包括耦合到至少一微鏡之至少一致動元件，其係配置而用以移動上述之至少一微鏡，以便令該至少一微鏡將光線聚焦於投射媒體上。本發明之優點包括高速變焦與掃描、大幅焦距改變、相位補償、高可靠性與光學效率，以及低耗能與低成本。
简体摘要：本发明揭露一种使用微镜数组透镜之射束聚焦及扫描系统(光学系统)，其包括一用以发射光线之光源，及一微镜数组透镜；其中微镜数组透镜包括至少一微镜，其光耦合至光源，并配置而用以将光线反射至一投射媒体(投射平面)上。光学系统亦包括耦合到至少一微镜之至少一致动组件，其系配置而用以移动上述之至少一微镜，以便令该至少一微镜将光线聚焦于投射媒体上。本发明之优点包括高速变焦与扫描、大幅焦距改变、相位补偿、高可靠性与光学效率，以及低耗能与低成本。

3. 发明专利

TW200628848A 包括微鏡之變焦長度透鏡 VARIABLE FOCAL LENGTH LENS COMPRISING MICROMIRRORS 失效
简体标题：包括微镜之变焦长度透镜 VARIABLE FOCAL LENGTH LENS COMPRISING MICROMIRRORS
公开(公告)号：TW200628848A
公开(公告)日：2006-08-16
申请号：TW094139037
申请日：2005-11-08
申请人：立體播放有限公司 STEREO DISPLAY, INC. , 埃斯壯有限公司 ANGSTROM, INC.
发明人：金泰縣 KIM, TAE HYEON , 白祥鉉 BAEK, SANG HYUNE
IPC分类号： G02B
CPC分类号： G02B26/085 , G02B3/00 , G02B7/32 , G02B17/0694 , G02B26/0833 , G02B26/0841 , G02B26/105 , G02B27/0068 , G02B27/40
摘要：一種變焦長度透鏡，由具有複自由旋轉度及／或複自由轉移度之許多微鏡，及多個致動零件組成。至於透鏡之操作方法，該等致動零件靜電地及／或電磁地控制微鏡之位置。藉由在微鏡之下設置一機械結構以支持微鏡及致動零件，即可增加該微鏡陣列透鏡之光效率。藉由獨立控制各微鏡，透鏡可校正像差。透鏡也可以是期望的任意形狀及／或大小。微鏡配置在一平面或具一預設曲率之曲面中。判定微鏡位置之電極可由高導電材料製造，較佳地是金屬。微鏡之表面材料是由高反射性材料如鋁，銀，及金製造，其塗上多層介電材料或抗氧化劑。
简体摘要：一种变焦长度透镜，由具有复自由旋转度及／或复自由转移度之许多微镜，及多个致动零件组成。至于透镜之操作方法，该等致动零件静电地及／或电磁地控制微镜之位置。借由在微镜之下设置一机械结构以支持微镜及致动零件，即可增加该微镜数组透镜之光效率。借由独立控制各微镜，透镜可校正像差。透镜也可以是期望的任意形状及／或大小。微镜配置在一平面或具一默认曲率之曲面中。判定微镜位置之电极可由高导电材料制造，较佳地是金属。微镜之表面材料是由高反射性材料如铝，银，及金制造，其涂上多层介电材料或抗氧化剂。

