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41. 发明专利

TW201126528A 可擴充樣本記憶體之記憶體測試設備 MEMORY TEST EQUIPMENT WITH EXTENSIBLE SAMPLE MEMORY 审中-公开
简体标题：可扩充样本内存之内存测试设备 MEMORY TEST EQUIPMENT WITH EXTENSIBLE SAMPLE MEMORY
公开(公告)号：TW201126528A
公开(公告)日：2011-08-01
申请号：TW099101468
申请日：2010-01-20
申请人：京元電子股份有限公司
发明人：鄭振輝 , 劉大綱 , 解國安 , 柯文煌
IPC分类号： G11C
摘要：本發明為一種可擴充樣本記憶體之記憶體測試設備,包括有複數測試座、一控制模組、及一主控制器。其中,複數測試座容設有複數待測記憶體,而控制模組電性耦接有一樣本記憶體。其中,主控制器控制該控制模組儲存一樣本資料至樣本記憶體,接著讀取樣本記憶體之樣本資料並將之存入複數待測記憶體內為待測資料。又,控制讀取樣本資料並逐一比對複數待測記憶體內儲存之待測資料。因此,本發明可視實際需求擴充測試規格、及樣本記憶體容量,並可透過控制模組之控制存取,任意變更欲進行測試比對之樣本資料。
简体摘要：本发明为一种可扩充样本内存之内存测试设备,包括有复数测试座、一控制模块、及一主控制器。其中,复数测试座容设有复数待测内存,而控制模块电性耦接有一样本内存。其中,主控制器控制该控制模块存储一样本数据至样本内存,接着读采样本内存之样本数据并将之存入复数待测内存内为待测数据。又,控制读采样本数据并逐一比对复数待测内存内存储之待测数据。因此,本发明可视实际需求扩充测试规格、及样本内存容量,并可透过控制模块之控制存取,任意变更欲进行测试比对之样本数据。

42. 发明专利

TWI340721B 具有進氣閥之晶舟盒失效
简体标题：具有进气阀之晶舟盒
公开(公告)号：TWI340721B
公开(公告)日：2011-04-21
申请号：TW096137032
申请日：2007-10-03
申请人：京元電子股份有限公司
发明人：戴碧輝
IPC分类号： B65D
摘要：本發明為一種具有進氣閥之晶舟盒，包括一盒體、及一進氣閥。進氣閥設置於盒體之外殼上，其包括有一導柱、一密封蓋、一密封墊圈、及一彈性元件。進氣閥是由彈性元件提供一彈性預力，以推動導柱將密封蓋對應蓋合於外殼的通孔上，更使密封墊圈壓合於密封蓋與外殼之間以形成氣密。故當欲開啟一盒內真空之晶舟盒時，只要以一外力反推導柱，使得密封蓋與外殼之間產生間隙，此時外氣得以經由此間隙以導流經過通孔而進到盒體之內部空間，故能令盒體內外之氣壓達成平衡，以利盒蓋容易打開。
简体摘要：本发明为一种具有进气阀之晶舟盒，包括一盒体、及一进气阀。进气阀设置于盒体之外壳上，其包括有一导柱、一密封盖、一密封垫圈、及一弹性组件。进气阀是由弹性组件提供一弹性预力，以推动导柱将密封盖对应盖合于外壳的通孔上，更使密封垫圈压合于密封盖与外壳之间以形成气密。故当欲打开一盒内真空之晶舟盒时，只要以一外力反推导柱，使得密封盖与外壳之间产生间隙，此时外气得以经由此间隙以导流经过通孔而进到盒体之内部空间，故能令盒体内外之气压达成平衡，以利盒盖容易打开。

