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    • 38. 发明专利
    • 用於極端紫外光源之度量技術 METROLOGY FOR EXTREME ULTRAVIOLET LIGHT SOURCE
    • 用于极端紫外光源之度量技术 METROLOGY FOR EXTREME ULTRAVIOLET LIGHT SOURCE
    • TW201143537A
    • 2011-12-01
    • TW099142117
    • 2010-12-03
    • 希瑪股份有限公司
    • 塞奈凱里米恩 法漢金 南亨貝格斯泰德 羅伯特A佛蒙柯維 伊格爾V派特洛 威廉N
    • H05G
    • G01J1/429H05G2/008
    • 一極端紫外光系統包含:一驅動雷射系統,其產生一放大光束;一目標材料傳送系統,其被組態以在一目標位置產生一目標材料;一射束傳送系統,其被組態以接收自該驅動雷射系統所放射之放大光束並且引導該放大光束朝向該目標位置;以及一度量系統。該射束傳送系統包含聚光透鏡,其被組態並且被配置以將該放大光束聚焦在該目標位置。該度量系統包含一聚光系統,該聚光系統被組態以聚集自該聚光透鏡所反射之該放大光束之一部份以及自該聚光透鏡所反射之該導引雷射光束之一部份。該聚光系統包含被組態以光學式分離該等部份之一個二向色光學裝置。
    • 一极端紫外光系统包含:一驱动激光系统,其产生一放大光束;一目标材料发送系统,其被组态以在一目标位置产生一目标材料;一射束发送系统,其被组态以接收自该驱动激光系统所放射之放大光束并且引导该放大光束朝向该目标位置;以及一度量系统。该射束发送系统包含聚光透镜,其被组态并且被配置以将该放大光束聚焦在该目标位置。该度量系统包含一聚光系统,该聚光系统被组态以聚集自该聚光透镜所反射之该放大光束之一部份以及自该聚光透镜所反射之该导引激光光束之一部份。该聚光系统包含被组态以光学式分离该等部份之一个二向色光学设备。