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51. 发明专利

TW201830406A 半導體裝置审中-公开
简体标题：半导体设备
公开(公告)号：TW201830406A
公开(公告)日：2018-08-16
申请号：TW106142377
申请日：2017-12-04
申请人：韓商三星電子股份有限公司 , SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：任明均 , YIM, MYUNG KYOON , 全浩淵 , JEON, HO YEON , 韓相佑 , HAN, SANG WOO , 申宅均 , SHIN, TAEK KYUN , 李愚星 , LEE, WOO SUNG , 崔承鉉 , CHOI, SEUNG HYUN
IPC分类号： G11C29/08 , G01R31/3181
摘要：本發明提供一種半導體裝置及半導體系統。一種半導體裝置包括：監測電路，所述監測電路從電源管理積體電路（PMIC）接收第一操作電壓及與所述第一操作電壓不同的第二操作電壓並監測系統晶片（SoC）以所述第一操作電壓及所述第二操作電壓中的每一者進行使用的持續時間；處理電路，基於來自所述系統晶片以所述第一操作電壓及所述第二操作電壓中的每一者進行使用的所述持續時間的預定權重資訊來計算正規化值；以及電壓電路，通過將所述正規化值與預定值進行比較來判斷是否增大所述系統晶片的操作電壓。
简体摘要：本发明提供一种半导体设备及半导体系统。一种半导体设备包括：监测电路，所述监测电路从电源管理集成电路（PMIC）接收第一操作电压及与所述第一操作电压不同的第二操作电压并监测系统芯片（SoC）以所述第一操作电压及所述第二操作电压中的每一者进行使用的持续时间；处理电路，基于来自所述系统芯片以所述第一操作电压及所述第二操作电压中的每一者进行使用的所述持续时间的预定权重信息来计算范式值；以及电压电路，通过将所述范式值与预定值进行比较来判断是否增大所述系统芯片的操作电压。

52. 实用新型

TWM561908U 晶粒功能檢測裝置有权
简体标题：晶粒功能检测设备
公开(公告)号：TWM561908U
公开(公告)日：2018-06-11
申请号：TW107202634
申请日：2018-02-26
申请人：李俊豪 , LI, CHUN-HAO
发明人：李俊豪 , LI, CHUN-HAO
IPC分类号： H01L21/66 , G01B11/00 , G01R31/3181

53. 发明专利

TWI557624B 觸控檢測裝置、附觸控檢測功能之顯示裝置、及電子機器有权
简体标题：触摸检测设备、附触摸检测功能之显示设备、及电子机器
公开(公告)号：TWI557624B
公开(公告)日：2016-11-11
申请号：TW103133799
申请日：2014-09-29
申请人：日本顯示器股份有限公司 , JAPAN DISPLAY INC.
发明人：田中俊彥 , TANAKA, TOSHIHIKO
IPC分类号： G06F3/044 , G01R31/3181
CPC分类号： G06F3/044 , G06F3/0416 , G06F2203/04108 , G09G3/3648 , G09G3/3696 , G09G2310/0264 , G09G2354/00

54. 发明专利

TWI546530B 半導體元件壓力測試裝置及其測試設備有权
简体标题：半导体组件压力测试设备及其测试设备
公开(公告)号：TWI546530B
公开(公告)日：2016-08-21
申请号：TW104118101
申请日：2015-06-04
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：丁偉修 , TING, WEI HSIU , 陳文如 , CHEN, WEN JU
IPC分类号： G01N17/00 , G01R31/3181

55. 发明专利

TW201627860A 晶粒上電宇宙射線檢測器审中-公开
简体标题：晶粒上电宇宙射线检测器
公开(公告)号：TW201627860A
公开(公告)日：2016-08-01
申请号：TW104135860
申请日：2013-11-11
申请人：英特爾股份有限公司 , INTEL CORPORATION
发明人：漢那艾瑞克 , HANNAH, ERIC C.
IPC分类号： G06F11/07 , G01T1/24 , G01R31/3181
CPC分类号： G01T1/247 , G01R31/317 , G01R31/31816 , G06F11/0793
摘要：本揭露說明一種晶片，包含：基板；邏輯單元，形成主動電路在該基板上；及宇宙射線檢測器，嵌入於該基板中，該宇宙射線檢測器檢測宇宙射線且產生表示該宇宙射線的檢測之信號，該信號用於減少該邏輯單元中的錯誤。
简体摘要：本揭露说明一种芯片，包含：基板；逻辑单元，形成主动电路在该基板上；及宇宙射线检测器，嵌入于该基板中，该宇宙射线检测器检测宇宙射线且产生表示该宇宙射线的检测之信号，该信号用于减少该逻辑单元中的错误。

56. 发明专利

TWI539176B 積體電路裝置的雲端測試及遠程監視的系統及方法有权
简体标题：集成电路设备的云端测试及远程监视的系统及方法
公开(公告)号：TWI539176B
公开(公告)日：2016-06-21
申请号：TW103116976
申请日：2014-05-14
申请人：優力勤股份有限公司 , UNIGEN TAIWAN CORPORATION
发明人：林熙方 , LIN, DAVID S. , 曾昱傑 , TSENG, YU CHIEH , 葉沛龍 , YEH, PEI LUNG , 林義傑 , LIN, YI CHIEH , 莊哲誠 , CHUANG, CHE CHEN
IPC分类号： G01R31/3181 , G01R31/319
CPC分类号： G01R31/2834 , G01R31/2851 , G01R31/31908 , G06F11/22 , G06F11/2294 , G06F11/263 , G06F11/2635 , G06F11/273

