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    • 11. 发明专利
    • 降低雜訊耦合作用之電路及其方法
    • 降低噪声耦合作用之电路及其方法
    • TW201306485A
    • 2013-02-01
    • TW100125748
    • 2011-07-21
    • 奇景光電股份有限公司HIMAX TECHNOLOGIES LIMITED
    • 林進富LIN, JIN FU
    • H03K5/24
    • 一種降低雜訊耦合(noise coupling)作用之方法,係適用於一比較器。比較器用以比較一輸入訊號對(a couple of input signal),並根據一閂鎖訊號(Latch),操作於一重置狀態及一比較狀態,且比較器具有一第一輸入端及一第二輸入端,分別用以接收輸入訊號對的一第一輸入訊號及一第二輸入訊號。此方法包含提供一第一反彈雜訊降低電容,其耦接於第一輸入端並與閂鎖訊號之間,用來降低一第一反彈雜訊;及提供一第二反彈雜訊降低電容,其耦接於第二輸入端並與閂鎖訊號之間,用來降低一第二反彈雜訊。
    • 一种降低噪声耦合(noise coupling)作用之方法,系适用于一比较器。比较器用以比较一输入信号对(a couple of input signal),并根据一闩锁信号(Latch),操作于一重置状态及一比较状态,且比较器具有一第一输入端及一第二输入端,分别用以接收输入信号对的一第一输入信号及一第二输入信号。此方法包含提供一第一反弹噪声降低电容,其耦接于第一输入端并与闩锁信号之间,用来降低一第一反弹噪声;及提供一第二反弹噪声降低电容,其耦接于第二输入端并与闩锁信号之间,用来降低一第二反弹噪声。
    • 19. 发明专利
    • 多位元週期的逐漸逼近式類比至數位轉換器
    • 多比特周期的逐渐逼近式模拟至数码转换器
    • TW201347417A
    • 2013-11-16
    • TW101116422
    • 2012-05-08
    • 奇景光電股份有限公司HIMAX TECHNOLOGIES LIMITED
    • 林進富LIN, JIN FU
    • H03M1/46H03M1/12
    • 一種多位元週期之逐漸逼近式類比至數位轉換器(SAR ADC)。主數位至類比轉換器(DAC)接收至少一輸入,且至少一輸出節點產生調整輸入。比較單元接收調整輸入。逐漸逼近(SAR)單元根據比較單元的比較輸出以產生一編碼,用以控制主數位至類比轉換器。參考電壓產生器受控於編碼,用以產生至少一參考電壓,其於每一相應週期被饋至比較單元,用以定義該週期的搜尋範圍,其中,後一週期的參考電壓之絕對值小於前一週期的參考電壓之絕對值,使得後一週期的搜尋範圍小於前一週期的搜尋範圍,且所有搜尋範圍均中跨於一基準電壓。
    • 一种多比特周期之逐渐逼近式模拟至数码转换器(SAR ADC)。主数码至模拟转换器(DAC)接收至少一输入,且至少一输出节点产生调整输入。比较单元接收调整输入。逐渐逼近(SAR)单元根据比较单元的比较输出以产生一编码,用以控制主数码至模拟转换器。参考电压产生器受控于编码,用以产生至少一参考电压,其于每一相应周期被馈至比较单元,用以定义该周期的搜索范围,其中,后一周期的参考电压之绝对值小于前一周期的参考电压之绝对值,使得后一周期的搜索范围小于前一周期的搜索范围,且所有搜索范围均中跨于一基准电压。
    • 20. 发明专利
    • 校正電容不匹配的逐漸逼近類比至數位轉換器及其方法
    • 校正电容不匹配的逐渐逼近模拟至数码转换器及其方法
    • TW201310918A
    • 2013-03-01
    • TW100129503
    • 2011-08-18
    • 奇景光電股份有限公司HIMAX TECHNOLOGIES LIMITED
    • 林進富LIN, JIN FU
    • H03M1/38H03M1/10
    • 一種電容不匹配校正方法,係用於一逐漸逼近類比至數位轉換器,其包含至少一電容陣列。所述之校正方法包含以下步驟:首先,配置至少二個補償電容,並從電容陣列中選擇一電容作為待測電容(capacitor-under-test);接著,控制電容陣列的電容端點及補償電容端點的接點電位,並根據所決定的接點電位來輸出一第一比較電壓;之後,根據第一比較電壓以及一第二比較電壓來控制一連串之比較,以輸出一連串相對應的數位位元;最後,根據數位位元來計算出一校正值,以校正待測電容之電容值。
    • 一种电容不匹配校正方法,系用于一逐渐逼近模拟至数码转换器,其包含至少一电容数组。所述之校正方法包含以下步骤:首先,配置至少二个补偿电容,并从电容数组中选择一电容作为待测电容(capacitor-under-test);接着,控制电容数组的电容端点及补偿电容端点的接点电位,并根据所决定的接点电位来输出一第一比较电压;之后,根据第一比较电压以及一第二比较电压来控制一连串之比较,以输出一连串相对应的数码比特;最后,根据数码比特来计算出一校正值,以校正待测电容之电容值。