43. 发明专利

TWI337768B 具彈性墊之晶片吸嘴結構及其製造方法有权
简体标题：具弹性垫之芯片吸嘴结构及其制造方法
公开(公告)号：TWI337768B
公开(公告)日：2011-02-21
申请号：TW096105469
申请日：2007-02-14
申请人：京元電子股份有限公司
发明人：黃德有 , 邱瑞堂
IPC分类号： H01L , B25J
摘要：本發明係使彈性墊具有不同之彈性係數，故當彈性墊固設於吸嘴上並吸附晶片時，彈性墊不會因軸向施壓而產生扭曲閉合之問題，相對不會造成晶片吸附失敗之情況。此外，本發明係改變彈性墊固設於吸嘴上之位置，如此可使吸嘴吸附較小尺寸之晶片，而不會發生吸取異常之問題。另外，彈性墊係裁剪一長條形彈性墊原料而得，故可使彈性墊更易於製造，且可降低彈性墊之成本。又，長條形彈性墊原料可為一高密度彈性海綿彈性墊原料，其可具有材質軟、回復性高等特性，故其所製造出之彈性墊於吸附晶片時，可避免壓傷晶片表面上之錫球。
简体摘要：本发明系使弹性垫具有不同之弹性系数，故当弹性垫固设于吸嘴上并吸附芯片时，弹性垫不会因轴向施压而产生扭曲闭合之问题，相对不会造成芯片吸附失败之情况。此外，本发明系改变弹性垫固设于吸嘴上之位置，如此可使吸嘴吸附较小尺寸之芯片，而不会发生吸取异常之问题。另外，弹性垫系裁剪一长条形弹性垫原料而得，故可使弹性垫更易于制造，且可降低弹性垫之成本。又，长条形弹性垫原料可为一高密度弹性海绵弹性垫原料，其可具有材质软、回复性高等特性，故其所制造出之弹性垫于吸附芯片时，可避免压伤芯片表面上之锡球。

44. 发明专利

TW201104258A 具同心圓探針座之半導體測試設備 SEMICONDUCTOR TEST EQUIPMENT WITH CONCENTRIC CIRCLE POGO TOWERS 审中-公开
简体标题：具同心圆探针座之半导体测试设备 SEMICONDUCTOR TEST EQUIPMENT WITH CONCENTRIC CIRCLE POGO TOWERS
公开(公告)号：TW201104258A
公开(公告)日：2011-02-01
申请号：TW098124694
申请日：2009-07-22
申请人：京元電子股份有限公司
发明人：陳峯杰
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/2889
摘要：本發明為一種具同心圓探針座之半導體測試設備，包括有一基座、一測試頭、一外環針座、以及一內環針座。其中，內環針座先套設於外環針座之內環面內，內環針座之卡合凹槽係對應連結至外環針座之徑向凸柱，外環針座與內環針座一同組設於測試頭之測試載板上，外環針座之複數個外環探針與內環針座之複數個內環探針分別與測試載板電性連接。因此，本發明藉由內環針座與外環針座組合或分離，而達到擴充測試之功效，故可選用兩種不同規格之探針卡進行測試，無須更改其他硬體，即能達到快速變換測試規格之目的，以能提升測試機台之競爭力。
简体摘要：本发明为一种具同心圆探针座之半导体测试设备，包括有一基座、一测试头、一外环针座、以及一内环针座。其中，内环针座先套设于外环针座之内环面内，内环针座之卡合凹槽系对应链接至外环针座之径向凸柱，外环针座与内环针座一同组设于测试头之测试载板上，外环针座之复数个外环探针与内环针座之复数个内环探针分别与测试载板电性连接。因此，本发明借由内环针座与外环针座组合或分离，而达到扩充测试之功效，故可选用两种不同规格之探针卡进行测试，无须更改其他硬件，即能达到快速变换测试规格之目的，以能提升测试机台之竞争力。

45. 发明专利

TW201100828A 滾動碼產生系統與產生方法 ROLLING CODE GENERATING SYSTEM AND GENERATING METHOD THEREOF 审中-公开
简体标题：滚动码产生系统与产生方法 ROLLING CODE GENERATING SYSTEM AND GENERATING METHOD THEREOF
公开(公告)号：TW201100828A
公开(公告)日：2011-01-01
申请号：TW098120949
申请日：2009-06-23
申请人：京元電子股份有限公司
发明人：陳福泰 , 張家憲
IPC分类号： G01R
摘要：本發明提供一種滾動碼產生系統與產生方法,其中滾動碼產生系統包含一載體隨機存取記憶體(vector ram)、資料下載模組、第一運算模組、修正模組、執行模組、確認模組、紀錄擷取模組、第二運算模組及驗證模組。藉由上述滾動碼產生系統,可產生一滾動碼,且進一步可將上述之滾動碼寫入測試中之積體電路元件中。
简体摘要：本发明提供一种滚动码产生系统与产生方法,其中滚动码产生系统包含一载体随机存取内存(vector ram)、数据下载模块、第一运算模块、修正模块、运行模块、确认模块、纪录截取模块、第二运算模块及验证模块。借由上述滚动码产生系统,可产生一滚动码,且进一步可将上述之滚动码写入测试中之集成电路组件中。