57. 发明专利

TWI537784B 附觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器有权
简体标题：附触摸检测功能之显示设备及电子机器
公开(公告)号：TWI537784B
公开(公告)日：2016-06-11
申请号：TW103109155
申请日：2014-03-13
申请人：日本顯示器股份有限公司 , JAPAN DISPLAY INC.
发明人：小糸健夫 , KOITO, TAKEO , 石崎剛司 , ISHIZAKI, KOJI , 倉澤隼人 , KURASAWA, HAYATO
IPC分类号： G06F3/041 , G02F1/1333 , G01R31/3181
CPC分类号： G06F3/044 , G06F3/0416 , G06F3/0418

58. 发明专利

TW201539006A 測試裝置以及測試系統审中-公开
简体标题：测试设备以及测试系统
公开(公告)号：TW201539006A
公开(公告)日：2015-10-16
申请号：TW103113560
申请日：2014-04-14
申请人：呂俊毅 , LU, CHUN YI
发明人：呂俊毅 , LU, CHUN YI
IPC分类号： G01R31/3181 , G06F11/26
CPC分类号： G06F11/273
摘要：測試裝置以及測試系統。測試裝置用以測試至少一電子裝置。測試裝置包括測試數據傳收器以及處理器。測試數據傳收器透過多個連接介面分別耦接至電子裝置的多數個功能性電路，分別傳送對應功能性電路的多數個測試數據以針對功能性電路進行測試以產生多數個測試結果。處理器接收測試結果，依據測試結果來決定至少一電子裝置的產品等級。
简体摘要：测试设备以及测试系统。测试设备用以测试至少一电子设备。测试设备包括测试数据传收器以及处理器。测试数据传收器透过多个连接界面分别耦接至电子设备的多数个功能性电路，分别发送对应功能性电路的多数个测试数据以针对功能性电路进行测试以产生多数个测试结果。处理器接收测试结果，依据测试结果来决定至少一电子设备的产品等级。

59. 发明专利

TWI497093B 測試維修系統及其方法有权
简体标题：测试维修系统及其方法
公开(公告)号：TWI497093B
公开(公告)日：2015-08-21
申请号：TW102143809
申请日：2013-11-29
申请人：技嘉科技股份有限公司 , GIGA-BYTE TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：黃順治 , HUANG, SHUN CHIH , 呂景豫 , LU, CHING YU , 李延震 , LI, YEN CHEN
IPC分类号： G01R31/3181 , G01R31/319

60. 发明专利

TW201519062A 觸控檢測裝置、附觸控檢測功能之顯示裝置、及電子機器审中-公开
简体标题：触摸检测设备、附触摸检测功能之显示设备、及电子机器
公开(公告)号：TW201519062A
公开(公告)日：2015-05-16
申请号：TW103133799
申请日：2014-09-29
申请人：日本顯示器股份有限公司 , JAPAN DISPLAY INC.
发明人：田中俊彥 , TANAKA, TOSHIHIKO
IPC分类号： G06F3/044 , G01R31/3181
CPC分类号： G06F3/044 , G06F3/0416 , G06F2203/04108 , G09G3/3648 , G09G3/3696 , G09G2310/0264 , G09G2354/00
摘要：本揭示之觸控檢測裝置包括：複數個觸控檢測電極；動作驅動部，其於觸控檢測動作時，對上述驅動電極施加觸控檢測驅動信號；及觸控檢測部，其於上述觸控檢測動作時，檢測接觸或接近於上述觸控檢測電極之上述外部物體之位置；且複數個上述驅動電極被分為複數個驅動信號施加區塊，該驅動信號施加區塊包含電性連接之3個以上之上述驅動電極，且具有驅動區塊重疊部，該驅動區塊重疊部係將上述特定方向之端部側之至少1個上述驅動電極、與鄰接之驅動信號施加區塊之上述特定方向之端部側之至少1個上述驅動電極調換上述驅動電極之排列順序而配設，上述動作驅動部對上述驅動信號施加區塊依序施加上述觸控檢測驅動信號。
简体摘要：本揭示之触摸检测设备包括：复数个触摸检测电极；动作驱动部，其于触摸检测动作时，对上述驱动电极施加触摸检测驱动信号；及触摸检测部，其于上述触摸检测动作时，检测接触或接近于上述触摸检测电极之上述外部物体之位置；且复数个上述驱动电极被分为复数个驱动信号施加区块，该驱动信号施加区块包含电性连接之3个以上之上述驱动电极，且具有驱动区块重叠部，该驱动区块重叠部系将上述特定方向之端部侧之至少1个上述驱动电极、与邻接之驱动信号施加区块之上述特定方向之端部侧之至少1个上述驱动电极调换上述驱动电极之排列顺序而配设，上述动作驱动部对上述驱动信号施加区块依序施加上述触摸检测驱动信号。

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