专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

TW200835901A 光彈性測定方法及其裝置 METHOD AND DEVICE OF MEASURING OPTICAL ELASTICITY 审中-公开
简体标题：光弹性测定方法及其设备 METHOD AND DEVICE OF MEASURING OPTICAL ELASTICITY
公开(公告)号：TW200835901A
公开(公告)日：2008-09-01
申请号：TW096146655
申请日：2007-12-07
申请人：學校法人慶應義塾 KEIO UNIVERSITY , 東麗工程股份有限公司 TORAY ENGINEERING CO., LTD.
发明人：三井隆久 MITSUI, TAKAHISA , 工藤重樹 KUDO, SHIGEKI , 鈴木一嘉 SUZUKI, KAZUYOSHI , 松村淳一 MATSUMURA, JUNICHI , 木谷吉孝 KITANI, YOSHITAKA
IPC分类号： G01B
CPC分类号： G01L1/241
摘要：使朝向測定對象物W照射並反射回來的反射光透射BDP12,藉由作用在玻璃基板W1、W2的應力,分離成偏光狀態因雙折射而發生變化的第2偏光B、及返回初期光路徑的第1偏光A。使該第2偏光B別外通過針孔15,而在第2光二極體9b僅接受由預定焦點面反射回來的第2偏光B。此外,使光學系統單元5繞光軸旋轉,按每一預定旋轉角進行相同處理,運算處理部24根據所取得之第2偏光的一群光强度値,求取作用於預定之玻璃基板的主應力的差及其方向。
简体摘要：使朝向测定对象物W照射并反射回来的反射光透射BDP12,借由作用在玻璃基板W1、W2的应力,分离成偏光状态因双折射而发生变化的第2偏光B、及返回初期光路径的第1偏光A。使该第2偏光B别外通过针孔15,而在第2光二极管9b仅接受由预定焦点面反射回来的第2偏光B。此外,使光学系统单元5绕光轴旋转,按每一预定旋转角进行相同处理,运算处理部24根据所取得之第2偏光的一群光强度値,求取作用于预定之玻璃基板的主应力的差及其方向。

2. 发明专利

TW200827281A 取物裝置及其之控制方法审中-公开
简体标题：取物设备及其之控制方法
公开(公告)号：TW200827281A
公开(公告)日：2008-07-01
申请号：TW096123090
申请日：2007-06-26
申请人：學校法人慶應義塾 KEIO UNIVERSITY , 村田機械股份有限公司 MURATA KIKAI KABUSHIKI KAISHA
发明人：吉田和夫 KAZUO YOSHIDA , 村上武 MURAKAMI, TAKESHI
IPC分类号： B66C
摘要：計測滑動叉之前端加速度及昇降台之高度位置,將含有昇降台、滑動叉、以及配重在內之系之狀態量視為X。針對滑動叉之前端加速度及昇降台位置之推算値為y、該等計測値之誤差為(r-y)、卡氏篩選器(Kalman filter)為L,控制輸入為U,行列為A、B、C、D、以及時間經過之增益向量為K,藉由dX/dt=AX+BU+L(r-y);y=CX+DU;u=KX推算X、y。時間經過之增益K,於初期加重滑動叉之制振之重要性,後半則加重昇降台位置之重要性。可以縮小取物時之滑動叉之振動。
简体摘要：计测滑动叉之前端加速度及升降台之高度位置,将含有升降台、滑动叉、以及配重在内之系之状态量视为X。针对滑动叉之前端加速度及升降台位置之推算値为y、该等计测値之误差为(r-y)、卡氏筛选器(Kalman filter)为L,控制输入为U,行列为A、B、C、D、以及时间经过之增益矢量为K,借由dX/dt=AX+BU+L(r-y);y=CX+DU;u=KX推算X、y。时间经过之增益K,于初期加重滑动叉之制振之重要性,后半则加重升降台位置之重要性。可以缩小取物时之滑动叉之振动。

