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1. 发明公开

KR1020160031728A 진동발생장치 无效
标题翻译：振动器
公开(公告)号：KR1020160031728A
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：KR1020140121756
申请日：2014-09-15
申请人： 주식회사 엠플러스 , 한양대학교 산학협력단
发明人： 정승현 , 오화영 , 장건희 , 남자현 , 김영진
IPC分类号： H02N2/04 , H02P21/05 , H01H3/30
CPC分类号： B06B1/0607 , H02N2/046 , H01H3/3042 , H02N2/00 , H02N2/04 , H02P21/05 , Y10S310/80
摘要： 내부공간을가지는하우징과, 상기하우징의중앙부에배치되도록상기하우징에설치되는베이스부재와, 상기베이스부재에설치되는제1 플레이트와, 상기제1 플레이트의상면에설치되는제1 압전소자와, 연결부재를통해상기제1 압전소자에대향배치되는제2 압전소자와, 상기제2 압전소자에설치되는제2 플레이트및 상기제2 플레이트의상면에설치되는진동증폭부를포함하는진동발생장치가개시된다.
摘要翻译：本发明提供一种可以提高响应性的振动器。所述振动器包括：具有内部空间的壳体; 安装在所述壳体中以被布置在所述壳体的中心的基座构件; 安装在基座构件中的第一板; 安装在所述第一板的上表面中的第一压电元件; 第二压电元件，其布置成通过连接构件面对所述第一压电元件; 安装在所述第二压电元件中的第二板; 以及安装在所述第二板的上表面中的振动放大单元。

2. 发明授权

KR100925523B1 저장 장치의 오류 발생 방법 및 오류 발생 위치의 선택방법 失效
标题翻译：在存储设备中产生错误的方法和存储设备中选择错误生成位置的方法
公开(公告)号：KR100925523B1
公开(公告)日：2009-11-06
申请号：KR1020070111787
申请日：2007-11-02
申请人： 한양대학교 산학협력단
发明人： 원유집 , 김영진
IPC分类号： G06F11/07 , G06F11/08
摘要： 본 발명은 저장 장치의 오류 발생 방법 및 오류 발생 위치의 선택 방법에 관한 것이다. 본 발명은, 저장 장치에 물리적 오류를 발생시키기 위한 오류 발생 위치가 선택되는 위치 선택 단계; 및 상기 선택된 오류 발생 위치에 해당하는 오류 정정 부호(ECC: Error Correction Code)가 기록된 영역에 더미 데이터(dummy data)를 기록함으로써 상기 오류 정정 부호를 변경하는 ECC 변경 단계를 포함하는 저장 장치의 오류 발생 방법과, 상기 저장 장치의 오류 발생 방법에 이용될 수 있는 오류 발생 위치의 선택 방법을 제공한다.
저장 장치(Storage Device), 오류(Error), 배드 섹터(Bad Sector), 오류 발생, 오류 발생 위치

3. 发明公开

KR1020140135085A 진동발생장치 无效
标题翻译：振动器
公开(公告)号：KR1020140135085A
公开(公告)日：2014-11-25
申请号：KR1020130146897
申请日：2013-11-29
申请人： 삼성전기주식회사 , 한양대학교 산학협력단
发明人： 오화영 , 정승현 , 장건희 , 남자현 , 연태흠 , 김영진
IPC分类号： H02K33/02
摘要： 진동전달부재에 고정 설치되며 전원 인가 시 내부면으로부터 외부면을 향하는 방향 또는 외부면으로부터 내부면을 향하는 방향으로 신축 변형되는 압전소자 및 상기 압전소자에 연결되어 진동되는 진동자를 포함하는 진동발생장치가 개시된다.
摘要翻译：振动发生装置技术领域本发明涉及振动产生装置。根据本发明实施例的振动产生装置包括：刚性地安装在振动传递部件上并在施加电力时弹性变形的压电元件; 以及连接到压电元件以振动的振动器。压电元件为圆柱形，振动器包括安装在压电元件的表面上以振动的弹性元件。

