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1. 发明授权

KR101985170B1 동적 편광 제어기를 이용한 편광 측정 및 조절 방법과 이를 이용한 장치 有权
公开(公告)号：KR101985170B1
公开(公告)日：2019-06-03
申请号：KR1020140150103
申请日：2014-10-31
申请人： 아이디 퀀티크 에스.에이.
发明人： 김장면
IPC分类号： G02B27/28 , G02B5/30 , G02F1/01 , G01J4/04 , G01J4/00

2. 发明授权

KR101855797B1 편광기의 비직교 배열을 이용한 투과축 측정 시스템 有权
公开(公告)号：KR101855797B1
公开(公告)日：2018-06-20
申请号：KR1020160166524
申请日：2016-12-08
申请人： 한국기초과학지원연구원
发明人： 고진석
IPC分类号： G01J4/04 , G01J1/04
CPC分类号： G01J1/04 , G01J4/04 , G01J1/0411
摘要： 본발명에따른편광기의비직교배열을이용한투과축측정시스템은일방향으로입사광을발산하는광원; 광원에서발산되는입사광의수평방향각도(ε)와수직방향각도(η)가변경되는편광기; 편광기의수평방향각도(ε)와수직방향각도(η) 변경을제어하는각도조절메커니즘; 상기편광기와비직교(non-normal)로배열된편광측정계; 편광측정계를투과하여편광된입사광을집중시키는집속렌즈; 집속렌즈와대향하는광축선상에배치되고상기집속렌즈를통과한입사광의광량을측정하는광검출기; 광검출기에서광량이측정됨에따라투과축θ을계산하는투과축계산모듈;을포함하여, 유도된관계을통해투과축측정을위한셋업과정에서발생하는오차들을반영하여편광기투과축을신속하고정확하게측정할수 있는효과가있고, 편광기의의도적인비직교배열을이용하여동일한편광기로다양한편광신호를발생시킴으로써, 향상된편광분해능을활용하여신호의수송및 저장, 정보의암호화등에확장응용할수 있는현저한효과가있다.

3. 发明授权

KR101594308B1 편광기의 투과축 측정장치를 이용한 편광기의 투과축 측정방법 有权
标题翻译：使用测量偏振器传输轴的设备测量偏振器传输轴的方法
公开(公告)号：KR101594308B1
公开(公告)日：2016-02-18
申请号：KR1020140089218
申请日：2014-07-15
申请人： 한국기초과학지원연구원
发明人： 고진석
IPC分类号： G01M11/00 , G01J4/04
摘要： 본발명에따르면, 편광기(10)의투과축(RX)을측정하기위한투과축측정장치에있어서, 일방향으로평행한입사광을발산하는광원(110); 상기광원(110)과대향하는상기입사광의광축선상에배치되며, 정방형의형상을갖는편광빔스플리터(120); 상기편광빔스플리터(120)의하부에배치되어편광빔스플리터(120)의수직축(L1)을중심으로편광빔스플리터(120)를수평회전시키는각도조절메커니즘(130); 상기편광빔스플리터(120)와대향하는상기광축선상에배치되고, 상기편광기(10)의둘레가장착되어상기편광기(10)가수직배치된상태에서입사면이상기편광빔스플리터(120)를대향하도록위치를고정시키며, 상기입사광의광축을중심으로편광기(10)를수직회전시키는회전메커니즘(140); 상기회전메커니즘(140)과대향하는상기광축선상에배치되어상기회전메커니즘(140)을투과하여편광된입사광을집중시키는집속렌즈(150); 및상기집속렌즈(150)와대향하는상기광축선상에배치되고, 상기집속렌즈(150)를투과하여집중된입사광의광량을측정하는광검출기(160);를포함하는편광기의투과축측정장치를개시한다.