3. 发明专利

TW200808630A 移動體及其控制方法审中-公开
简体标题：移动体及其控制方法
公开(公告)号：TW200808630A
公开(公告)日：2008-02-16
申请号：TW096124491
申请日：2007-07-05
申请人：學校法人慶應義塾 KEIO UNIVERSITY , 村田機械股份有限公司 MURATA KIKAI KABUSHIKI KAISHA
发明人：吉田和夫 KAZUO YOSHIDA , 村上武 MURAKAMI, TAKESHI
IPC分类号： B65G
摘要：構成在塔式起重機2的昇降台4上設置讀入高度位置所用的線性感測器10,而且在滑動叉的前端設置加速度感測器26。在移載時的昇降台4的昇降控制,以感測器10,26的訊號來修正抑制滑動叉的搖動的基本指令,施以2自由度的强固控制(Robust Control)。效果一面抑制臂部前端的振動,一面在短時間內可移載。
简体摘要：构成在塔式起重机2的升降台4上设置读入高度位置所用的线性传感器10,而且在滑动叉的前端设置加速度传感器26。在移载时的升降台4的升降控制,以传感器10,26的信号来修正抑制滑动叉的摇动的基本指令,施以2自由度的强固控制(Robust Control)。效果一面抑制臂部前端的振动,一面在短时间内可移载。

4. 发明专利

TW200603557A 電子電路审中-公开
简体标题：电子电路
公开(公告)号：TW200603557A
公开(公告)日：2006-01-16
申请号：TW094118381
申请日：2005-06-03
申请人：學校法人慶應義塾 KEIO UNIVERSITY
发明人：黑田忠廣 KURODA, TADAHIRO , 溝口大介 MIZOGUCHI, DAISUKE , 三浦典之 MIURA, NORIYUKI , 櫻井貴康 SAKURAI, TAKAYASU , 川口博 KAWAGUCHI, HIROSHI
IPC分类号： H04B
CPC分类号： H04B5/005
摘要：以感應性耦合來實現基板間通訊的情況下，將提供一種可抑制沒有送訊訊號之速訊線圈對通訊之干擾的電子電路，做為課題；其中於晶片未送訊時，訊號Tx／Bar(Rx)為低位準，而NOT12輸出為高位準，NAND13輸出為高位準，NOR14輸出為低位準，關閉電晶體T3、T4，使送訊線圈15為斷路狀態。因此，不會有此送訊線圈15干擾磁場變化，而使收訊訊號衰減之情事。
简体摘要：以感应性耦合来实现基板间通信的情况下，将提供一种可抑制没有送讯信号之速讯线圈对通信之干扰的电子电路，做为课题；其中于芯片未送讯时，信号Tx／Bar(Rx)为低位准，而NOT12输出为高位准，NAND13输出为高位准，NOR14输出为低位准，关闭晶体管T3、T4，使送讯线圈15为断路状态。因此，不会有此送讯线圈15干扰磁场变化，而使收讯信号衰减之情事。

5. 发明专利

TW200914790A 光彈性測定方法及其裝置 PHOTOELASTIC MEASURING METHOD AND APPARATUS 审中-公开
简体标题：光弹性测定方法及其设备 PHOTOELASTIC MEASURING METHOD AND APPARATUS
公开(公告)号：TW200914790A
公开(公告)日：2009-04-01
申请号：TW097127882
申请日：2008-07-23
申请人：學校法人慶應義塾 KEIO UNIVERSITY , 東麗工程股份有限公司 TORAY ENGINEERING CO., LTD.
发明人：三井隆久 MITSUI, TAKAHISA , 工藤重樹 KUDO, SHIGEKI , 金澤昌廣 KANAZAWA, MASAHIRO , 村田浩之 MURATA, HIROYUKI
IPC分类号： G01B
摘要：將以水晶賦予既定之轉角的偏光照射於測定對象物,並以光彈性調變器對所反射回來的反射光施加調變,再以BDP(Beam Displacing Prism)分離成屬起始光之第1偏光和包含有彈性信號的第2偏光。以繞射光柵將此第2偏光分光,並以一維的第1線感測器檢測。從所檢測之光譜信號僅抽出交流成分,並求得雙折射之變化量,再由其分布求得主應力之差與其方向及該主應力之差係壓縮或拉伸。
简体摘要：将以水晶赋予既定之转角的偏光照射于测定对象物,并以光弹性调制器对所反射回来的反射光施加调制,再以BDP(Beam Displacing Prism)分离成属起始光之第1偏光和包含有弹性信号的第2偏光。以绕射光栅将此第2偏光分光,并以一维的第1线传感器检测。从所检测之光谱信号仅抽出交流成分,并求得双折射之变化量,再由其分布求得主应力之差与其方向及该主应力之差系压缩或拉伸。

