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    • 4. 发明公开
    • 레이저 빔 조사 장치
    • KR1020220070400A
    • 2022-05-31
    • KR1020220061030
    • 2022-05-18
    • H01L51/56B23K26/06B23K26/062
    • 본발명은레이저빔 조사장치를개시한다. 본발명은진공상태에서수행되며, 제1전극, 화소정의막및 보조전극상의중간층중 상기보조전극에배치된상기중간층의일부를제거하여상기보조전극을노출시키는레이저빔 조사장치에있어서, 상기레이저빔 조사장치는, 레이저광원과, 상기레이저광원에서발진된광의에너지를제어하는제어부와, 상기제어부를통과한광의형상을조절하는제1 광학계와, 상기제1 광학계를통과한광의조사방향을조절하여가공부에서가공포인트를결정하는스캐너와, 상기스캐너를통과한빔을축소시키는에프시타렌즈(F-theta lens)를포함하고, 상기제1 광학계는, 상기제어부를통과한광의일부영역을투과시키는슬릿을포함하며, 상기레이저광원에서발진된광은상기제어부, 상기제1 광학계, 상기스캐너및 상기에프시타렌즈를순차적으로통과하고, 상기제어부, 상기제1 광학계, 상기스캐너및 상기에프시타렌즈를순차적으로통과한광은상기보조전극상의상기중간층을제거한다.
    • 6. 发明授权
    • 반도체 표면처리 장치
    • KR102282357B1
    • 2021-07-27
    • KR1020200031882
    • 2020-03-16
    • B23K26/362H01L21/67B23K26/066B23K26/062
    • 본발명의일 실시예에따른반도체표면처리장치는, 제1 영역으로제1 레이저를조사하되, 제1 영역이웨이퍼의가공영역에위치하는경우에해당가공영역의제1 영역부위를제1 레이저의조사를통해예열하는제1 레이저부; 제1 영역의일부를포함하는제2 영역으로제1 레이저보다작은빔 크기의제2 레이저를조사하되, 제2 영역이웨이퍼의예열부위에위치하는경우에해당예열부위의제2 영역부위를제2 레이저의조사를통해표면처리하는제2 레이저부; 웨이퍼가안착되며, 제1 및제2 영역이웨이퍼의가공영역에위치하도록안착된웨이퍼를이동시키는스테이지; 제1 및제2 레이저부의작동을제어하되, 스테이지의위치신호를이용하여제2 영역이웨이퍼의예열부위에위치하는지파악하여제2 레이저의조사를제어하는제어부;를포함한다.
    • 7. 发明授权
    • 실시간 레이저 파워 조절을 통한 ACF 본딩 온도 조절이 가능한 레이저 본딩장치
    • KR102245399B1
    • 2021-04-29
    • KR1020190179365
    • 2019-12-31
    • 주식회사 제이스텍
    • 류광현박형찬김진우정용
    • B23K26/21B23K26/03B23K26/062
    • 본발명은레이저를이용하여디스플레이패널과 COF 또는디스플레이패널과 FPCB를 ACF 본딩할때 제조사의 ACF의본딩온도특성에따라온도를측정하여실시간으로레이저의파워를조절하여조사하여융착온도를조절할 수있고, 본딩시 필요한필수요소중 시료에가하는압력부는석영을이용하며, 시료에압착하여압력을가한후 레이저빛은석영을투과하여시료에집속및 시료에서의광학적흡수, 투과, 반사의반응을통해열이발생하며, 발생된열을비접촉식온도계측기(Pyrometer)가감지하여, 레이저와연동및 피드백하여실시간으로설정한목표온도까지도달시키는실시간레이저파워조절을통한 ACF 본딩온도조절이가능한레이저본딩장치에관한것으로서, 레이저를발생시켜대상물인디스플레이패널과 COF(Chip On Flexible Printed Circuit) 또는디스플레이패널과 PCB(Printed Circuit Board)의 ACF(Anisotropic Conductive Film) 접합부위로조사되는레이저의파워의조절을통해대상물의가열온도를조절하는레이저조사부; 상기레이저조사부에서조사되는레이저가수직방향으로통과되며, 레이저가분산되지않도록집중시키는통과홀이형성되고, 승강되는고정부;; 상기고정부의통과홀에대응되는형상으로형성되며, 고정부를통해하강하여대상물을가압하여압착되도록하고, 투명재질로이루어져레이저가투과되도록형성되는투과부;; 상기대상물의접합부위온도를측정하도록대상물의상측측면에형성되어대각선방향으로온도를측정하는온도측정부및 상기레이저조사부와온도측정부가연결되며, 대상물인 ACF 필름의제조사에서제공하는온도설정값이 DB화되어저장되고, 저장되는온도설정값중사용하고자하는해당제조사의 ACF가본딩되는온도를선택하며, 온도측정부에서측정되는선택된대상물의접합부위온도를통해레이저조사부에서발생되는레이저의파워를실시간으로조절하는제어부를포함하는것을특징으로한다.