4. 发明公开

KR1020150069516A 편광 해석 장치 审中-实审
标题翻译：极化分析装置
公开(公告)号：KR1020150069516A
公开(公告)日：2015-06-23
申请号：KR1020140164291
申请日：2014-11-24
申请人： 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤
发明人： 스기타가즈히로 , 야마자키유스케 , 오츠카하루카
IPC分类号： G01J4/04 , G01N21/21
CPC分类号： G01N21/211 , G01N2021/213 , G01N2201/0675
摘要： 샘플의편광특성을신속히측정하는것이가능한편광해석장치를제공한다. 본발명의편광해석장치는, 소정의파장영역을갖는광을출사하는광원(2)과, 광원(2)으로부터출사된광이투과하는편광자(32)와, 샘플 S로부터의광이투과하는공간위상변조기(5)와, 공간위상변조기(5)를투과한광이투과하는검광자(42)와, 검광자(42)를투과한광을수광하는이미지분광기(6)를구비한다. 공간위상변조기(5)는복굴절재료를포함하고, 광축과직교하는면 내의제1 방향의각 위치에서위상차가서로다르다. 이미지분광기(6)는광축과직교하는면 내의제1 방향과는다른제2 방향으로분광한다.
摘要翻译：提供了一种可以快速测量样品的偏振特性的偏振分析装置。本发明的偏振分析装置包括：发射具有一定波长区域的光的光源（2）; 偏振器（32），其被从光源（2）发射的光穿透; 由来自样品S的光穿透的空间相位调制器（5）; 由穿过空间相位调制器（5）的光穿透的分析器（42）; 以及接收穿过分析器（42）的光的图像分光计（6）。空间相位调制器（5）包括双折射材料，并且在与光轴成直角交叉的平面中的第一方向上的位置具有不同的相位差。图像分光器（6）在与光轴成直角交叉的平面中的与第一方向不同的第二方向上进行光谱。

5. 发明公开

KR1020060108273A 광경로 보호형 진공자외선 분광타원해석기 无效
标题翻译：光谱真空紫外光谱椭偏仪
公开(公告)号：KR1020060108273A
公开(公告)日：2006-10-17
申请号：KR1020060097191
申请日：2006-10-02
申请人： 한양대학교 산학협력단
发明人： 안일신 , 방경윤 , 최은호 , 오혜근
IPC分类号： G01N21/21 , G01J4/04
摘要： 본 발명은, 자외선 발광을 위한 광원과, 편광발생기와, 시편장착대와, 편광분석기와, 분광기와, 검출기와, 상기 시편장착대를 감싸는 시편챔버와, 상기 광원과 상기 시편장착대 사이의 광경로를 감싸고 상기 시편장착대를 향한 일단이 상기 시편챔버 내부로 인입되는 제 1 소형챔버와, 상기 시편장착대와 상기 검출기 사이의 광경로를 감싸고 상기 시편장착대를 향한 일단이 상기 시편챔버 내부로 인입되는 제 2 소형챔버와, 상기 시편챔버 내부의 분위기를 조절하는 조절장치를 포함하여 구성되어, 진공자외선과 공기와의 접촉을 차단하여 진공자외선이 공기 중 산소에 흡수되는 현상을 방지할 수 있고, 소량의 고순도 질소만으로도 챔버 내부의 산소 및 불순물을 제거할 수 있으므로 질소 공급장치의 용량 및 크기를 소형화시킬 수 있는 광경로 보호형 � �공자외선 분광타원해석기를 제공한다.
타원해석기, 자외선, 공기, 진공, 질소

6. 发明授权

KR100598860B1 키노폼 회절격자 광분배기를 이용한 편광 측정기 失效
标题翻译：偏光仪使用Kinoform光栅进行光束激发
公开(公告)号：KR100598860B1
公开(公告)日：2006-07-10
申请号：KR1020040038482
申请日：2004-05-28
申请人： 광주과학기술원
发明人： 김덕영 , 진상훈 , 이지용
IPC分类号： G01J4/04
摘要： 본 발명은 키노폼 회절격자를 광분배기로 이용하여 광의 편광상태를 측정하는 편광 측정기에 관한 것으로, 소정두께를 갖는 불투명재질의 평판에 광이 통과할 수 있는 투광부가 종방향과 횡방향을 따라 규칙적으로 형성되어서, 입사되는 광이 회절현상에 의해 분배되도록 하는 광분배기와; 상기 광분배기에 의해 분배된 분배광을 편광 시키는 편광자가 구비된 광학계; 및, 편광된 광신호를 수광하여 전기신호 및/또는 전기에너지로 전환시키는 수광부재가 구비된 광검출기로 이루어진 것이다.