4. 发明授权

KR100907708B1 저장 장치의 오류 복구 방법, 저장 장치의 정보 저장 방법,오류 복구 시스템 및 오류 저장 시스템 失效
标题翻译：存储设备的错误恢复方法，存储设备的信息存储方法，错误恢复系统和错误存储系统
公开(公告)号：KR100907708B1
公开(公告)日：2009-07-14
申请号：KR1020070111797
申请日：2007-11-02
申请人： 한양대학교 산학협력단
发明人： 원유집 , 김영진
IPC分类号： G11B20/18
摘要： 본 발명은 저장 장치의 오류 복구 방법, 저장 장치의 정보 저장 방법, 오류 복구 시스템 및 오류 저장 시스템에 관한 것이다. 본 발명은, 파일 시스템(file system), 디바이스 드라이버(device driver) 및 저장 장치(storage device)를 포함하는 전자 시스템에서 실행되는, 상기 저장 장치의 오류를 복구시키는 방법에 있어서, 상기 저장 장치에서 발생한 물리적 오류를 탐지하는 탐지 단계; 상기 물리적 오류가 배드 섹터(bad sector)의 발생에 해당하는지를 판단하는 배드 섹터 판단 단계; 상기 배드 섹터 판단 단계의 수행에 따라 상기 물리적 오류가 배드 섹터(bad sector)의 발생에 해당하는 경우, 상기 배드 섹터가 위치하는 영역을 분석하는 영역 분석 단계; 및 상기 분석 결과 상기 배드 섹터가 리매핑(re-mapping)이 가능한 영역인 경우, 상기 배드 섹터를 스페어 섹터(spare sector)와 리매핑하는 리매핑 단계를 포함하는 저장 장치의 오류 복구 방법과 이를 구현하기 위한 오류 복구 시스템을 제공한다. 또한 본 발명은 오류 복구를 위한 저장 장치의 정보 저장 방법 및 오류 저장 시스템을 제공한다.
저장 장치(storage Device), 오류(Error), 배드 섹터(Bad Sector), 오류 탐지, 오류 복구
摘要翻译：存储设备的错误恢复方法，存储设备的信息存储方法，错误恢复系统和错误存储系统技术领域本发明涉及用于存储设备的错误恢复方法，一种用于恢复存储设备中的错误的方法，所述方法在包括文件系统，设备驱动程序和存储设备的电子系统中实现，所述方法包括：检测物理错误的检测步骤; 坏扇区确定步骤，用于确定物理错误是否对应于坏扇区的发生; 根据坏扇区确定步骤，如果物理错误对应于坏扇区，则分析坏扇区所在的区域; 当坏扇区是可重映射的区域时，重映射坏扇区的重映射步骤以及用于存储设备的错误恢复方法，恢复系统。本发明还提供一种用于错误恢复的存储设备的信息存储方法和错误存储系统。

5. 发明授权

KR100882904B1 저장 장치의 오류 발생 시스템 失效
标题翻译：在存储设备中产生错误的系统
公开(公告)号：KR100882904B1
公开(公告)日：2009-02-10
申请号：KR1020070111784
申请日：2007-11-02
申请人： 한양대학교 산학협력단
发明人： 원유집 , 김영진
IPC分类号： G11B20/18
CPC分类号： G11B20/1833 , G11B20/1217 , G11B2020/10907 , G11B2020/1222 , G11B2020/1893
摘要： An error generation system of a storage device is provided to verify the tenacity and reliability of system against physical errors of the storage device on a real time basis. An error generation system of a storage device comprises an error generator(82) generating a physical error at the specific position, and an interface device(84) including first to third interfaces and a main board(86) which performs signal processing in order to allow the error generator and a verification object system to approach the storage device(92) connected to the third interface. The error generator obtains LBA address of a first sector of specific partition of the storage device which is connected to the third interface, obtains LBA address of the specific sector for generating a physical error in the obtained LBA address, and selects the specific sector as an error occurrence position by using the obtained LBA address of the specific sector.
摘要翻译：提供存储设备的错误产生系统，以实时验证系统的抵御物理错误的韧性和可靠性。存储装置的误差产生系统包括在特定位置产生物理误差的误差发生器（82）和包括第一至第三接口的接口装置（84）和执行信号处理的主板（86），以便允许错误发生器和验证对象系统接近连接到第三接口的存储设备（92）。误差发生器获取连接到第三接口的存储设备的特定分区的第一扇区的LBA地址，获得用于在所获得的LBA地址中产生物理错误的特定扇区的LBA地址，并选择特定扇区作为通过使用获得的特定扇区的LBA地址来发生错误发生位置。

