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31. 发明专利

TW200818106A 積體電路測試器及測試方法 IC TESTER AND TESTING METHOD 审中-公开
简体标题：集成电路测试器及测试方法 IC TESTER AND TESTING METHOD
公开(公告)号：TW200818106A
公开(公告)日：2008-04-16
申请号：TW096130114
申请日：2007-08-15
申请人：橫河電機股份有限公司 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION
发明人：永沼英樹 NAGANUMA, HIDEKI
IPC分类号： G09G , G01R
摘要：本發明以實現一積體電路測試器及測試方法為目的,可抑制測試時間,並進行薄型顯示器驅動裝置之輸出變化時之特性測試。本發明改良自一個對薄型顯示器驅動裝置進行測試之積體電路測試器,其包含:逐次比較型A/D轉換器,輸入根據該薄型顯示器驅動裝置之梯級輸出所產生之電壓;及時脈產生部,使測定薄型顯示器驅動裝置之輸出變化時之取樣時脈周期較測定該薄型顯示器驅動裝置之輸出靜定時之取樣時脈周期短,並賦予該逐次比較型A/D轉換器。
简体摘要：本发明以实现一集成电路测试器及测试方法为目的,可抑制测试时间,并进行薄型显示器驱动设备之输出变化时之特性测试。本发明改良自一个对薄型显示器驱动设备进行测试之集成电路测试器,其包含:逐次比较型A/D转换器,输入根据该薄型显示器驱动设备之梯级输出所产生之电压;及时脉产生部,使测定薄型显示器驱动设备之输出变化时之采样时脉周期较测定该薄型显示器驱动设备之输出静定时之采样时脉周期短,并赋予该逐次比较型A/D转换器。

32. 发明专利

TW200733125A 記憶體測試裝置 MEMORY TESTING EQUIPMENT 审中-公开
简体标题：内存测试设备 MEMORY TESTING EQUIPMENT
公开(公告)号：TW200733125A
公开(公告)日：2007-09-01
申请号：TW095141888
申请日：2006-11-13
申请人：橫河電機股份有限公司 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION
发明人：木村隆尋 KIMURA, TAKAHIRO
IPC分类号： G11C
摘要：本發明之目的在於,實現一種設置有複數個失效記憶體,以縮短測試時間的記憶體測試裝置。本發明之裝置包含:判斷部,用以判斷被測試記憶體輸出之合格(pass)或失效(fail);兩個失效記憶體,用以將此判斷部之失效資料交互存放;緩衝記憶體,設置在該每一失效記憶體;傳送部,將從該緩衝記憶體到前次為止的失效資料,與來自失效記憶體的最新失效資料,傳送到與存放最新的失效資料之失效記憶體相對應的緩衝記憶體;以及冗餘運算部,用以根據緩衝記憶體的失效資料進行冗餘運算。
简体摘要：本发明之目的在于,实现一种设置有复数个失效内存,以缩短测试时间的内存测试设备。本发明之设备包含:判断部,用以判断被测试内存输出之合格(pass)或失效(fail);两个失效内存,用以将此判断部之失效数据交互存放;缓冲内存,设置在该每一失效内存;发送部,将从该缓冲内存到前次为止的失效数据,与来自失效内存的最新失效数据,发送到与存放最新的失效数据之失效内存相对应的缓冲内存;以及冗余运算部,用以根据缓冲内存的失效数据进行冗余运算。

