专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

51. 发明专利

TW201140102A 用以測試受測裝置之方法與設備 METHOD AND APPARATUS FOR TESTING A DEVICE-UNDER-TEST 审中-公开
简体标题：用以测试受测设备之方法与设备 METHOD AND APPARATUS FOR TESTING A DEVICE-UNDER-TEST
公开(公告)号：TW201140102A
公开(公告)日：2011-11-16
申请号：TW100100943
申请日：2011-01-11
申请人：惠瑞捷(新加坡)股份有限公司
发明人：高洛夫吉爾 , 亨凱爾湯瑪斯 , 萊森羅納度 , 科諾屈尤瑞奇
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/319 , G01R31/31907
摘要：揭示一種用以測試一受測裝置之構想,該構想包含從專用來利用至少一個硬體資源而與該受測裝置之一輸入或輸出接腳通訊之至少一個測試通道積體電路,接收描述該至少一個硬體資源之期望運算之至少一個邏輯控制指令,及利用一資源控制裝置來將該至少一個邏輯控制指令轉換成用於該至少一個硬體資源之至少一個專用控制指令,其中該至少一個專用控制指令係經調整而適用於該至少一個硬體資源之實體實現。
简体摘要：揭示一种用以测试一受测设备之构想,该构想包含从专用来利用至少一个硬件资源而与该受测设备之一输入或输出接脚通信之至少一个测试信道集成电路,接收描述该至少一个硬件资源之期望运算之至少一个逻辑控制指令,及利用一资源控制设备来将该至少一个逻辑控制指令转换成用于该至少一个硬件资源之至少一个专用控制指令,其中该至少一个专用控制指令系经调整而适用于该至少一个硬件资源之实体实现。

52. 发明专利

TWI345637B 具有通用與特定資源區塊之測試模組 TEST MODULE WITH BLOCKS OF UNIVERSAL AND SPECIFIC RESOURCES 有权
简体标题：具有通用与特定资源区块之测试模块 TEST MODULE WITH BLOCKS OF UNIVERSAL AND SPECIFIC RESOURCES
公开(公告)号：TWI345637B
公开(公告)日：2011-07-21
申请号：TW096106449
申请日：2007-02-26
申请人：惠瑞捷(新加坡)股份有限公司
发明人：衛何安德列
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31907
摘要：一種測試模組，用於一用以測試一待測裝置的測試設備，該測試模組適用於執行一特定測試功能且包含一適用於提供對於該測試模組之該測試功能而言為非特定的測試資源之通用區段，該通用區段包含一適用於連接到該測試設備之一中央控制裝置的控制介面，並包含一被耦接到該通用區段且適用於提供對於該測試模組之該測試功能而言為特定的測試資源之特定區段，該特定區段包含一適用於連接到該待測裝置的待測裝置介面。
简体摘要：一种测试模块，用于一用以测试一待测设备的测试设备，该测试模块适用于运行一特定测试功能且包含一适用于提供对于该测试模块之该测试功能而言为非特定的测试资源之通用区段，该通用区段包含一适用于连接到该测试设备之一中央控制设备的控制界面，并包含一被耦接到该通用区段且适用于提供对于该测试模块之该测试功能而言为特定的测试资源之特定区段，该特定区段包含一适用于连接到该待测设备的待测设备界面。

53. 发明专利

TW201114204A 用以對電子裝置之多個發送路徑與多個接收路徑作無線測試的設備與方法 APPARATUS AND METHOD FOR WIRELESS TESTING OF A PLURALITY OF TRANSMIT PATHS AND A PLURALITY OF RECEIVE PATHS OF AN ELECTRONIC DEVICE 审中-公开
简体标题：用以对电子设备之多个发送路径与多个接收路径作无线测试的设备与方法 APPARATUS AND METHOD FOR WIRELESS TESTING OF A PLURALITY OF TRANSMIT PATHS AND A PLURALITY OF RECEIVE PATHS OF AN ELECTRONIC DEVICE
公开(公告)号：TW201114204A
公开(公告)日：2011-04-16
申请号：TW099126917
申请日：2010-08-12
申请人：惠瑞捷(新加坡)股份有限公司
发明人：瑞弗亞喬辰 , 羅泰克馬庫斯 , 漢茲曲安德斯
IPC分类号： H04B
CPC分类号： H04B17/0085 , G01R31/3025 , H04B7/0617 , H04B7/0837 , H04B17/10 , H04B17/20
摘要：一種用以對能夠改變一電子裝置之一測試信號的波束的一較佳方向之該電子裝置的多個發送路徑作無線測試之設備,其包含一測試介面、一測試產生器、一測試模組、及一分析模組。用以連接至電子裝置的測試介面組配成將資料發送至電子裝置及自電子裝置接收資料。測試產生器透過測試介面驅動電子裝置改變波束的較佳方向。此外,測試模組根據藉由使用用以接收測試信號之測試模組的至少一靜態天線而自電子裝置接收的測試信號來無線決定一發送參數的多個發送値。發送參數的每一發送値與波束的一不同較佳方向相關聯。分析模組根據多個發送値提供對電子裝置之多個發送路徑的一評估。
简体摘要：一种用以对能够改变一电子设备之一测试信号的波束的一较佳方向之该电子设备的多个发送路径作无线测试之设备,其包含一测试界面、一测试产生器、一测试模块、及一分析模块。用以连接至电子设备的测试界面组配成将数据发送至电子设备及自电子设备接收数据。测试产生器透过测试界面驱动电子设备改变波束的较佳方向。此外,测试模块根据借由使用用以接收测试信号之测试模块的至少一静态天线而自电子设备接收的测试信号来无线决定一发送参数的多个发送値。发送参数的每一发送値与波束的一不同较佳方向相关联。分析模块根据多个发送値提供对电子设备之多个发送路径的一评估。

