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1. 发明专利

TW200609720A 測試模擬器、儲存模擬程式的記錄媒體以及半導體元件製造方法 TESTING EMULATOR, EMULATING PROGRAM AND MANVFA CTVRING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE 失效
简体标题：测试仿真器、存储仿真进程的记录媒体以及半导体组件制造方法 TESTING EMULATOR, EMULATING PROGRAM AND MANVFA CTVRING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
公开(公告)号：TW200609720A
公开(公告)日：2006-03-16
申请号：TW094127994
申请日：2005-08-17
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：多田秀樹 TADA, HIDEKI , 堀光男 HORI, MITSUO , 片岡孝浩 KATAOKA, TAKAHIRO
IPC分类号： G06F
CPC分类号： G06F11/24 , G01R31/31703 , G06F11/261 , G06F11/277
摘要：一種測試模擬器，模擬半導體元件的測試，包括：測試圖案供給裝置，對模擬半導體元件的動作的元件模擬器供給測試圖案；期望值儲存裝置，把依測試圖案從元件模擬器輸出的輸出信號與預定的期望值相比較的比較時點，對應到比較時點的期望值而儲；邊緣判斷裝置，在比較時點中輸出信號與期望值一致的場合時，判斷輸出信號與期望值一致的邊緣的大小；以及通知裝置，當邊緣的大小比基準值還要小時，把比較時點的邊緣小的標題通知給使用者。
简体摘要：一种测试仿真器，仿真半导体组件的测试，包括：测试图案供给设备，对仿真半导体组件的动作的组件仿真器供给测试图案；期望值存储设备，把依测试图案从组件仿真器输出的输出信号与预定的期望值相比较的比较时点，对应到比较时点的期望值而储；边缘判断设备，在比较时点中输出信号与期望值一致的场合时，判断输出信号与期望值一致的边缘的大小；以及通知设备，当边缘的大小比基准值还要小时，把比较时点的边缘小的标题通知给用户。

2. 发明专利

TW200611118A 測試模擬器、測試模擬程式以及記錄媒體 TESTING SIMULATOR, TESTING SIMULATIN PROGRAM AND RECORD MEDIUM 失效
简体标题：测试仿真器、测试仿真进程以及记录媒体 TESTING SIMULATOR, TESTING SIMULATIN PROGRAM AND RECORD MEDIUM
公开(公告)号：TW200611118A
公开(公告)日：2006-04-01
申请号：TW094133063
申请日：2005-09-23
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：多田秀樹 TADA, HIDEKI , 堀光男 HORI, MITSUO , 片岡孝浩 KATAOKA, TAKAHIRO
IPC分类号： G06F
CPC分类号： G06F17/5022 , G01R31/3183 , G01R31/318357 , G06F11/263
摘要：本發明提供一種測試模擬器，其用來模擬半導體裝置的測試，此測試模擬器包括：測試圖樣(pattern)保持組件，其保持著應施加至半導體裝置之既存的測試圖樣；裝置輸出保持組件，其在施加既存的測試圖樣至半導體裝置中時預先保持著應由半導體裝置所得到的輸出；測試圖樣產生組件，其產生應施加至半導體裝置中之新的測試圖樣；測試圖樣判斷組件，其判斷”新的測試圖樣是否與既存的測試圖樣相同”；以及模擬跳過(skip)組件，在新的測試圖樣與既存的測試圖樣相同之情況下，不對半導體裝置施加新的測試圖樣，藉由裝置輸出保持組件中的輸出被讀出，以作為由半導體裝置對新的測試圖樣所發出的輸出，以跳過此模擬測試的至少一部。
简体摘要：本发明提供一种测试仿真器，其用来仿真半导体设备的测试，此测试仿真器包括：测试图样(pattern)保持组件，其保持着应施加至半导体设备之既存的测试图样；设备输出保持组件，其在施加既存的测试图样至半导体设备中时预先保持着应由半导体设备所得到的输出；测试图样产生组件，其产生应施加至半导体设备中之新的测试图样；测试图样判断组件，其判断”新的测试图样是否与既存的测试图样相同”；以及仿真跳过(skip)组件，在新的测试图样与既存的测试图样相同之情况下，不对半导体设备施加新的测试图样，借由设备输出保持组件中的输出被读出，以作为由半导体设备对新的测试图样所发出的输出，以跳过此仿真测试的至少一部。