33. 发明专利

TW200724215A 微晶片裝置 MICRO CHIP DEVICE 失效
简体标题：微芯片设备 MICRO CHIP DEVICE
公开(公告)号：TW200724215A
公开(公告)日：2007-07-01
申请号：TW095138957
申请日：2006-10-23
申请人：橫河電機股份有限公司 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION , 三井化學股份有限公司 MITSUI CHEMICALS, INC.
发明人：鈴木健太郎 SUZUKI, KENTARO , 貞本滿 SADAMOTO, MITSURU , 渡邊哲也 WATANABE, TETSUYA , 前川弘志 MAEKAWA, HIROSHI
IPC分类号： B01D
CPC分类号： G01N27/44791 , B01D3/00 , B01J19/0093 , B01J2219/00783 , B01J2219/00837 , B01J2219/00853 , B01J2219/0086 , B01J2219/00873 , B01J2219/00889 , B01J2219/00891 , B01L3/502723 , B01L3/502769 , B01L2200/0684 , B01L2300/089 , B01L2300/1827 , B01L2400/046 , Y10T436/2575
摘要：本發明的微晶片裝置是有形成流通液體的液體流路(98)之微晶片、與沿此液體流路而設的氣體流路(65、67)、在前述液體流路與前述氣體流路之間形成,有一開口為面對著前述液體流路,而另一開口為面對前述氣體流路之複數個縫隙(gap)部(71、73),而將此縫隙部之間隙作成氣體可通過,前述液體不能通過之間隙,並在前述縫隙部形成氣液界面。
简体摘要：本发明的微芯片设备是有形成流通液体的液体流路(98)之微芯片、与沿此液体流路而设的气体流路(65、67)、在前述液体流路与前述气体流路之间形成,有一开口为面对着前述液体流路,而另一开口为面对前述气体流路之复数个缝隙(gap)部(71、73),而将此缝隙部之间隙作成气体可通过,前述液体不能通过之间隙,并在前述缝隙部形成气液界面。

34. 发明专利

TWI279572B 半導體積體電路及半導體積體電路測試系統 SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST SYSTEM OF THE SAME 失效
简体标题：半导体集成电路及半导体集成电路测试系统 SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST SYSTEM OF THE SAME
公开(公告)号：TWI279572B
公开(公告)日：2007-04-21
申请号：TW094105181
申请日：2005-02-22
申请人：橫河電機股份有限公司 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION
发明人：木庭知男 KOBA, TOMOO , 永沼英樹 NAGANUMA, HIDEKI
IPC分类号： G01R
摘要：本發明之目的在於實現容易進行使用電流邏輯信號之試驗之半導體積體電路以及半導體積體電路測試系統。本發明係對具有用以輸出電流邏輯信號之多個信號端腳之半導體積體電路以及半導體積體電路測試系統加以改良者。半導體積體電路係有：用以輸出電流邏輯信號之多個信號端腳；以及試驗時，與I/V變換器電性連接之試驗端腳。從前述多個信號端腳中選擇一個信號端腳，且將前述一個信號端腳連接於前述試驗端腳之選擇部；及輸入用以控制前述選擇部之選擇信號之選擇端腳。此外，該半導體積體電路測試系統係具備：該半導體積體電路；在試驗時，連接於前述半導體積體電路之試驗端腳，且將從前述試驗端腳輸出之電流邏輯信號變換為電壓邏輯信號之 I/V變換器；以及，輸入由前述I/V變換器輸出之電壓邏輯信號之IC測試器(tester)。
简体摘要：本发明之目的在于实现容易进行使用电流逻辑信号之试验之半导体集成电路以及半导体集成电路测试系统。本发明系对具有用以输出电流逻辑信号之多个信号端脚之半导体集成电路以及半导体集成电路测试系统加以改良者。半导体集成电路系有：用以输出电流逻辑信号之多个信号端脚；以及试验时，与I/V变换器电性连接之试验端脚。从前述多个信号端脚中选择一个信号端脚，且将前述一个信号端脚连接于前述试验端脚之选择部；及输入用以控制前述选择部之选择信号之选择端脚。此外，该半导体集成电路测试系统系具备：该半导体集成电路；在试验时，连接于前述半导体集成电路之试验端脚，且将从前述试验端脚输出之电流逻辑信号变换为电压逻辑信号之 I/V变换器；以及，输入由前述I/V变换器输出之电压逻辑信号之IC测试器(tester)。

35. 发明专利

TWI266066B 積體電路(IC)測試器 IC TESTER 失效
简体标题：集成电路(IC)测试器 IC TESTER
公开(公告)号：TWI266066B
公开(公告)日：2006-11-11
申请号：TW094112372
申请日：2005-04-19
申请人：橫河電機股份有限公司 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION
发明人：小浦勇 KOURA, ISAMU
IPC分类号： G01R
摘要：本發明之目的係在實現一種能精確進行測試的IC測試器，而本發明係針對根據複數個基準電壓，以測試用以輸出多級電壓之液晶驅動器之IC測試器加以改良而成者。本裝置的特徵係具備：藉由分壓以產生複數個電壓之分壓電阻部；以及選擇該分壓電阻部之電壓，且將液晶驅動器之基準電壓予以輸出之複數個多工器(multiplexer)。
简体摘要：本发明之目的系在实现一种能精确进行测试的IC测试器，而本发明系针对根据复数个基准电压，以测试用以输出多级电压之液晶驱动器之IC测试器加以改良而成者。本设备的特征系具备：借由分压以产生复数个电压之分压电阻部；以及选择该分压电阻部之电压，且将液晶驱动器之基准电压予以输出之复数个多任务器(multiplexer)。