4. 发明专利

TWI290236B 變焦長度透鏡及包括個別控制微鏡之透鏡陣列 VARIABLE FOCAL LENGTH LENS AND LENS ARRAY COMPRISING DISCRETELY CONTROLLED MICROMIRRORS 有权
简体标题：变焦长度透镜及包括个别控制微镜之透镜数组 VARIABLE FOCAL LENGTH LENS AND LENS ARRAY COMPRISING DISCRETELY CONTROLLED MICROMIRRORS
公开(公告)号：TWI290236B
公开(公告)日：2007-11-21
申请号：TW094122772
申请日：2005-07-06
申请人：埃斯壯有限公司 ANGSTROM, INC. , 立體播放有限公司 STEREO DISPLAY, INC.
发明人：趙京一 CHO, GYOUNG IL , 金泰縣 KIM, TAE HYEON , 金東佑 GIM, DONG WOO , 徐清洙 SEO, CHEONG SOO
IPC分类号： G02B
CPC分类号： G02B26/0841 , G02B3/14 , G02B5/09 , G02B26/0825 , G02B26/0866
摘要：本發明揭露一種分離控制微鏡陣列透鏡(DCMAL)，其由許多分離控制微鏡(DCM)及多個致動零件組成。該致動零件以靜電方式控制DCM之位置。可藉由在DCM下設置一支持DCM及該等致動零件之機構，以增加一有效的反射區域，而增加該DCMAL之光學效率。習知微電子技術可移除在有效反射區域中因電極片及線路所造成之損失。該透鏡可藉由個別控制DCM而校正像差。習知之微電子技術可個別控制各DCM。該DCM陣列亦可形成具有任意形狀及/或尺寸之透鏡，或形成包括具有任意形狀及/或尺寸之多個透鏡之透鏡陣列。
简体摘要：本发明揭露一种分离控制微镜数组透镜(DCMAL)，其由许多分离控制微镜(DCM)及多个致动零件组成。该致动零件以静电方式控制DCM之位置。可借由在DCM下设置一支持DCM及该等致动零件之机构，以增加一有效的反射区域，而增加该DCMAL之光学效率。习知微电子技术可移除在有效反射区域中因电极片及线路所造成之损失。该透镜可借由个别控制DCM而校正像差。习知之微电子技术可个别控制各DCM。该DCM数组亦可形成具有任意形状及/或尺寸之透镜，或形成包括具有任意形状及/或尺寸之多个透镜之透镜数组。

5. 发明专利

TW200619678A 使用微鏡陣列透鏡之射束聚焦及掃描系統 BEAM FOCUSING AND SCANNING SYSTEM USING MICROMIRROR ARRAY LENS 审中-公开
简体标题：使用微镜数组透镜之射束聚焦及扫描系统 BEAM FOCUSING AND SCANNING SYSTEM USING MICROMIRROR ARRAY LENS
公开(公告)号：TW200619678A
公开(公告)日：2006-06-16
申请号：TW094138500
申请日：2005-11-02
申请人：立體播放有限公司 STEREO DISPLAY, INC. , 埃斯壯有限公司 ANGSTROM, INC.
发明人：趙京一 CHO, GYOUNG IL , 金泰縣 KIM, TAE HYEON , 徐清洙 SEO, CHEONG SOO
IPC分类号： G02B
CPC分类号： G02B7/32 , G02B5/09 , G02B26/0825 , G02B26/0833 , G02B26/0841 , G02B26/085 , G02B26/105 , G02B27/40
摘要：本發明揭露一種使用微鏡陣列透鏡之射束聚焦及掃描系統(光學系統)，其包括一用以發射光線之光源，及一微鏡陣列透鏡；其中微鏡陣列透鏡包括至少一微鏡，其光耦合至光源，並配置而用以將光線反射至一投射媒體(投射平面)上。光學系統亦包括耦合到至少一微鏡之至少一致動元件，其係配置而用以移動上述之至少一微鏡，以便令該至少一微鏡將光線聚焦於投射媒體上。本發明之優點包括高速變焦與掃描、大幅焦距改變、相位補償、高可靠性與光學效率，以及低耗能與低成本。
简体摘要：本发明揭露一种使用微镜数组透镜之射束聚焦及扫描系统(光学系统)，其包括一用以发射光线之光源，及一微镜数组透镜；其中微镜数组透镜包括至少一微镜，其光耦合至光源，并配置而用以将光线反射至一投射媒体(投射平面)上。光学系统亦包括耦合到至少一微镜之至少一致动组件，其系配置而用以移动上述之至少一微镜，以便令该至少一微镜将光线聚焦于投射媒体上。本发明之优点包括高速变焦与扫描、大幅焦距改变、相位补偿、高可靠性与光学效率，以及低耗能与低成本。

