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    • 102. 发明专利
    • 基板處理方法及基板處理裝置
    • 基板处理方法及基板处理设备
    • TWI254348B
    • 2006-05-01
    • TW094111506
    • 2005-04-12
    • 東京威力科創股份有限公司 TOKYO ELECTRON LIMITED
    • 稻富裕一郎 INATOMI, YUICHIRO
    • H01L
    • G03F7/40H01L21/0273H01L21/6715H01L21/67178H01L21/67184Y10T137/8593
    • 本發明之目的係提供一種可於基板面內均勻地形成所要尺寸的微細的光阻圖案之基板處理方法及基板處理裝置。於溶劑供給裝置中設置有可一面移動於晶圓表面上一面吐出使光阻圖案膨脹的溶劑蒸氣之溶劑蒸氣吐出噴嘴。然後,將完成顯影處理經形成光阻圖案的晶圓搬入溶劑供給裝置,使溶劑蒸氣吐出噴嘴移動於晶圓表面上,由溶劑蒸氣吐出噴嘴對晶圓表面上供給溶劑蒸氣。藉此,可對晶圓表面上的光阻圖案均勻地供給預定量的溶劑蒸氣。結果,可藉著該溶劑蒸氣使光阻圖案均勻地膨脹預定的尺寸,於晶圓面內均勻地形成最後所要尺寸的光阻圖案。
    • 本发明之目的系提供一种可于基板面内均匀地形成所要尺寸的微细的光阻图案之基板处理方法及基板处理设备。于溶剂供给设备中设置有可一面移动于晶圆表面上一面吐出使光阻图案膨胀的溶剂蒸气之溶剂蒸气吐出喷嘴。然后,将完成显影处理经形成光阻图案的晶圆搬入溶剂供给设备,使溶剂蒸气吐出喷嘴移动于晶圆表面上,由溶剂蒸气吐出喷嘴对晶圆表面上供给溶剂蒸气。借此,可对晶圆表面上的光阻图案均匀地供给预定量的溶剂蒸气。结果,可借着该溶剂蒸气使光阻图案均匀地膨胀预定的尺寸,于晶圆面内均匀地形成最后所要尺寸的光阻图案。
    • 103. 发明专利
    • 基板處理方法及基板處理裝置
    • 基板处理方法及基板处理设备
    • TW200539284A
    • 2005-12-01
    • TW094111506
    • 2005-04-12
    • 東京威力科創股份有限公司 TOKYO ELECTRON LIMITED
    • 稻富裕一郎 INATOMI, YUICHIRO
    • H01L
    • G03F7/40H01L21/0273H01L21/6715H01L21/67178H01L21/67184Y10T137/8593
    • 本發明之目的係提供一種可於基板面內均勻地形成所要尺寸的微細的光阻圖案之基板處理方法及基板處理裝置。於溶劑供給裝置中設置有可一面移動於晶圓表面上一面吐出使光阻圖案膨脹的溶劑蒸氣之溶劑蒸氣吐出噴嘴。然後,將完成顯影處理經形成光阻圖案的晶圓搬入溶劑供給裝置,使溶劑蒸氣吐出噴嘴移動於晶圓表面上,由溶劑蒸氣吐出噴嘴對晶圓表面上供給溶劑蒸氣。藉此,可對晶圓表面上的光阻圖案均勻地供給預定量的溶劑蒸氣。結果,可藉著該溶劑蒸氣使光阻圖案均勻地膨脹預定的尺寸,於晶圓面內均勻地形成最後所要尺寸的光阻圖案。
    • 本发明之目的系提供一种可于基板面内均匀地形成所要尺寸的微细的光阻图案之基板处理方法及基板处理设备。于溶剂供给设备中设置有可一面移动于晶圆表面上一面吐出使光阻图案膨胀的溶剂蒸气之溶剂蒸气吐出喷嘴。然后,将完成显影处理经形成光阻图案的晶圆搬入溶剂供给设备,使溶剂蒸气吐出喷嘴移动于晶圆表面上,由溶剂蒸气吐出喷嘴对晶圆表面上供给溶剂蒸气。借此,可对晶圆表面上的光阻图案均匀地供给预定量的溶剂蒸气。结果,可借着该溶剂蒸气使光阻图案均匀地膨胀预定的尺寸,于晶圆面内均匀地形成最后所要尺寸的光阻图案。