54. 发明专利

TWI339015B 對用於測量重新建構類比波形之過渡時間的反覆信號進行低抽樣之技術 UNDERSAMPLING OF A REPETITIVE SIGNAL FOR MEASURING TRANSITION TIMES TO RECONSTRUCT AN ANALOG WAVEFORM 有权
简体标题：对用于测量重新建构模拟波形之过渡时间的反复信号进行低抽样之技术 UNDERSAMPLING OF A REPETITIVE SIGNAL FOR MEASURING TRANSITION TIMES TO RECONSTRUCT AN ANALOG WAVEFORM
公开(公告)号：TWI339015B
公开(公告)日：2011-03-11
申请号：TW096106460
申请日：2007-02-26
申请人：惠瑞捷(新加坡)股份有限公司
发明人：瑞弗亞喬辰 , 劉金雷
IPC分类号： H03K , H03M
CPC分类号： H03M1/1285 , G01R19/2509 , G01R31/31725 , H03M1/124
摘要：一種用於處理一反覆信號的信號處理裝置，該信號處理裝置包含一用於決定數個用於低抽樣該反覆信號之時間點的決定單元、一用於在該等時間點上將該反覆信號與一參考信號相比較的比較器單元、一用於產生指示該比較結果的數位結果信號的產生單元，以及一用於決定該等數位結果信號之過渡時間的評估單元。
简体摘要：一种用于处理一反复信号的信号处理设备，该信号处理设备包含一用于决定数个用于低抽样该反复信号之时间点的决定单元、一用于在该等时间点上将该反复信号与一参考信号相比较的比较器单元、一用于产生指示该比较结果的数码结果信号的产生单元，以及一用于决定该等数码结果信号之过渡时间的评估单元。

55. 发明专利

TWI337458B 轉換非等距信號為等距信號之技術 CONVERTING NON-EQUIDISTANT SIGNALS INTO EQUIDISTANT SIGNALS 有权
简体标题：转换非等距信号为等距信号之技术 CONVERTING NON-EQUIDISTANT SIGNALS INTO EQUIDISTANT SIGNALS
公开(公告)号：TWI337458B
公开(公告)日：2011-02-11
申请号：TW096106459
申请日：2007-02-26
申请人：惠瑞捷(新加坡)股份有限公司
发明人：瑞弗亞喬辰
IPC分类号： H03M
CPC分类号： G01R19/2509 , H03M1/1285
摘要：一種用於處理一信號的信號處理裝置，該信號處理裝置包含一用於將該信號與一參考信號相比較的比較器單元、一用於產生指示該比較結果的數位結果信號的產生單元、一用於決定該等數位結果信號之過渡時間的評估單元，以及一適用於計算實質上均勻間隔的輸出信號的輸出信號計算單元。
简体摘要：一种用于处理一信号的信号处理设备，该信号处理设备包含一用于将该信号与一参考信号相比较的比较器单元、一用于产生指示该比较结果的数码结果信号的产生单元、一用于决定该等数码结果信号之过渡时间的评估单元，以及一适用于计算实质上均匀间隔的输出信号的输出信号计算单元。

