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82. 发明专利

TW201302326A 粒狀體分選裝置审中-公开
简体标题：粒状体分选设备
公开(公告)号：TW201302326A
公开(公告)日：2013-01-16
申请号：TW101105853
申请日：2012-02-22
申请人：久保田股份有限公司 , KUBOTA CORPORATION
发明人：池田直人 , IKEDA, MASATO , 山原成晃 , YAMAHARA, SHIGEAKI , 松井昭男 , MATSUI, AKIO
IPC分类号： B07C5/342 , G01N21/85
摘要：提供一種：成為能夠在作業之繁雜性為少的狀態下，而以良好精確度來進行對於是否為成為分離對象之粒狀體一事作判別的粒狀體判別處理之粒狀體分選裝置。具備有：在從粒狀體之移送方向作觀察時，相對於計測對象場所而位置於其中一側處並且受光反射光之其中一側之反射光受光手段(5A)、和相對於計測對象場所(J)而位置於另外一側處並且受光反射光之另外一側之反射光受光手段(5B)、和位置在計測對象場所(J)之另外一側處並且受光透過光之透過光受光手段(5C)、和對於反射光計測場所(J1)進行照明之其中一側照明手段(4A)、以及在從粒狀體之移送方向作觀察時，相對於計測對象場所(J)而位置於另外一側處並且對於反射光計測場所進行照明之另外一側照明手段(4B)，根據其中一側之反射光受光手段(5A)、另外一側之反射光受光手段(5B)、以及透過光受光手段(5C)，該些之各別的檢測資訊，來實行粒狀體判別處理。
简体摘要：提供一种：成为能够在作业之繁杂性为少的状态下，而以良好精确度来进行对于是否为成为分离对象之粒状体一事作判别的粒状体判别处理之粒状体分选设备。具备有：在从粒状体之移送方向作观察时，相对于计测对象场所而位置于其中一侧处并且受光反射光之其中一侧之反射光受光手段(5A)、和相对于计测对象场所(J)而位置于另外一侧处并且受光反射光之另外一侧之反射光受光手段(5B)、和位置在计测对象场所(J)之另外一侧处并且受光透过光之透过光受光手段(5C)、和对于反射光计测场所(J1)进行照明之其中一侧照明手段(4A)、以及在从粒状体之移送方向作观察时，相对于计测对象场所(J)而位置于另外一侧处并且对于反射光计测场所进行照明之另外一侧照明手段(4B)，根据其中一侧之反射光受光手段(5A)、另外一侧之反射光受光手段(5B)、以及透过光受光手段(5C)，该些之各别的检测信息，来实行粒状体判别处理。

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