6. 发明专利

TW200608121A 高速自動聚焦系統、成像裝置及其方法 HIGH-SPEED AUTOMATIC FOCUSING SYSTEM, IMAGE DEVICE AND ITS FOCUSING METHOD 审中-公开
简体标题：高速自动聚焦系统、成像设备及其方法 HIGH-SPEED AUTOMATIC FOCUSING SYSTEM, IMAGE DEVICE AND ITS FOCUSING METHOD
公开(公告)号：TW200608121A
公开(公告)日：2006-03-01
申请号：TW094122774
申请日：2005-07-06
申请人：埃斯壯有限公司 ANGSTROM, INC. , 立體播放有限公司 STEREO DISPLAY, INC.
发明人：趙京一 CHO, GYOUNG IL , 金泰縣 KIM, TAE HYEON , 金東佑 GIM, DONG WOO , 徐清洙 SEO, CHEONG SOO
IPC分类号： G03B
CPC分类号： G02B7/36 , G02B26/0833 , G03B13/00
摘要：本發明揭示一種自動聚焦系統、成像裝置及其方法，包括：至少一微鏡陣列透鏡，一影像感測器，及一信號處理器。該微鏡陣列透鏡令一物體成像，且將該影像聚焦在該影像感測器上。該影像感測器可接收光線且將該光線之光能轉變為一電子信號形式之電能。該影像感測器傳送該電子信號至該信號處理器，該電子信號帶有關於該物體之影像資料。該信號處理器接收該電子信號，比較該影像資料之影像品質與其聚焦標準，及產生一控制信號，而將其傳送至該微鏡陣列透鏡，以調整該微鏡陣列透鏡之焦距。這個重覆之程序會一直持續，直到該影像資料之品質符合該聚焦標準，且該程序係在人類肉眼之後像速度以內完成。
简体摘要：本发明揭示一种自动聚焦系统、成像设备及其方法，包括：至少一微镜数组透镜，一影像传感器，及一信号处理器。该微镜数组透镜令一物体成像，且将该影像聚焦在该影像传感器上。该影像传感器可接收光线且将该光线之光能转变为一电子信号形式之电能。该影像传感器发送该电子信号至该信号处理器，该电子信号带有关于该物体之影像数据。该信号处理器接收该电子信号，比较该影像数据之影像品质与其聚焦标准，及产生一控制信号，而将其发送至该微镜数组透镜，以调整该微镜数组透镜之焦距。这个重复之进程会一直持续，直到该影像数据之品质符合该聚焦标准，且该进程系在人类肉眼之后像速度以内完成。