56. 发明专利

TW201027647A 用以測試多個單一化晶粒之方法、裝置與製品 METHODS, APPARATUS AND ARTICLES OF MANUFACTURE FOR TESTING A PLURALITY OF SINGULATED DIE 审中-公开
简体标题：用以测试多个单一化晶粒之方法、设备与制品 METHODS, APPARATUS AND ARTICLES OF MANUFACTURE FOR TESTING A PLURALITY OF SINGULATED DIE
公开(公告)号：TW201027647A
公开(公告)日：2010-07-16
申请号：TW098128806
申请日：2009-08-27
申请人：惠瑞捷(新加坡)股份有限公司
发明人：費曼詹姆斯C , 安德森詹姆斯C , 卡克林肯尼斯D
IPC分类号： H01L
CPC分类号： H01L22/20 , G01R31/2891
摘要：在一實施例中,一種用以測試多個單一化半導體晶粒之方法包含:1)將每一個單一化半導體晶粒放置在一晶粒承載器之一表面上,2)將電氣接觸器之陣列與多個單一化半導體晶粒配對,並且然後3)經由此電氣接觸器之陣列來對此等多個單一化半導體晶粒執行電氣測試。
简体摘要：在一实施例中,一种用以测试多个单一化半导体晶粒之方法包含:1)将每一个单一化半导体晶粒放置在一晶粒承载器之一表面上,2)将电气接触器之数组与多个单一化半导体晶粒配对,并且然后3)经由此电气接触器之数组来对此等多个单一化半导体晶粒运行电气测试。

57. 发明专利

TW201011636A 用以判定多個二進位數值之最小／最大值之方法與裝置 METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING A MINIMUM/MAXIMUM OF A PLURALITY OF BINARY VALUES 审中-公开
简体标题：用以判定多个二进制数值之最小／最大值之方法与设备 METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING A MINIMUM/MAXIMUM OF A PLURALITY OF BINARY VALUES
公开(公告)号：TW201011636A
公开(公告)日：2010-03-16
申请号：TW098125190
申请日：2009-07-27
申请人：惠瑞捷(新加坡)股份有限公司
发明人：慕勒麥可
IPC分类号： G06F
CPC分类号： G06F7/544
摘要：用於判定多個二進制數值中之一最小/最大值，於該等多個二進制數值中之一位元位置經判定，其隨後之全部位元數值皆相同。由該等多個二進制數值，於前一步驟判定之位元位置及全部隨後位置(若有)之位元數值包含一預定值之該等二進制數值經選定。然後重複前述步驟直到只剩餘一個二進制數值其係提供作為該最小值或最大值。
简体摘要：用于判定多个二进制数值中之一最小/最大值，于该等多个二进制数值中之一比特位置经判定，其随后之全部比特数值皆相同。由该等多个二进制数值，于前一步骤判定之比特位置及全部随后位置(若有)之比特数值包含一预定值之该等二进制数值经选定。然后重复前述步骤直到只剩余一个二进制数值其系提供作为该最小值或最大值。

58. 发明专利

TW201010291A 用以估計有關時間差之資料之裝置與方法及用以校準延遲線之裝置與方法 APPARATUS AND METHOD FOR ESTIMATING DATA RELATING TO A TIME DIFFERENCE AND APPARATUS AND METHOD FOR CALIBRATING A DELAY LINE 审中-公开
简体标题：用以估计有关时间差之数据之设备与方法及用以校准延迟线之设备与方法 APPARATUS AND METHOD FOR ESTIMATING DATA RELATING TO A TIME DIFFERENCE AND APPARATUS AND METHOD FOR CALIBRATING A DELAY LINE
公开(公告)号：TW201010291A
公开(公告)日：2010-03-01
申请号：TW098120426
申请日：2009-06-18
申请人：惠瑞捷(新加坡)股份有限公司
发明人：瑞弗亞喬辰
IPC分类号： H03M
CPC分类号： G04F10/005
摘要：一種用以估計二個事件之間有關時間差之資料之裝置包含具有多數個階段之一延遲線。各個階段在第一部份中之一第一延遲以及第二部份中之一第二延遲之間具有一延遲差量。這延遲差量利用在各個階段中之相位仲裁器被量測，該相位仲裁器輸出一指示信號以指示該第一部份中二個事件之第一事件是否領先於或接續於該第二部份中二個事件之一第二事件後。一相加裝置被提供以總計該等多數個階段之指示信號以得到一總數值。該總數值指示一時間差估量。
简体摘要：一种用以估计二个事件之间有关时间差之数据之设备包含具有多数个阶段之一延迟线。各个阶段在第一部份中之一第一延迟以及第二部份中之一第二延迟之间具有一延迟差量。这延迟差量利用在各个阶段中之相位仲裁器被量测，该相位仲裁器输出一指示信号以指示该第一部份中二个事件之第一事件是否领先于或接续于该第二部份中二个事件之一第二事件后。一相加设备被提供以总计该等多数个阶段之指示信号以得到一总数值。该总数值指示一时间差估量。