46. 发明专利

TWI334486B 具隔熱鏡片組之測試設備 TEST APPARATUS WITH HEAT-RESISTANT LENS KIT 失效
简体标题：具隔热镜片组之测试设备 TEST APPARATUS WITH HEAT-RESISTANT LENS KIT
公开(公告)号：TWI334486B
公开(公告)日：2010-12-11
申请号：TW096107169
申请日：2007-03-02
申请人：京元電子股份有限公司
发明人：戴碧輝
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/2874
摘要：本發明揭示一種隔熱鏡片組，係配置於彈簧針頭座之中空開口內。隔熱鏡片組包含鏡身主體與兩片平行裝置之鏡片，鏡身主體與兩片平行配置之鏡片所隔出之密閉空間內保持真空。
简体摘要：本发明揭示一种隔热镜片组，系配置于弹簧针头座之中空开口内。隔热镜片组包含镜身主体与两片平行设备之镜片，镜身主体与两片平行配置之镜片所隔出之密闭空间内保持真空。

47. 实用新型

TWM392956U 具抽取式均光片之測試頭有权
简体标题：具抽取式均光片之测试头
公开(公告)号：TWM392956U
公开(公告)日：2010-11-21
申请号：TW099213154
申请日：2010-07-09
申请人：京元電子股份有限公司
发明人：吳國榮 , 黃省騰
IPC分类号： G01M
摘要：本創作係有關於一種具抽取式均光片之測試頭，包括有一殼體、一抽取蓋座、一抽取板、一均光片、一透鏡管、以及一光源模組。其中，殼體開設有光照射孔，抽取蓋座組設於殼體的前蓋板之內表面上，且抽取蓋座之頂板開設有穿孔，其對應於殼體之光照射孔。抽取蓋座之側板開設有抽取槽。而抽取板包括有固定框，用以組設均光片，且抽取板可插設於抽取蓋座之抽取槽。另外，透鏡管組設於抽取蓋座之頂板並對應於穿孔；光源模組之發光部再對應於透鏡管。因此，本創作能快速抽取均光片，以利快速進行校正、或維修，大幅縮短停機時間。
简体摘要：本创作系有关于一种具抽取式均光片之测试头，包括有一壳体、一抽取盖座、一抽取板、一均光片、一透镜管、以及一光源模块。其中，壳体开设有光照射孔，抽取盖座组设于壳体的前盖板之内表面上，且抽取盖座之顶板开设有穿孔，其对应于壳体之光照射孔。抽取盖座之侧板开设有抽取槽。而抽取板包括有固定框，用以组设均光片，且抽取板可插设于抽取盖座之抽取槽。另外，透镜管组设于抽取盖座之顶板并对应于穿孔；光源模块之发光部再对应于透镜管。因此，本创作能快速抽取均光片，以利快速进行校正、或维修，大幅缩短停机时间。

48. 发明专利

TW201036885A 具有進氣閥之晶舟盒审中-公开
简体标题：具有进气阀之晶舟盒
公开(公告)号：TW201036885A
公开(公告)日：2010-10-16
申请号：TW099115130
申请日：2007-10-03
申请人：京元電子股份有限公司
发明人：戴碧輝
IPC分类号： B65D
摘要：本發明為一種具有進氣閥之晶舟盒，包括一盒體、及一進氣閥。進氣閥設置於盒體之外殼上，其包括有一導柱、一密封蓋、一密封墊圈、及一彈性元件。進氣閥是由彈性元件提供一彈性預力，以推動導柱將密封蓋對應蓋合於外殼的通孔上，更使密封墊圈壓合於密封蓋與外殼之間以形成氣密。故當欲開啟一盒內真空之晶舟盒時，只要以一外力反推導柱，使得密封蓋與外殼之間產生間隙，此時外氣得以經由此間隙以導流經過通孔而進到盒體之內部空間，故能令盒體內外之氣壓達成平衡，以利盒蓋容易打開。
简体摘要：本发明为一种具有进气阀之晶舟盒，包括一盒体、及一进气阀。进气阀设置于盒体之外壳上，其包括有一导柱、一密封盖、一密封垫圈、及一弹性组件。进气阀是由弹性组件提供一弹性预力，以推动导柱将密封盖对应盖合于外壳的通孔上，更使密封垫圈压合于密封盖与外壳之间以形成气密。故当欲打开一盒内真空之晶舟盒时，只要以一外力反推导柱，使得密封盖与外壳之间产生间隙，此时外气得以经由此间隙以导流经过通孔而进到盒体之内部空间，故能令盒体内外之气压达成平衡，以利盒盖容易打开。