3. 发明专利

TW200636272A 測試裝置、測試方法、電子元件的生產方法、測試模擬器以及測試模擬方法 TEST EQUIPMENT, TEST METHOD, MANUFACTURING METHOD OF ELECTRONIC DEVICE, TEST SIMULATOR, AND TEST SIMULATION METHOD 失效
简体标题：测试设备、测试方法、电子组件的生产方法、测试仿真器以及测试仿真方法 TEST EQUIPMENT, TEST METHOD, MANUFACTURING METHOD OF ELECTRONIC DEVICE, TEST SIMULATOR, AND TEST SIMULATION METHOD
公开(公告)号：TW200636272A
公开(公告)日：2006-10-16
申请号：TW095107592
申请日：2006-03-07
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：多田秀樹 TADA, HIDEKI , 堀光男 HORI, MITSUO , 片岡孝浩 KATAOKA, TAKAHIRO , 關口宏之 SEKIGUCHI, HIROYUKI
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31932 , G01R31/31928 , G01R31/31937
摘要：一種測試裝置，利用測試由電子元件輸出的多個輸出訊號，各個發生變化的時間之相關性，而能以更高之精度識別電子元件的良否。此測試裝置供給電子元件測試訊號，並將該電子元件輸出的多個輸出訊號，各個與期待值比較以測試電子元件。此測試裝置包括：基準時刻檢測部，檢測出一個輸出訊號發生變化的現象；設定部，預先設定：由一個輸出訊號發生變化到另一個輸出訊號發生變化的最小時間；取入部，在檢測出一個輸出訊號發生變化時起，經過該最小時間的時刻止，取得另一個輸出訊號之值；以及識別部，取入部取得的該另一個輸出訊號之值，與經過最小時間後的另一個輸出訊號之應該取得之值不一致時，識別該電子元件為不良品。
简体摘要：一种测试设备，利用测试由电子组件输出的多个输出信号，各个发生变化的时间之相关性，而能以更高之精度识别电子组件的良否。此测试设备供给电子组件测试信号，并将该电子组件输出的多个输出信号，各个与期待值比较以测试电子组件。此测试设备包括：基准时刻检测部，检测出一个输出信号发生变化的现象；设置部，预先设置：由一个输出信号发生变化到另一个输出信号发生变化的最小时间；取入部，在检测出一个输出信号发生变化时起，经过该最小时间的时刻止，取得另一个输出信号之值；以及识别部，取入部取得的该另一个输出信号之值，与经过最小时间后的另一个输出信号之应该取得之值不一致时，识别该电子组件为不良品。

4. 发明专利

TW200513660A 測試程式除錯裝置及半導體測試裝置及測試程式除錯方法以及測試方法 DEBUGGING APPARATUS FOR TESTING PROGRAM AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND DEBUGGING AND TESTING METHOD FOR TESTING PROGAME 失效
简体标题：测试进程调试设备及半导体测试设备及测试进程调试方法以及测试方法 DEBUGGING APPARATUS FOR TESTING PROGRAM AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND DEBUGGING AND TESTING METHOD FOR TESTING PROGAME
公开(公告)号：TW200513660A
公开(公告)日：2005-04-16
申请号：TW093130319
申请日：2004-10-07
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：堀光男 HORI, MITSUO , 多田秀樹 TADA, HIDEKI , 片岡孝浩 KATAOKA, TAKAHIRO , 關口宏之 SEKIGUCHI, HIROYUKI , 夢川一男 MUKAWA, KAZUO
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G06F11/263 , G01R31/318314
摘要：本發明提供一種測試程式除錯裝置、半導體測試裝置、測試程式除錯方法及測試方法。本發明的測試程式除錯裝置，包括被測試元件模擬設備及半導體測試裝置模擬設備。半導體測試裝置模擬設備具有驗證範圍獲取部、指令簡單化部與指令執行部。驗證範圍獲取部是用於獲取測試程式中應驗證之指令的範圍，亦即驗證範圍。指令簡單化部是將設定指令以外的非設定指令加以簡化，其中設定指令是用來對測試程式中之驗證範圍以外的範圍(即非驗證範圍)中所包含之非驗證範圍的指令，進行被測試元件模擬設備的設定。指令執行部是用於執行驗證範圍中所包含的驗證範圍指令、設定指令以及被指令簡單化部所簡化之非設定指令。
简体摘要：本发明提供一种测试进程调试设备、半导体测试设备、测试进程调试方法及测试方法。本发明的测试进程调试设备，包括被测试组件仿真设备及半导体测试设备仿真设备。半导体测试设备仿真设备具有验证范围获取部、指令简单化部与指令运行部。验证范围获取部是用于获取测试进程中应验证之指令的范围，亦即验证范围。指令简单化部是将设置指令以外的非设置指令加以简化，其中设置指令是用来对测试进程中之验证范围以外的范围(即非验证范围)中所包含之非验证范围的指令，进行被测试组件仿真设备的设置。指令运行部是用于运行验证范围中所包含的验证范围指令、设置指令以及被指令简单化部所简化之非设置指令。

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