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1. 发明专利

TW201534944A 測試分選機及測試分選機中測試托盤的循環方法审中-公开
简体标题：测试分选机及测试分选机中测试托盘的循环方法
公开(公告)号：TW201534944A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：TW104106595
申请日：2015-03-03
申请人：泰克元有限公司 , TECHWING CO., LTD.
发明人：羅閏成 , NA, YUN-SUNG , 權寧鎬 , KWEON, YOUNG-HO , 盧鍾基 , NOH, JONG KI
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2874 , G01R31/2867 , H01L21/67248
摘要：一種測試分選機中測試托盤的循環方法，該方法包括：在第一溫度條件測試模式的情況下，首先使測試托盤沿著第一循環路徑循環；以及，在不同於第一溫度條件測試模式的第二溫度條件測試模式的情況下，其次，使測試托盤沿著第二循環路徑循環，其中，第一循環路徑和第二循環路徑至少在一些段中在測試托盤的傳輸方向上彼此不同。
简体摘要：一种测试分选机中测试托盘的循环方法，该方法包括：在第一温度条件测试模式的情况下，首先使测试托盘沿着第一循环路径循环；以及，在不同于第一温度条件测试模式的第二温度条件测试模式的情况下，其次，使测试托盘沿着第二循环路径循环，其中，第一循环路径和第二循环路径至少在一些段中在测试托盘的传输方向上彼此不同。

2. 发明专利

TWI561834B 測試分選機及測試分選機中測試托盤的循環方法有权
简体标题：测试分选机及测试分选机中测试托盘的循环方法
公开(公告)号：TWI561834B
公开(公告)日：2016-12-11
申请号：TW104106595
申请日：2015-03-03
申请人：泰克元有限公司 , TECHWING CO., LTD.
发明人：羅閏成 , NA, YUN-SUNG , 權寧鎬 , KWEON, YOUNG-HO , 盧鍾基 , NOH, JONG KI
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2874 , G01R31/2867 , H01L21/67248

3. 发明专利

TWI542886B 測試分選機有权
简体标题：测试分选机
公开(公告)号：TWI542886B
公开(公告)日：2016-07-21
申请号：TW102135643
申请日：2013-10-02
申请人：泰克元有限公司 , TECHWING CO., LTD.
发明人：具泰興 , KU, TAE HUNG , 盧鐘基 , NOH, JONG KI
IPC分类号： G01R31/26

4. 发明专利

TW201415049A 測試分選機审中-公开
简体标题：测试分选机
公开(公告)号：TW201415049A
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：TW102135643
申请日：2013-10-02
申请人：泰克元有限公司 , TECHWING CO., LTD.
发明人：具泰興 , KU, TAE HUNG , 盧鐘基 , NOH, JONG KI
IPC分类号： G01R31/26
摘要：本發明公開了一種支援半導體裝置測試的測試分選機。該測試分選機包括乾燥空氣供給裝置，用於將乾燥空氣供給至測試室的測試窗，因此防止在進行低溫測試時可能出現的結露現象。
简体摘要：本发明公开了一种支持半导体设备测试的测试分选机。该测试分选机包括干燥空气供给设备，用于将干燥空气供给至测试室的测试窗，因此防止在进行低温测试时可能出现的结露现象。

5. 发明专利

TW201732304A 電子部件裝載狀態檢測裝置审中-公开
简体标题：电子部件装载状态检测设备
公开(公告)号：TW201732304A
公开(公告)日：2017-09-16
申请号：TW105143652
申请日：2016-12-28
申请人：泰克元有限公司 , TECHWING CO., LTD.
发明人：盧種基 , NOH, JONG KI , 李斗吉 , LEE, DOO GIL
IPC分类号： G01R31/26 , G01N21/956 , G06K9/46
摘要：本發明係關於電子部件裝載狀態檢測裝置，包括：至少一個光照射器，對裝載於位於檢測位置的裝載托盤的複數個電子部件照射光；至少一個攝影機，對通過上述光照射器來照射光的複數個電子部件進行拍攝；分析器，對通過上述攝影機獲得的圖像內的光的形態進行分析來檢測電子部件的裝載狀態，從正面觀察時，連接反射點和上述攝影機的第一直線和連接上述反射點和上述光照射器的第二直線形成的角度大於0度小於180度，上述反射點為通過上述至少一個光照射器向複數個電子部件照射的光與複數個電子部件相接位置。並且公開了利用所照射的光的變化形態來檢測電子部件的裝載狀態，處理速度快並準確地確認電子部件的裝載狀態的技術。
简体摘要：本发明系关于电子部件装载状态检测设备，包括：至少一个光照射器，对装载于位于检测位置的装载托盘的复数个电子部件照射光；至少一个摄影机，对通过上述光照射器来照射光的复数个电子部件进行拍摄；分析器，对通过上述摄影机获得的图像内的光的形态进行分析来检测电子部件的装载状态，从正面观察时，连接反射点和上述摄影机的第一直线和连接上述反射点和上述光照射器的第二直线形成的角度大于0度小于180度，上述反射点为通过上述至少一个光照射器向复数个电子部件照射的光与复数个电子部件相接位置。并且公开了利用所照射的光的变化形态来检测电子部件的装载状态，处理速度快并准确地确认电子部件的装载状态的技术。