36. 发明专利

TW200632703A 測試機模擬系統及使用該系統之測試機模擬方法 TESTER SIMULATION SYSTEM AND TESTER SIMULATION METHOD USING SAME 失效
简体标题：测试机仿真系统及使用该系统之测试机仿真方法 TESTER SIMULATION SYSTEM AND TESTER SIMULATION METHOD USING SAME
公开(公告)号：TW200632703A
公开(公告)日：2006-09-16
申请号：TW094144216
申请日：2005-12-14
申请人：橫河電機股份有限公司 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION
发明人：小林文彥 KOBAYASHI, FUMIHIKO
IPC分类号： G06F , G01R
CPC分类号： G01R31/31901 , G01R31/318357 , G06F11/261
摘要：本發明之一目的為：應用一種能夠在短時間中求取各期望值判定時序之餘裕的測試機模擬系統，及使用此種系統的一種測試機模擬方法。本發明係應用一種測試機模擬系統藉著使用一測試機來對測試中之裝置執行測試，使用該測試機係藉由使用DUT模型與測試機模型來執行模擬，DUT模型係用以對測試中之裝置模擬其操作，而測試機模型係用以模擬測試機之操作。本測試模擬系統之特徵在於：包含一餘裕分析裝置，用以根據DUT模型之輸出資料來分析各期望值判定時序之餘裕。
简体摘要：本发明之一目的为：应用一种能够在短时间中求取各期望值判定时序之余裕的测试机仿真系统，及使用此种系统的一种测试机仿真方法。本发明系应用一种测试机仿真系统借着使用一测试机来对测试中之设备运行测试，使用该测试机系借由使用DUT模型与测试机模型来运行仿真，DUT模型系用以对测试中之设备仿真其操作，而测试机模型系用以仿真测试机之操作。本测试仿真系统之特征在于：包含一余裕分析设备，用以根据DUT模型之输出数据来分析各期望值判定时序之余裕。

37. 发明专利

TW200630601A 光源裝置 ILLUMINATOR 失效
简体标题：光源设备 ILLUMINATOR
公开(公告)号：TW200630601A
公开(公告)日：2006-09-01
申请号：TW095104229
申请日：2006-02-08
申请人：橫河電機股份有限公司 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION
发明人：市澤康史 ICHIZAWA, YASUSHI
IPC分类号： G01M , H01L
摘要：本發明之目的係在固態攝像元件中央部及周邊部，實現可照射均勻之檢查光的光源裝置。本發明係在使用於固態攝像元件之檢查的光源裝置加以改良後之裝置。本裝置具備：光產生部，用以輸出光；透鏡部，入射由此光產生部發出之光，將光照射於固態攝像元件；以及開口光圈，在此透鏡部與光產生部之間，配置於比透鏡部之焦距為短之希望的位置。
简体摘要：本发明之目的系在固态摄像组件中央部及周边部，实现可照射均匀之检查光的光源设备。本发明系在使用于固态摄像组件之检查的光源设备加以改良后之设备。本设备具备：光产生部，用以输出光；透镜部，入射由此光产生部发出之光，将光照射于固态摄像组件；以及开口光圈，在此透镜部与光产生部之间，配置于比透镜部之焦距为短之希望的位置。

