专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

TW201526703A 發光模組及其驅動方法审中-公开
简体标题：发光模块及其驱动方法
公开(公告)号：TW201526703A
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：TW102147462
申请日：2013-12-20
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：胡哲郕 , HU, CHE CHENG , 張志交 , CHANG, CHIH CHIAO
IPC分类号： H05B33/08
CPC分类号： H05B33/086
摘要：本發明揭露一種發光模組及其驅動方法。所述方法包含設置對應有不同發光頻譜的P個發光元件組成目標群組，每個發光元件分別於N個子頻段對應有N個功率參數。依據目標頻譜與目標群組中的P個發光元件的N×P個功率參數，計算出對應於目標群組中的P個發光元件的P個估計電流值，目標頻譜於N個子頻段對應有N個目標頻譜值。依據目標頻譜、對應於目標群組的N×P個功率參數與P個估計電流值，計算發光頻譜誤差。判斷發光頻譜誤差是否符合判斷準則，以選擇性地設定P個估計電流值為對應前述P個發光元件的驅動電流值。
简体摘要：本发明揭露一种发光模块及其驱动方法。所述方法包含设置对应有不同发光频谱的P个发光组件组成目标群组，每个发光组件分别于N个子频段对应有N个功率参数。依据目标频谱与目标群组中的P个发光组件的N×P个功率参数，计算出对应于目标群组中的P个发光组件的P个估计电流值，目标频谱于N个子频段对应有N个目标频谱值。依据目标频谱、对应于目标群组的N×P个功率参数与P个估计电流值，计算发光频谱误差。判断发光频谱误差是否符合判断准则，以选择性地设置P个估计电流值为对应前述P个发光组件的驱动电流值。

2. 发明专利

TW200540439A 具故障偵測功能之電子訊號傳遞裝置失效
简体标题：具故障侦测功能之电子信号传递设备
公开(公告)号：TW200540439A
公开(公告)日：2005-12-16
申请号：TW093115741
申请日：2004-06-02
申请人：致茂電子股份有限公司 CHROMA ATE INC.
发明人：莊嘉明 , 張志交 , 張家榮 CHANG, CHIA JUNG , 張立漢
IPC分类号： G01R
摘要：一種具故障偵測功能之電子訊號傳遞裝置，用以分別將複數個待測物中的一者導接至一測試儀器，該電子訊號傳遞裝置包含複數個輸入端、一輸出端、複數個機械式繼電器及一第一控制器，其特徵在於：該電子訊號傳遞裝置更包含一故障偵測模組，用以感測各該機械式繼電器是否正常工作並於感測到未正常工作時產生一警示訊號。
简体摘要：一种具故障侦测功能之电子信号传递设备，用以分别将复数个待测物中的一者导接至一测试仪器，该电子信号传递设备包含复数个输入端、一输出端、复数个机械式继电器及一第一控制器，其特征在于：该电子信号传递设备更包含一故障侦测模块，用以传感各该机械式继电器是否正常工作并于传感到未正常工作时产生一警示信号。

3. 发明专利

TWI698798B 一種多核心運算裝置及其運作方法有权
简体标题：一种多内核运算设备及其运作方法
公开(公告)号：TWI698798B
公开(公告)日：2020-07-11
申请号：TW107137140
申请日：2018-10-22
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：張志交 , CHANG, CHIH-CHIAO , 吳泰頤 , WU, TAI-I
IPC分类号： G06F9/50

4. 发明专利

TWI589180B 發光模組的驅動方法有权
简体标题：发光模块的驱动方法
公开(公告)号：TWI589180B
公开(公告)日：2017-06-21
申请号：TW102147462
申请日：2013-12-20
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：胡哲郕 , HU, CHE CHENG , 張志交 , CHANG, CHIH CHIAO
IPC分类号： H05B33/08
CPC分类号： H05B33/086

5. 发明专利

TWI438445B 信號延遲時間之量測方法有权
简体标题：信号延迟时间之量测方法
公开(公告)号：TWI438445B
公开(公告)日：2014-05-21
申请号：TW099142087
申请日：2010-12-03
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：張志交
IPC分类号： G01R23/175