6. 发明专利

TWI589896B 測試分選機有权
简体标题：测试分选机
公开(公告)号：TWI589896B
公开(公告)日：2017-07-01
申请号：TW104139313
申请日：2015-11-26
申请人：泰克元有限公司 , TECHWING CO.,LTD.
发明人：羅閏成 , NA, YUN-SUNG , 盧鍾基 , NOH, JONG KI
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2867 , G01R31/2874

7. 发明专利

TWI611194B 電子部件裝載狀態檢測裝置有权
简体标题：电子部件装载状态检测设备
公开(公告)号：TWI611194B
公开(公告)日：2018-01-11
申请号：TW105143652
申请日：2016-12-28
申请人：泰克元有限公司 , TECHWING CO., LTD.
发明人：盧種基 , NOH, JONG KI , 李斗吉 , LEE, DOO GIL
IPC分类号： G01R31/26 , G01N21/956 , G06K9/46

8. 发明专利

TW201619624A 測試分選機审中-公开
简体标题：测试分选机
公开(公告)号：TW201619624A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：TW104139313
申请日：2015-11-26
申请人：泰克元有限公司 , TECHWING CO.,LTD.
发明人：羅閏成 , NA, YUN-SUNG , 盧鍾基 , NOH, JONG KI
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2867 , G01R31/2874
摘要：一種測試分選機包括：載入裝置，配置為將電子部件載入測試盤；測試室，包括配置為與每個電子部件緊密接觸以測試每個電子部件的測試器；推動裝置，配置為朝向測試器推動安裝在測試盤上的每個電子部件；以及卸載裝置，配置為從測試盤上卸載在測試室中測試的每個電子部件，其中推動裝置包括配置為將壓力傳遞至電子部件的壓板、設置在壓板的中心部分中以在水準方向上延伸的第一軌道、具有配置為與第一軌道接觸的下端部分的上匹配板、具有配置為與第一軌道接觸的上端部分的下匹配板、以及設置在上、下匹配板中以與電子部件接觸的多個推動器。
简体摘要：一种测试分选机包括：加载设备，配置为将电子部件加载测试盘；测试室，包括配置为与每个电子部件紧密接触以测试每个电子部件的测试器；推动设备，配置为朝向测试器推动安装在测试盘上的每个电子部件；以及卸载设备，配置为从测试盘上卸载在测试室中测试的每个电子部件，其中推动设备包括配置为将压力传递至电子部件的压板、设置在压板的中心部分中以在水准方向上延伸的第一轨道、具有配置为与第一轨道接触的下端部分的上匹配板、具有配置为与第一轨道接触的上端部分的下匹配板、以及设置在上、下匹配板中以与电子部件接触的多个推动器。

9. 发明专利

TW201734482A 電子部件測試用分選機审中-公开
简体标题：电子部件测试用分选机
公开(公告)号：TW201734482A
公开(公告)日：2017-10-01
申请号：TW106107197
申请日：2017-03-06
申请人：泰克元有限公司 , TECHWING, INC.
发明人：盧種基 , NOH, JONG KI , 尹廣熙 , YOON, KWANG HEE , 李斗吉 , LEE, DOO GIL
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66 , H01L21/677
摘要：本發明關於電子部件測試用分選機。本發明的電子部件測試用分選機包括：加載裝置，用於將待測試的複數個電子部件從供給用托盤加載至測試托盤；連接裝置，用於使裝載於上述測試托盤的複數個電子部件與測試器電連接；卸載裝置，用於從測試托盤卸載完成測試的複數個電子部件並使電子部件向回收用托盤移動；以及緩衝裝置，具有能夠在上述加載裝置的工作區域與上述卸載裝置的工作區域之間移動的緩衝台。而且，根據需要，緩衝裝置使上述緩衝台在上述加載裝置的工作區域與上述卸載裝置的工作區域之間移動，從而使上述緩衝台靈活應用於藉助上述加載裝置進行的加載工作和藉助上述卸載裝置進行的卸載工作。
简体摘要：本发明关于电子部件测试用分选机。本发明的电子部件测试用分选机包括：加载设备，用于将待测试的复数个电子部件从供给用托盘加载至测试托盘；连接设备，用于使装载于上述测试托盘的复数个电子部件与测试器电连接；卸载设备，用于从测试托盘卸载完成测试的复数个电子部件并使电子部件向回收用托盘移动；以及缓冲设备，具有能够在上述加载设备的工作区域与上述卸载设备的工作区域之间移动的缓冲台。而且，根据需要，缓冲设备使上述缓冲台在上述加载设备的工作区域与上述卸载设备的工作区域之间移动，从而使上述缓冲台灵活应用于借助上述加载设备进行的加载工作和借助上述卸载设备进行的卸载工作。

10. 发明专利

TWI611195B 電子部件測試用分選機有权
简体标题：电子部件测试用分选机
公开(公告)号：TWI611195B
公开(公告)日：2018-01-11
申请号：TW106107197
申请日：2017-03-06
申请人：泰克元有限公司 , TECHWING, INC.
发明人：盧種基 , NOH, JONG KI , 尹廣熙 , YOON, KWANG HEE , 李斗吉 , LEE, DOO GIL
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66 , H01L21/677

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