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11. 发明专利

TWI544219B 用以量測電容元件間之電容差之方法及系統有权
简体标题：用以量测电容组件间之电容差之方法及系统
公开(公告)号：TWI544219B
公开(公告)日：2016-08-01
申请号：TW101127819
申请日：2012-08-01
申请人：愛美科公司 , IMEC , 新力股份有限公司 , SONY CORPORATION
发明人：凡德普萊斯吉特 , VAN DER PLAS, GEERT , 澤田憲 , SAWADA, KEN , 宮森雄壹 , MIYAMORI, YUICHI , 安琪拉安格爾 , ANCHLIA, ANKUR , 摩恰阿布達爾卡林 , MERCHA, ABDELKARIM
IPC分类号： G01R27/26
CPC分类号： G01R27/2605 , G01B7/003 , G01R31/2853

12. 发明专利

TWI484194B 發射接收（ＴＸ－ＲＸ）電容感測器的補償電路失效
简体标题：发射接收（ＴＸ－ＲＸ）电容传感器的补偿电路
公开(公告)号：TWI484194B
公开(公告)日：2015-05-11
申请号：TW097148538
申请日：2008-12-12
申请人：賽普拉斯半導體公司 , CYPRESS SEMICONDUCTOR CORPORATION
发明人：安德理馬哈瑞塔 , MAHARYTA, ANDRIY , 維克特奎曼 , KREMIN, VIKTOR
IPC分类号： G01R27/26
CPC分类号： G01R27/2605 , G06F3/044

13. 发明专利

TW201517514A 使用三角積分轉換之電容近接偵測审中-公开
简体标题：使用三角积分转换之电容近接侦测
公开(公告)号：TW201517514A
公开(公告)日：2015-05-01
申请号：TW103120370
申请日：2014-06-12
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：寇蒂斯凱斯 , CURTIS, KEITH
IPC分类号： H03K17/955 , G01R27/26 , G06F3/044 , H03M3/00 , G01D5/24
CPC分类号： G01D5/2405 , G01D5/24 , G01R27/26 , G01R27/2605 , G05B2219/37284 , H03K17/955 , H03K2217/960725 , H03M3/456 , H03M3/462 , H03M3/494
摘要：藉由組合一個三角積分調變器與一電容分壓器電路以形成一高解析度電容轉數位轉換器來提供電容近接偵測。週期計數器及工作循環計數器自該三角積分調變器提供工作循環比，以用於在一物件近接於一電容感測器時，比較該電容感測器之電容值之改變。
简体摘要：借由组合一个三角积分调制器与一电容分压器电路以形成一高分辨率电容转数码转换器来提供电容近接侦测。周期计数器及工作循环计数器自该三角积分调制器提供工作循环比，以用于在一对象近接于一电容传感器时，比较该电容传感器之电容值之改变。

14. 发明专利

TW201514504A 用以測量電容之系統及裝置审中-公开
简体标题：用以测量电容之系统及设备
公开(公告)号：TW201514504A
公开(公告)日：2015-04-16
申请号：TW103126759
申请日：2014-08-05
申请人：是德科技股份有限公司 , KEYSIGHT THCHNOLOGIES, INC.
发明人：灘仁志 , NADA, HIROSHI , 高野健一 , TAKANO, KENICHI
IPC分类号： G01R27/26
CPC分类号： G01R27/2605 , G01R31/26 , G01R31/2601 , G01R31/2642 , G01R31/2648 , G01R31/2831
摘要：用以決定待測元件(「DUT」)上之電容之系統及方法。示例性實行方案包括電壓信號產生器，該電壓信號產生器產生以規則的時間間隔在高電壓與低電壓之間交替的電壓信號。該電壓信號產生器使DUT電流在該DUT中流動。該DUT電流包含回應於該電壓信號的漏電流及電容測量電流。電流信號產生器自該DUT接收該DUT電流。該電流信號產生器產生以該電壓信號之該等規則的時間間隔在高值與低值之間交替的相消電流信號，使得該相消電流信號取消穿過該DUT之該漏電流。信號測量電路接收取消該漏電流後剩餘的該電容測量電流，以產生具有用來決定該DUT之電容的輸出電壓值之輸出電壓。
简体摘要：用以决定待测组件(“DUT”)上之电容之系统及方法。示例性实行方案包括电压信号产生器，该电压信号产生器产生以守则的时间间隔在高电压与低电压之间交替的电压信号。该电压信号产生器使DUT电流在该DUT中流动。该DUT电流包含回应于该电压信号的漏电流及电容测量电流。电流信号产生器自该DUT接收该DUT电流。该电流信号产生器产生以该电压信号之该等守则的时间间隔在高值与低值之间交替的相消电流信号，使得该相消电流信号取消穿过该DUT之该漏电流。信号测量电路接收取消该漏电流后剩余的该电容测量电流，以产生具有用来决定该DUT之电容的输出电压值之输出电压。