7. 发明专利

TW200602681A 微鏡陣列透鏡之陣列 ARRAY OF MICROMIRROR ARRAY LENSES 失效
简体标题：微镜数组透镜之数组 ARRAY OF MICROMIRROR ARRAY LENSES
公开(公告)号：TW200602681A
公开(公告)日：2006-01-16
申请号：TW094117167
申请日：2005-05-26
申请人：立體播放有限公司 STEREO DISPLAY, INC. , 埃斯壯有限公司 ANGSTROM, INC.
发明人：金泰縣 KIM, TAE HYEON , 白祥鉉 BAEK, SANG HYUNE
IPC分类号： G02B
CPC分类号： G02B26/0833
摘要：本發明揭示一種微鏡陣列透鏡之陣列。該微鏡陣列透鏡由許多微鏡，及多個致動零件所組成。各微鏡陣列透鏡係具有高速焦距改變之變焦長度透鏡。該透鏡可依需求而具有任意形狀及／或大小及所需之任意光學軸，且可藉由獨立控制各微鏡而校正像差。依習知之顯微電子技術，各微鏡之獨立控制係可行。該等致動零件以靜電地及／或電磁地控制微鏡之位置。藉由在微鏡之下設置一機械結構，即可增加該微鏡陣列透鏡之光效率，該機械結構可支持微鏡及致動零件。習知之半導體顯微電子技術消除因電極墊及電線所造成之有效反射區損失。
简体摘要：本发明揭示一种微镜数组透镜之数组。该微镜数组透镜由许多微镜，及多个致动零件所组成。各微镜数组透镜系具有高速焦距改变之变焦长度透镜。该透镜可依需求而具有任意形状及／或大小及所需之任意光学轴，且可借由独立控制各微镜而校正像差。依习知之显微电子技术，各微镜之独立控制系可行。该等致动零件以静电地及／或电磁地控制微镜之位置。借由在微镜之下设置一机械结构，即可增加该微镜数组透镜之光效率，该机械结构可支持微镜及致动零件。习知之半导体显微电子技术消除因电极垫及电线所造成之有效反射区损失。

8. 发明专利

TWI311204B 具有自由表面的微鏡陣列鏡頭 MICROMIRROR ARRAY LENS WITH FREE SURFACE 有权
简体标题：具有自由表面的微镜数组镜头 MICROMIRROR ARRAY LENS WITH FREE SURFACE
公开(公告)号：TWI311204B
公开(公告)日：2009-06-21
申请号：TW095127569
申请日：2006-07-28
申请人：埃斯壯有限公司 ANGSTROM, INC. , 立體播放有限公司 STEREO DISPLAY, INC.
发明人：趙京一 CHO, GYOUNG IL , 徐清洙 SEO, CHEONG SOO
IPC分类号： G02B
CPC分类号： G02B26/0833
摘要：一種微鏡陣列透鏡包括複數個微鏡,且藉由控制該等微鏡之旋轉及/或平移仿造一預定自由表面。由控制電路控制、由一機械結構支撐微鏡,且微鏡包括一反射表面。藉由控制該等微鏡之旋轉及/或平移,來改變該鏡頭之該預定自由表面。在一或多個同心圓中排佈該等微鏡以形成該鏡頭。微鏡具有扇形、六邊形、矩形、正方形,或三角形之外形。微鏡之反射表面實質上係平的。藉由採用半導體微電子技術,將控制電路構造在該等微鏡之下。由靜電力及/或電磁力致動該等微鏡。微鏡之該反射表面係由具有較高反射率之材料製成。該鏡頭可用於成像裝置、視訊監視相機、攝影機,等。
简体摘要：一种微镜数组透镜包括复数个微镜,且借由控制该等微镜之旋转及/或平移仿造一预定自由表面。由控制电路控制、由一机械结构支撑微镜,且微镜包括一反射表面。借由控制该等微镜之旋转及/或平移,来改变该镜头之该预定自由表面。在一或多个同心圆中排布该等微镜以形成该镜头。微镜具有扇形、六边形、矩形、正方形,或三角形之外形。微镜之反射表面实质上系平的。借由采用半导体微电子技术,将控制电路构造在该等微镜之下。由静电力及/或电磁力致动该等微镜。微镜之该反射表面系由具有较高反射率之材料制成。该镜头可用于成像设备、视频监视相机、摄影机,等。