6. 发明专利

TW200803894A 治療前列腺癌之藥劑 PROSTATE CANCER THERAPEUTIC AGENTS 审中-公开
简体标题：治疗前列腺癌之药剂 PROSTATE CANCER THERAPEUTIC AGENTS
公开(公告)号：TW200803894A
公开(公告)日：2008-01-16
申请号：TW095143540
申请日：2006-11-24
申请人：學校法人慶應義塾 KEIO UNIVERSITY , 中外製藥股份有限公司 CHUGAI SEIYAKU KABUSHIKI KAISHA
发明人：中島淳 NAKASHIMA, JUN , 金尾健人 KANAO, KENT
IPC分类号： A61K , C07K , A61P
CPC分类号： C07K16/2866 , A61K2039/505
摘要：本發明研究抗介白素-6受體抗體(anti-IL-6receptorantibodies)在抵抗在前列腺癌上的抗腫瘤效力(antitumoreffects)。結果顯示抗介白素-6受體抗體在體內與體外皆具有抵抗前列腺癌的抗腫瘤效力。同時也顯示人化PM-1抗體(hPM1)的抗腫瘤效力係經由介白素-6受體促成。
简体摘要：本发明研究抗介白素-6受体抗体(anti-IL-6receptorantibodies)在抵抗在前列腺癌上的抗肿瘤效力(antitumoreffects)。结果显示抗介白素-6受体抗体在体内与体外皆具有抵抗前列腺癌的抗肿瘤效力。同时也显示人化PM-1抗体(hPM1)的抗肿瘤效力系经由介白素-6受体促成。

7. 发明专利

TW200710201A 微粒子及使用其之紅色螢光變換媒介失效
简体标题：微粒子及使用其之红色萤光变换媒介
公开(公告)号：TW200710201A
公开(公告)日：2007-03-16
申请号：TW095117499
申请日：2006-05-17
申请人：學校法人慶應義塾 KEIO UNIVERSITY , 出光興產股份有限公司 IDEMITSU KOSAN CO., LTD.
发明人：磯部徹彥 ISOBE, TETSUHIKO , 粕谷亮 KASUYA, RYO , 片野淳一 KATANO, JUNICHI
IPC分类号： C09K , C09D
CPC分类号： C09K11/7708 , C09D11/50 , C09K11/7736 , Y10T428/2982
摘要：本發明係提供一種微粒子,其特徵為至少含有以下述化學式表示,且數平均粒徑為100nm以下之金屬氧化物,AxLyMzOu(式中,A為選自Li、Na、K、Cs、Rb之鹼金屬或銀,L為選自Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu之三價之稀土類,M為W、Mo、Cr、Mn、Ru、Os、Ir或Re,x為0~2,y為0.5~2,z為0.5~4,u為5~10。)
095117499-p01.bmp
简体摘要：本发明系提供一种微粒子,其特征为至少含有以下述化学式表示,且数平均粒径为100nm以下之金属氧化物,AxLyMzOu(式中,A为选自Li、Na、K、Cs、Rb之碱金属或银,L为选自Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu之三价之稀土类,M为W、Mo、Cr、Mn、Ru、Os、Ir或Re,x为0~2,y为0.5~2,z为0.5~4,u为5~10。) 095117499-p01.bmp

8. 发明专利

TW200838125A 放大電路及無線通信裝置 AMPLIFYING CIRCUIT AND WIRELESS COMMUNICATION DEVICE 审中-公开
简体标题：放大电路及无线通信设备 AMPLIFYING CIRCUIT AND WIRELESS COMMUNICATION DEVICE
公开(公告)号：TW200838125A
公开(公告)日：2008-09-16
申请号：TW097101872
申请日：2008-01-18
申请人：住友電氣工業股份有限公司 SUMITOMO ELECTRIC INDUSTRIES, LTD. , 學校法人慶應義塾 KEIO UNIVERSITY
发明人：福岡隆 FUKUOKA, TAKASHI , 佐野昭 SANO, AKIRA
IPC分类号： H03F
CPC分类号： H03F1/3241 , H03F1/0222
摘要：本發明尋求效率最大、誤差最小之電源調變特性。本發明具備:放大器22;電源調變部31,其係依據放大器輸入信號u(n),決定賦予放大器22之電源調變電壓v(n);失真補償部30,其係依據放大器模型32a,進行放大器22之失真補償;及控制部32,其係控制電源調變部31及失真補償部30;控制部32以依據放大器22之輸出信號z(n)及輸入信號U(n)以及賦予放大器22之電源調變電壓v(n),而認定放大器模型32a之方式構成,且以依據放大器模型32a,而控制用於決定電源調變電壓v(n)的參數之方式構成。
简体摘要：本发明寻求效率最大、误差最小之电源调制特性。本发明具备:放大器22;电源调制部31,其系依据放大器输入信号u(n),决定赋予放大器22之电源调制电压v(n);失真补偿部30,其系依据放大器模型32a,进行放大器22之失真补偿;及控制部32,其系控制电源调制部31及失真补偿部30;控制部32以依据放大器22之输出信号z(n)及输入信号U(n)以及赋予放大器22之电源调制电压v(n),而认定放大器模型32a之方式构成,且以依据放大器模型32a,而控制用于决定电源调制电压v(n)的参数之方式构成。