38. 发明专利

TW200600764A 檢查用光源裝置 LIGHT EQUIPMENT FOR INSPECTION 失效
简体标题：检查用光源设备 LIGHT EQUIPMENT FOR INSPECTION
公开(公告)号：TW200600764A
公开(公告)日：2006-01-01
申请号：TW094116157
申请日：2005-05-18
申请人：橫河電機股份有限公司 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION
发明人：石橋昌宏 ISHIBASHI, MASAHIRO , 千田直道 CHIDA, NAOMICHI , 市澤康史 ICHIZAWA, YASUSHI , 高橋守 TAKAHASHI, MAMORU
IPC分类号： G01M
摘要：一種檢查用光源裝置，其會對多數的被檢查受光元件發出照射光，包含：成形部，將該照射光的射出面，成形為至少與該多數被檢查受光元件之受光部的排列的形狀約略相似的形狀；成像光學系統，將來自該成形部的射出光，成像於該被檢查受光元件的受光部。藉以防止照射範圍變廣，實現能夠檢查鄰接被檢查受光元件的檢查用光源裝置。
简体摘要：一种检查用光源设备，其会对多数的被检查受光组件发出照射光，包含：成形部，将该照射光的射出面，成形为至少与该多数被检查受光组件之受光部的排列的形状约略相似的形状；成像光学系统，将来自该成形部的射出光，成像于该被检查受光组件的受光部。借以防止照射范围变广，实现能够检查邻接被检查受光组件的检查用光源设备。

39. 发明专利

TW200522347A 繼電器 RELAY 审中-公开
简体标题：继电器 RELAY
公开(公告)号：TW200522347A
公开(公告)日：2005-07-01
申请号：TW093126311
申请日：2004-09-01
申请人：橫河電機股份有限公司 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION
发明人：渡邊哲也 WATANABE, TETSUYA , 野呂誠 NORO, MAKOTO , 娜洋浦普磊卜塔戈巴 PUREVDAGVA, NAYANBUU
IPC分类号： H01L
CPC分类号： H01H29/28 , H01H2029/008
摘要：一種繼電器，其包括形成於一絕緣件上之一流道、一個或多個形成於流道之一端或兩端的腔室、沿上述流道分佈的多個電極、封閉在上述一個或多個腔室內受熱膨脹遇冷收縮的氣體、形成於上述一個或多個腔室內的加熱或冷卻裝置、以及封閉於上述流道內的導電液。這種設計使上述至少兩個電極之一端與封閉於上述流道內的導電液金屬接觸，而其他電極之一端根據上述加熱冷卻裝置的導通或關斷使上述氣體膨脹或收縮從而與流動在上述流道內的導電液接觸或不接觸。此外，利用微機電系統技術形成流道、電極和腔室以及同時製造多個繼電器晶片以期成本的降低。
简体摘要：一种继电器，其包括形成于一绝缘件上之一流道、一个或多个形成于流道之一端或两端的腔室、沿上述流道分布的多个电极、封闭在上述一个或多个腔室内受热膨胀遇冷收缩的气体、形成于上述一个或多个腔室内的加热或冷却设备、以及封闭于上述流道内的导电液。这种设计使上述至少两个电极之一端与封闭于上述流道内的导电液金属接触，而其他电极之一端根据上述加热冷却设备的导通或关断使上述气体膨胀或收缩从而与流动在上述流道内的导电液接触或不接触。此外，利用微机电系统技术形成流道、电极和腔室以及同时制造多个继电器芯片以期成本的降低。

40. 发明专利

TW200937201A 記憶裝置、記憶系統及記憶裝置之設計用方法 MEMORY DEVICE, MEMORY SYSTEM AND METHOD FOR DESIGN OF MEMORY DEIVCE 审中-公开
简体标题：记忆设备、记忆系统及记忆设备之设计用方法 MEMORY DEVICE, MEMORY SYSTEM AND METHOD FOR DESIGN OF MEMORY DEIVCE
公开(公告)号：TW200937201A
公开(公告)日：2009-09-01
申请号：TW098101894
申请日：2009-01-19
申请人：橫河電機股份有限公司 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION
发明人：竹中勉 TAKENAKA, TSUTOMU
IPC分类号： G06F
CPC分类号： G06F13/4077
摘要：一種記憶裝置,包括但不限於至少一記憶體模組及複數個集中常數電路元件。該至少一記憶體模組電性耦合至一具有特性阻抗之傳輸系統。該複數個集中常數電路元件具有電感,並參照該至少一記憶體模組對稱設置於傳輸系統上。該複數個集中常數電路元件與該至少一記憶體模組合作而至少作為一低通濾波器執行。
简体摘要：一种记忆设备,包括但不限于至少一内存模块及复数个集中常数电路组件。该至少一内存模块电性耦合至一具有特性阻抗之传输系统。该复数个集中常数电路组件具有电感,并参照该至少一内存模块对称设置于传输系统上。该复数个集中常数电路组件与该至少一内存模块合作而至少作为一低通滤波器运行。

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