9. 发明专利

TWI307458B 具多層位置之分離控制微鏡及其陣列 DISCRETELY CONTROLLED MICROMIRROR WITH MULTI-LEVEL POSITION AND ITS ARRAY THEREOF 失效
简体标题：具多层位置之分离控制微镜及其数组 DISCRETELY CONTROLLED MICROMIRROR WITH MULTI-LEVEL POSITION AND ITS ARRAY THEREOF
公开(公告)号：TWI307458B
公开(公告)日：2009-03-11
申请号：TW094120092
申请日：2005-06-17
申请人：立體播放有限公司 STEREO DISPLAY, INC. , 埃斯壯有限公司 ANGSTROM, INC.
发明人：金東佑 DONG WOO GIM , 徐清洙 CHEONG SOO SEO , 趙京一 GYOUNG IL CHO , 金泰縣 KIM, TAE HYEON
IPC分类号： G03H , G02B
CPC分类号： G02B26/0841
摘要：本發明揭露一種具有二型式之分離控制微鏡(DCM),其可克服習用靜電微鏡之缺點。第一型微鏡係可變支架分離控制微鏡(VSDCM),其位移範圍較習用靜電微鏡更大。該VSDCM之位移準確優於習用靜電微鏡,且其低驅動電壓與IC零件相容。第二型DCM係分段電極分離控制微鏡(SEDCM),其具有與習用靜電微鏡相同之缺點。然SEDCM與習知顯微電子技術相容。
简体摘要：本发明揭露一种具有二型式之分离控制微镜(DCM),其可克服习用静电微镜之缺点。第一型微镜系可变支架分离控制微镜(VSDCM),其位移范围较习用静电微镜更大。该VSDCM之位移准确优于习用静电微镜,且其低驱动电压与IC零件兼容。第二型DCM系分段电极分离控制微镜(SEDCM),其具有与习用静电微镜相同之缺点。然SEDCM与习知显微电子技术兼容。

10. 发明专利

TWI277764B 具有一自由旋轉度微鏡之變焦長度透鏡 VARIABLE FOCAL LENGTH LENS COMPRISING MICROMIRRORS WITH ONE DEGREE OF FREEDOM ROTATION 失效
简体标题：具有一自由旋转度微镜之变焦长度透镜 VARIABLE FOCAL LENGTH LENS COMPRISING MICROMIRRORS WITH ONE DEGREE OF FREEDOM ROTATION
公开(公告)号：TWI277764B
公开(公告)日：2007-04-01
申请号：TW094116989
申请日：2005-05-25
申请人：立體播放有限公司 STEREO DISPLAY, INC. , 埃斯壯有限公司 ANGSTROM, INC.
发明人：金泰縣 KIM, TAE HYEON , 白祥鉉 BAEK, SANG HYUNE
IPC分类号： G02B
CPC分类号： G02B5/09 , G02B26/0825
摘要：本發明揭示一種變焦長度透鏡，包括：具有一自由旋轉度之微鏡；其中該透鏡藉由許多微鏡及多個致動零件所組成，該等具有自由旋轉度之微鏡所組成之陣列令所有由一物體之一點所散射之光線，藉由使用微鏡之旋轉，而會聚於成像面板之一點，該微鏡之功能與鏡子相同；因此，該微鏡之反射面由金屬，金屬化合物，多層介電材料，或其他具有高反射性之材料所製成；該等致動零件可以靜電力及/或電磁力，控制微鏡之旋轉移位；該等微鏡陣列透鏡之光效率可增加，藉由位於微鏡下設置一可支持複數個微鏡之機械結構及多個致動零件；習知CMOS技術可消除因電極墊及電線所導致之有效反射區損失。
简体摘要：本发明揭示一种变焦长度透镜，包括：具有一自由旋转度之微镜；其中该透镜借由许多微镜及多个致动零件所组成，该等具有自由旋转度之微镜所组成之数组令所有由一物体之一点所散射之光线，借由使用微镜之旋转，而会聚于成像皮肤之一点，该微镜之功能与镜子相同；因此，该微镜之反射面由金属，金属化合物，多层介电材料，或其他具有高反射性之材料所制成；该等致动零件可以静电力及/或电磁力，控制微镜之旋转移位；该等微镜数组透镜之光效率可增加，借由位于微镜下设置一可支持复数个微镜之机械结构及多个致动零件；习知CMOS技术可消除因电极垫及电线所导致之有效反射区损失。

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