6. 发明专利

TWI420903B 拖曳亮影現象補正方法有权
简体标题：拖曳亮影现象补正方法
公开(公告)号：TWI420903B
公开(公告)日：2013-12-21
申请号：TW099131963
申请日：2010-09-21
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：翁義龍 , 楊欣泰 , 王遵義 , 張志交
IPC分类号： H04N5/30

7. 发明专利

TW202027468A 網路封包處理方法及其裝置审中-公开
简体标题：网络封包处理方法及其设备
公开(公告)号：TW202027468A
公开(公告)日：2020-07-16
申请号：TW107147860
申请日：2018-12-28
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：張志交 , CHANG, CHIH CHIAO , 余嘉偉 , YU, CHIA WEI , 劉哲鴻 , LIU, CHE HUNG
IPC分类号： H04L12/70
摘要：一種網路封包處理方法，其中網路封包包含複數個位元組，位元組的類別包含檔頭類別、應用類別、以及檢查類別，網路封包處理方法，包含：接收屬於檔頭類別的全部位元組；以及根據設定資訊接收並解析屬於應用類別的部分位元組直到接收到屬於應用類別的指定位元組為止。
简体摘要：一种网络封包处理方法，其中网络封包包含复数个字节，字节的类别包含档头类别、应用类别、以及检查类别，网络封包处理方法，包含：接收属于档头类别的全部字节；以及根据设置信息接收并解析属于应用类别的部分字节直到接收到属于应用类别的指定字节为止。

8. 发明专利

TWI672023B 網路封包處理方法及其裝置有权
简体标题：网络封包处理方法及其设备
公开(公告)号：TWI672023B
公开(公告)日：2019-09-11
申请号：TW107147860
申请日：2018-12-28
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：張志交 , CHANG, CHIH CHIAO , 余嘉偉 , YU, CHIA WEI , 劉哲鴻 , LIU, CHE HUNG
IPC分类号： H04L12/70

9. 发明专利

TWI385363B 建構光源量測對照表之方法、光源量測方法及光源量測系統有权
简体标题：建构光源量测对照表之方法、光源量测方法及光源量测系统
公开(公告)号：TWI385363B
公开(公告)日：2013-02-11
申请号：TW098101419
申请日：2009-01-15
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：王遵義 , WANG, TSUN I , 馮清章 , FONG, CHING JANG , 張志交 , CHANG, CHIH CHIAO
IPC分类号： G01J3/50

10. 发明专利

TW201224469A 信號延遲時間之量測方法审中-公开
简体标题：信号延迟时间之量测方法
公开(公告)号：TW201224469A
公开(公告)日：2012-06-16
申请号：TW099142087
申请日：2010-12-03
申请人：致茂電子股份有限公司
发明人：張志交
IPC分类号： G01R
摘要：一種信號延遲時間之量測方法，係用以求得待測信號中之第一週期波與第二週期波間之信號延遲時間，該量測方法係包括於一起點時間與一終點時間範圍內，擷取第一週期波以成為第一取樣信號；自距離起點時間與終點時間之預設整數倍數之粗略週期範圍內，擷取第二週期波以成為第二取樣信號；計算第一取樣信號之第一振幅總和；計算第二取樣信號之第二振幅總和；利用第一振幅總和與第二振幅總和之總振幅差值、第一週期波於起點時間處之振幅、第一週期波於終點時間處之振幅、起點時間與結束時間求得信號延遲時間。
简体摘要：一种信号延迟时间之量测方法，系用以求得待测信号中之第一周期波与第二周期波间之信号延迟时间，该量测方法系包括于一起点时间与一终点时间范围内，截取第一周期波以成为第一采样信号；自距离起点时间与终点时间之默认整数倍数之粗略周期范围内，截取第二周期波以成为第二采样信号；计算第一采样信号之第一振幅总和；计算第二采样信号之第二振幅总和；利用第一振幅总和与第二振幅总和之总振幅差值、第一周期波于起点时间处之振幅、第一周期波于终点时间处之振幅、起点时间与结束时间求得信号延迟时间。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式