9. 发明专利

TW200813393A 光彈性測定方法及其裝置 PHOTOELASTIC MEASURING METHOD AND APPARATUS 审中-公开
简体标题：光弹性测定方法及其设备 PHOTOELASTIC MEASURING METHOD AND APPARATUS
公开(公告)号：TW200813393A
公开(公告)日：2008-03-16
申请号：TW096126113
申请日：2007-07-18
申请人：學校法人慶應義塾 KEIO UNIVERSITY , 東麗工程股份有限公司 TORAY ENGINEERING CO., LTD.
发明人：三井隆久 MITSUI, TAKAHISA , 鈴木一嘉 SUZUKI, KAZUYOSHI , 松村淳一 MATSUMURA, JUNICHI
IPC分类号： G01B
CPC分类号： G01N21/23 , G01M11/08
摘要：本發明係藉由偏光板6改變成直線偏光,而將此直線偏光在第2分光器分別使其偏光分離成正交的測定光與參考光,並透過測定對象物W在既定層的背面反射回來的測定光之中,藉由偏光狀態變化而產生與第1方向正交之第2方向的偏光成分,與在參考鏡反射回來之第2方向的直線偏光,能使通過同一光路在第2分光器滙集而發生干涉,並將此干涉光朝偏極計輸出。而求出在偏極計除去直流成分的干涉光强度値,又從此光强度値求取應力所作用之測定對象物W各層的雙折射變化量資訊及主應力的差和角度。
简体摘要：本发明系借由偏光板6改变成直线偏光,而将此直线偏光在第2分光器分别使其偏光分离成正交的测定光与参考光,并透过测定对象物W在既定层的背面反射回来的测定光之中,借由偏光状态变化而产生与第1方向正交之第2方向的偏光成分,与在参考镜反射回来之第2方向的直线偏光,能使通过同一光路在第2分光器汇集而发生干涉,并将此干涉光朝偏极计输出。而求出在偏极计除去直流成分的干涉光强度値,又从此光强度値求取应力所作用之测定对象物W各层的双折射变化量信息及主应力的差和角度。

10. 发明专利

TW200627624A 電子電路审中-公开
简体标题：电子电路
公开(公告)号：TW200627624A
公开(公告)日：2006-08-01
申请号：TW094128992
申请日：2005-08-24
申请人：學校法人慶應義塾 KEIO UNIVERSITY
发明人：黑田忠廣 KURODA, TADAHIRO , 溝口大介 MIZOGUCHI, DAISUKE , 三浦典之 MIURA, NORIYUKI
IPC分类号： H01L
CPC分类号： H01L25/0657 , H01L23/48 , H01L23/645 , H01L2224/32145 , H01L2225/06513 , H01L2225/06527
摘要：本發明之技術課題在於提供一種於藉由電磁耦合實現基板間通訊情況下，即便使複數通訊頻道鄰近而並聯排列，仍可將串音的發生減小到實際上可忽視程度的電子電路，於下頻道設置送訊線圈11，於上頻道設置收訊線圈12，於晶片間的距離為X，通訊頻道間的距離(亦即線圈中心間的水平距離)為Y時，在既定Y0中，存在有送訊線圈11所引起的收訊線圈12內的磁通密度成為0的位置。亦即，由於Y若小，即發生大的串音，Y若大，即發生符號相反的小串音，故於其途中一定存在有在收訊線圈12內磁通密度B積分值成為0的位置。按照原理，於此位置不會發生串音。
简体摘要：本发明之技术课题在于提供一种于借由电磁耦合实现基板间通信情况下，即便使复数通信频道邻近而并联排列，仍可将串音的发生减小到实际上可忽视程度的电子电路，于下频道设置送讯线圈11，于上频道设置收讯线圈12，于芯片间的距离为X，通信频道间的距离(亦即线圈中心间的水平距离)为Y时，在既定Y0中，存在有送讯线圈11所引起的收讯线圈12内的磁通密度成为0的位置。亦即，由于Y若小，即发生大的串音，Y若大，即发生符号相反的小串音，故于其途中一定存在有在收讯线圈12内磁通密度B积分值成为0的位置。按照原理，于此位置不会发生串音。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式