49. 发明专利

TWI329202B 積體電路元件測試插座、插座基板、測試機台及其製作方法 IC TESTING SOCKET, SOCKET BORAD, TESTING MACHINE AND METHOD OF MANUFACTURING 有权
简体标题：集成电路组件测试插座、插座基板、测试机台及其制作方法 IC TESTING SOCKET, SOCKET BORAD, TESTING MACHINE AND METHOD OF MANUFACTURING
公开(公告)号：TWI329202B
公开(公告)日：2010-08-21
申请号：TW096122417
申请日：2007-06-22
申请人：京元電子股份有限公司
发明人：鄒俊傑
IPC分类号： G01R
摘要：一種積體電路元件測試插座(Socket)、插座基板、測試機台及其製作方法，其中之測試插座包含一插座本體，鄰近中央部位形成有一凹陷部，並在凹陷部之底部四邊、底部兩對邊或底部兩鄰邊設有複數個彈性接觸端子。這些複數個彈性接觸端子以陣列方式均勻排列於凹陷部的底部。更進一步地，這些複數個彈性接觸端子的特徵是在於其部分或全部的彈性接觸端子係以緊密且成對的方式排列。另外，有一定位導持承座，容設於插座本體凹陷部，且此定位導持承座具有一中央開口，在此中央開口之底部形成有複數個容許彈性接觸端子穿出之端子孔。此外，另有一鎖合組件和一彈性保持組件，可以將定位導持承座限制於凹陷部活動。
简体摘要：一种集成电路组件测试插座(Socket)、插座基板、测试机台及其制作方法，其中之测试插座包含一插座本体，邻近中央部位形成有一凹陷部，并在凹陷部之底部四边、底部两对边或底部两邻边设有复数个弹性接触端子。这些复数个弹性接触端子以数组方式均匀排列于凹陷部的底部。更进一步地，这些复数个弹性接触端子的特征是在于其部分或全部的弹性接触端子系以紧密且成对的方式排列。另外，有一定位导持承座，容设于插座本体凹陷部，且此定位导持承座具有一中央开口，在此中央开口之底部形成有复数个容许弹性接触端子穿出之端子孔。此外，另有一锁合组件和一弹性保持组件，可以将定位导持承座限制于凹陷部活动。

50. 发明专利

TW201025748A ＺＩＦ連接器、半導體測試裝置與半導體測試系統 ZIF CONNECTORS AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND APPARATUS USING THE SAME 审中-公开
简体标题：ＺＩＦ连接器、半导体测试设备与半导体测试系统 ZIF CONNECTORS AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND APPARATUS USING THE SAME
公开(公告)号：TW201025748A
公开(公告)日：2010-07-01
申请号：TW097151324
申请日：2008-12-30
申请人：京元電子股份有限公司
发明人：倪建青 , 徐培倫
IPC分类号： H01R , G01R
CPC分类号： G01R1/0416 , H01R2201/20
摘要：本發明提供一種ZIF連接器以及半導體測試裝置與半導體測試系統,此ZIF連接器包含有一本體部以及一卡持部,其中本體部為一印刷電路板(PCB)並設有電路圖案,此本體部進一步包含有複數個訊號孔位於本體部之上部以電性連接複數個訊號纜線;複數個電氣端子位於本體部之下部且排列本體部相對的兩個側邊表面以電性連接一基板之複數個電氣接點,且此等電氣端子經由本體部之電路圖案以電性連接此等訊號孔,此外卡持部係自本體部的一個側邊水平延伸以將此ZIF連接器鎖固在一連接器載板。
简体摘要：本发明提供一种ZIF连接器以及半导体测试设备与半导体测试系统,此ZIF连接器包含有一本体部以及一卡持部,其中本体部为一印刷电路板(PCB)并设有电路图案,此本体部进一步包含有复数个信号孔位于本体部之上部以电性连接复数个信号缆线;复数个电气端子位于本体部之下部且排列本体部相对的两个侧边表面以电性连接一基板之复数个电气接点,且此等电气端子经由本体部之电路图案以电性连接此等信号孔,此外卡持部系自本体部的一个侧边水平延伸以将此ZIF连接器锁固在一连接器载板。

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