59. 发明专利

TWI318057B 用於辨識測試號碼衝突之方法與裝置 METHODS AND APPARATUS FOR IDENTIFYING TEST NUMBER COLLISIONS 失效
简体标题：用于辨识测试号码冲突之方法与设备 METHODS AND APPARATUS FOR IDENTIFYING TEST NUMBER COLLISIONS
公开(公告)号：TWI318057B
公开(公告)日：2009-12-01
申请号：TW093141743
申请日：2004-12-31
申请人：惠瑞捷(新加坡)股份有限公司
发明人：柯爾曼羅伯特S. , 海豪瑞德
IPC分类号： H03M
CPC分类号： G01R31/318314 , G01R31/31718 , G01R31/318357 , Y10S707/99952 , Y10S707/99953
摘要：在一種指定測試號碼之方法中，執行測試流程期間要維護現行測試流程上下文之資訊。測試流程中會產生次測試結果之新測試號碼，測試號碼之資料庫需使用該新測試號碼來索引。若該新測試號碼作為資料庫之入口，聯結該入口之唯一識別符會對照包含1)該次測試之識別符，及2)該現行測試流程上下文資訊之索引資訊。若該唯一識別符與索引資訊不匹配，會辨識出一測試號碼衝突。否則，該新測試號碼會指定至該次測試。其他用於辨識測試號碼衝突之方法及裝置亦會揭示。 In a method for assigning test numbers, current testflow context information is maintained during the execution of a testflow. Upon generation of a new test number for a result of asubtest in the testflow, a database of test numbers is indexed using the new test number. If the new test number appears as an entry in the database, a unique identifier associated with the entry is compared to index information comprising 1) an identifier of the subtest, and 2) the current testflow context information. If the unique identifier does not match the index information, a test number collision is identified. Otherwise, the new test number is assigned to the subtest. Other methods and apparatus for identifying test number collisions are also disclosed.
简体摘要：在一种指定测试号码之方法中，运行测试流程期间要维护现行测试流程上下文之信息。测试流程中会产生次测试结果之新测试号码，测试号码之数据库需使用该新测试号码来索引。若该新测试号码作为数据库之入口，联结该入口之唯一识别符会对照包含1)该次测试之识别符，及2)该现行测试流程上下文信息之索引信息。若该唯一识别符与索引信息不匹配，会辨识出一测试号码冲突。否则，该新测试号码会指定至该次测试。其他用于辨识测试号码冲突之方法及设备亦会揭示。 In a method for assigning test numbers, current testflow context information is maintained during the execution of a testflow. Upon generation of a new test number for a result of asubtest in the testflow, a database of test numbers is indexed using the new test number. If the new test number appears as an entry in the database, a unique identifier associated with the entry is compared to index information comprising 1) an identifier of the subtest, and 2) the current testflow context information. If the unique identifier does not match the index information, a test number collision is identified. Otherwise, the new test number is assigned to the subtest. Other methods and apparatus for identifying test number collisions are also disclosed.

60. 发明专利

TW200827745A 測試器、用以測試受測裝置之方法、及電腦程式 TESTER, METHOD FOR TESTING A DEVICE UNDER TEST AND COMPUTER PROGRAM 审中-公开
简体标题：测试器、用以测试受测设备之方法、及电脑进程 TESTER, METHOD FOR TESTING A DEVICE UNDER TEST AND COMPUTER PROGRAM
公开(公告)号：TW200827745A
公开(公告)日：2008-07-01
申请号：TW096108526
申请日：2007-03-13
申请人：惠瑞捷(新加坡)股份有限公司 VERIGY (SINGAPORE) PTE. LTD.
发明人：史區米茲馬汀 SCHMITZ, MARTIN
IPC分类号： G01R , G06F
CPC分类号： G01R31/31926 , G01R31/31715 , G01R31/31919
摘要：一種用於測試一受測裝置之測試器包含有一第一通道單元與一第二通道單元,該第一通道單元包含有一用於一來自一受測裝置之信號的對應第一接腳連接、一適於至少部分處理獲得自該第一接腳連接之資料的對應第一測試處理器、及一與該第一測試處理器連接且適於儲存由該第一測試處理器所提供之資料的對應第一記憶體,該第一通道單元係適於將獲得自該第一接腳連接之資料的至少一部分轉換至該第二通道單元作為轉換資料,該第二通道單元包含一適於至少部分處理來自該第一通道單元之轉換資料的對應第二測試處理器。
简体摘要：一种用于测试一受测设备之测试器包含有一第一信道单元与一第二信道单元,该第一信道单元包含有一用于一来自一受测设备之信号的对应第一接脚连接、一适于至少部分处理获得自该第一接脚连接之数据的对应第一测试处理器、及一与该第一测试处理器连接且适于存储由该第一测试处理器所提供之数据的对应第一内存,该第一信道单元系适于将获得自该第一接脚连接之数据的至少一部分转换至该第二信道单元作为转换数据,该第二信道单元包含一适于至少部分处理来自该第一信道单元之转换数据的对应第二测试处理器。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式