15. 发明专利

TW201506416A 介電常數量測電路及介電常數量測方法审中-公开
简体标题：介电常数量测电路及介电常数量测方法
公开(公告)号：TW201506416A
公开(公告)日：2015-02-16
申请号：TW102128863
申请日：2013-08-12
申请人：國立臺灣大學 , NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY , 國立臺灣科技大學 , NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
发明人：林啓萬 , LIN, CHIIWANN , 彭盛裕 , PENG, SHENGYU , 陳柏伸 , CHEN, BOSHEN , 林志鴻 , LIN, JHIHHONG
IPC分类号： G01R27/26
CPC分类号： G01R27/2623 , G01N33/02
摘要：一種介電常數量測電路包含介電值感測器、振盪控制電路、波形轉換電路及計數檢出電路。振盪控制電路用以基於該介電值感測器對介電物質的反應而產生振盪波形；波形轉換電路用以將振盪波形轉換為多個除頻方波；計數檢出電路包含開關計數器、開關電路、參考電流源與電流積分器，開關電路受多個除頻方波控制而啟閉以使參考電流源間歇地為電流積分器充電，且開關計數器計數開關電路之開啟次數，當電流積分器的輸出電壓達到參考電壓值時，開關計數器停止計數開啟次數，開啟次數係反映振盪波形之振盪頻率。
简体摘要：一种介电常数量测电路包含介电值传感器、振荡控制电路、波形转换电路及计数检出电路。振荡控制电路用以基于该介电值传感器对介电物质的反应而产生振荡波形；波形转换电路用以将振荡波形转换为多个除频方波；计数检出电路包含开关计数器、开关电路、参考电流源与电流积分器，开关电路受多个除频方波控制而启闭以使参考电流源间歇地为电流积分器充电，且开关计数器计数开关电路之打开次数，当电流积分器的输出电压达到参考电压值时，开关计数器停止计数打开次数，打开次数系反映振荡波形之振荡频率。

16. 发明专利

TWI447402B 電容偵測裝置及應用該電容偵測裝置之電容式觸控系統有权
简体标题：电容侦测设备及应用该电容侦测设备之电容式触摸系统
公开(公告)号：TWI447402B
公开(公告)日：2014-08-01
申请号：TW101107381
申请日：2012-03-05
申请人：晨星半導體股份有限公司 , MSTAR SEMICONDUCTOR, INC
发明人：何闓廷 , HO, KAI TING , 洪國強 , HUNG, GUO KIANG
IPC分类号： G01R27/26 , G06F3/044
CPC分类号： G06F3/044 , G06F3/0416 , H03K17/962 , H03K2217/960705

17. 发明专利

TWI421511B 觸控面板有权
简体标题：触摸皮肤
公开(公告)号：TWI421511B
公开(公告)日：2014-01-01
申请号：TW099102672
申请日：2010-01-29
申请人：奇景光電股份有限公司 , HIMAX TECHNOLOGIES LIMITED
发明人：張耀光 , CHANG, YAW GUANG , 許晉峯 , HSU, CHIN FENG
IPC分类号： G01R27/26 , G06F3/044
CPC分类号： G06F3/044 , G06F3/0416

18. 发明专利

TWI413781B 取樣保持電路及其觸控感測裝置有权
简体标题：采样保持电路及其触摸传感设备
公开(公告)号：TWI413781B
公开(公告)日：2013-11-01
申请号：TW099118696
申请日：2010-06-09
申请人：君曜科技股份有限公司 , ZEITEC SEMICONDUCTOR CO., LTD
发明人：林澤琦 , LIN, TSE CHI , 樊曜仁 , FAN, YAO JEN
IPC分类号： G01R27/26

19. 发明专利

TWI410642B 電感偵測裝置與方法有权
简体标题：电感侦测设备与方法
公开(公告)号：TWI410642B
公开(公告)日：2013-10-01
申请号：TW100107375
申请日：2011-03-04
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：陳世杰 , CHEN, SHIH CHIEH , 林見儒 , LIN, JIAN RU
IPC分类号： G01R27/26
CPC分类号： G06F1/26

20. 发明专利

TWI401443B 電子元件檢測機構及方法有权
简体标题：电子组件检测机构及方法
公开(公告)号：TWI401443B
公开(公告)日：2013-07-11
申请号：TW097143610
申请日：2008-11-12
申请人：鋅詠豐精密科技股份有限公司
发明人：莊長光 , 黃明輝
IPC分类号： G01R27/26 , G01R1/067

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