7. 发明公开

KR1020050117287A 편광 분석장치 및 편광 분석방법 有权
标题翻译：用于检测极化的装置和方法
公开(公告)号：KR1020050117287A
公开(公告)日：2005-12-14
申请号：KR1020040042552
申请日：2004-06-10
申请人： (주)파이버프로
发明人： 이봉완 , 정호진
IPC分类号： G01J4/00 , G01J4/04
摘要： 본 발명은 빛의 편광 상태를 측정하는 장치 및 그 측정 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 편광 측정 장치는 회전하는 위상 지연판, 위상 지연판을 통과한 빛을 복수개의 편광성분으로 분할하는 편광 분할기, 복수개의 광 검출기, 및 광 검출기에서 검출된 신호로부터 편광 상태를 분석하는 신호 처리부를 포함하여 구성된다. 본 발명에 따른 편광 측정 방법은 위상 지연판과 편광 분할기를 통과한 광신호를 검출하고 검출된 광신호의 여러 주파수 성분을 분석함으로써 편광 상태를 나타내는 스톡스 파라미터를 구하는 것을 특징으로 한다. 특히 복수개의 광 검출기를 사용함으로써 광원의 세기 노이즈에 의한 에러를 감소시키는 것을 특징으로 한다.

8. 发明授权

KR100532009B1 선형으로 편광된 빔의 편광해소량을 검출하는 장치 및 방법 有权
标题翻译：用于检测线性偏振光束的分离量的装置和方法
公开(公告)号：KR100532009B1
公开(公告)日：2005-11-29
申请号：KR1020037007542
申请日：2001-10-12
申请人： 인피네온 테크놀로지즈 에스시300 게엠베하 운트 코. 카게
发明人： 퀴르너볼프강
IPC分类号： G01J4/04
CPC分类号： G01N21/23 , G01J4/04
摘要： The present invention relates to an apparatus and a method for detecting an amount of depolarization of a linearly polarized beam transmitted by a birefringent medium in the direction of the optical axis thereof. The apparatus comprises a first beam splitter (7) for separating an on-axis portion (2) of said linearly polarized beam into the orthogonal components (3,4), two photodetectors (8,9) for detecting each component (3,4), a second beam splitter (12) for separating an off-axis portion (11) of said linearly polarized beam into the orthogonal components (15,16), wherein said second beam splitter (12) is disposed off-axis of the incident linearly polarized beam (1), a second set of photodetectors for detecting the components (15,16) separated by said second beam splitter (12), and a subtracting device (17) for substracting the signals received by said second set of photodetectors (13,14) from the respective signals received by the first two photodetectors (8,9).

9. 发明授权

KR100203345B1 동시 다중각/다중파장 타원편광계와 측정방법 失效
标题翻译：同时多角度/多波长电位计和方法
公开(公告)号：KR100203345B1
公开(公告)日：1999-06-15
申请号：KR1019930702082
申请日：1992-01-10
申请人： 루돌프 테크놀로지스 인코퍼레이티드
发明人： 스파니어리차드에프. , 울프로버트지. , 로이터만로버트엠. , 헬러미첼이.
IPC分类号： G01J4/04
CPC分类号： G01N21/211 , G01B11/065
摘要： 본 발명은 샘플의 특성을 결정하는 샘플과의 상호작용에서 광의 편광상태에서의 변화를 측정하는 타원편광계 및 타원 편광법에 관한 것으로, 실험대상인 광학계와 상호작용 하도록 편광을 조사 및 광학계와 상호작용한 광의 편광상태 변화를 측정하고, 단일의 광 비임 편광이 동시에 상이한 입사각에서 광학계와 상호작용되도록 조사되고, 편광상태의 변화가 복수개의 상기 상이한 입사각 각각에 대해 측정되는 것을 포함한다.

10. 发明公开

KR1019990014935A 편광 모드 분산 측정 방법 无效
标题翻译：偏振模色散的测量方法
公开(公告)号：KR1019990014935A
公开(公告)日：1999-02-25
申请号：KR1019970708281
申请日：1996-05-17
申请人： 알카텔 텔레커뮤니케이션즈 케이블
发明人： 부츠,테리,엘.
IPC分类号： G01J4/04
摘要： 편광 모드 분산 측정 기구에 광원(10)을 제공하는 단계, 검사 섬유(26)을 제공하는 단계, 안정한 공지의 편광 모드 분산값을 갖는 아트팩트(28)을 검사 섬유(26)과 직렬로 배열하는 단계, 광원(10)으로부터의 광을 아트팩트(28) 및 검사 섬유(26)을 통해 전송하는 단계, 편광 모드 분산 측정 기구를 사용하여, 제로 편광 모드 분산값에서 벗어나 바이어스된 편광 모드 분산값을 측정하는 단계, 및 측정된 바이어스된 편광 모드 분산값으로부터 광섬유의 편광 모드 분산을 결정하는 단계를 포함하는 광섬유의 편광 모드 분산(PDM)의 고해상도 측정 방법이 제공된다.

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