6. 发明公开

KR1020170126742A 반도체 소자 및 이의 제조 방법 审中-实审
标题翻译：半导体装置及其制造方法
公开(公告)号：KR1020170126742A
公开(公告)日：2017-11-20
申请号：KR1020160057188
申请日：2016-05-10
申请人： 에스케이하이닉스 주식회사 , 한양대학교 산학협력단
发明人： 강동균 , 조호진 , 최창환 , 김영진
IPC分类号： H01L21/8238 , H01L29/78 , H01L27/092 , H01L29/735 , H01L29/66 , H01L21/324
摘要： 본발명은반도체소자및 이의제조방법에관한것으로서, 보다구체적으로 pMOS 영역에는제1금속함유층및 제2금속함유층이순차적으로적층된제1게이트전극층과상기 nMOS 영역에는제2금속함유층이적층된제2게이트전극층을포함하며, 상기제1금속함유층과상기제2금속함유층은전기적특성이상이한반도체소자에관한것이며, 또한, 제1공정조건에서상기 pMOS 영역에제1금속함유층및 제2금속함유층을배치하고, nMOS 영역에제2금속함유층을배치하는제조방법에관한것이다.
摘要翻译：本发明涉及一种半导体器件及其制造方法，更具体地说，涉及一种半导体器件及其制造方法，更具体地说，涉及一种第一栅电极层，其中在第一工艺条件下，在所述pMOS区域中包含第一含金属层和第二含金属层，其中所述第一含金属层和所述第二含金属层在所述pMOS区域中，并且第二含金属层设置在nMOS区域中。

7. 发明公开

KR1020090045793A 저장 장치의 오류 발생 방법 및 오류 발생 위치의 선택방법 失效
标题翻译：在存储设备中产生错误的方法和在存储设备中选择错误产生位置的方法
公开(公告)号：KR1020090045793A
公开(公告)日：2009-05-08
申请号：KR1020070111787
申请日：2007-11-02
申请人： 한양대학교 산학협력단
发明人： 원유집 , 김영진
IPC分类号： G06F11/07 , G06F11/08
摘要： 본 발명은 저장 장치의 오류 발생 방법 및 오류 발생 위치의 선택 방법에 관한 것이다. 본 발명은, 저장 장치에 물리적 오류를 발생시키기 위한 오류 발생 위치가 선택되는 위치 선택 단계; 및 상기 선택된 오류 발생 위치에 해당하는 오류 정정 부호(ECC: Error Correction Code)가 기록된 영역에 더미 데이터(dummy data)를 기록함으로써 상기 오류 정정 부호를 변경하는 ECC 변경 단계를 포함하는 저장 장치의 오류 발생 방법과, 상기 저장 장치의 오류 발생 방법에 이용될 수 있는 오류 발생 위치의 선택 방법을 제공한다.
저장 장치(Storage Device), 오류(Error), 배드 섹터(Bad Sector), 오류 발생, 오류 발생 위치

8. 发明授权

KR101598584B1 진동발생장치 有权
标题翻译：振子
公开(公告)号：KR101598584B1
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：KR1020130167537
申请日：2013-12-30
申请人： 주식회사 엠플러스 , 한양대학교 산학협력단
发明人： 오화영 , 정승현 , 장건희 , 남자현 , 연태흠 , 김영진
IPC分类号： H02N2/04 , H02N2/02
CPC分类号： H01L41/0926 , B06B1/0603 , B06B1/0651 , B06B1/14 , H01L41/053
摘要： 내부공간을가지는하우징과, 상기하우징에고정설치되며디스크형상을가지는진동플레이트와, 상기진동플레이트에설치되며중공의디스크형상을가지는압전소자및 상기압전소자의변형시 진동플레이트와연동하여진동되는진동자를포함하며, 상기진동자는상기진동플레이트의가장자리에연결되는탄성부재와, 상기탄성부재의중앙부에고정설치되는설치부재및 상기설치부재에고정설치되어상기탄성부재와연동하여진동되는중량체부를구비하는진동발생장치가개시된다.
摘要翻译：提供一种振动发生装置，包括：具有内部空间的壳体; 固定地安装在壳体中并具有盘形状的振动板; 固定在振动板上并具有中空盘形状的压电元件; 以及当压电元件变形时与振动板一起振动的振动元件。

9. 发明公开

KR1020150080145A 진동발생장치 有权
标题翻译：振动器
公开(公告)号：KR1020150080145A
公开(公告)日：2015-07-09
申请号：KR1020130167537
申请日：2013-12-30
申请人： 주식회사 엠플러스 , 한양대학교 산학협력단
发明人： 오화영 , 정승현 , 장건희 , 남자현 , 연태흠 , 김영진
IPC分类号： H02N2/04 , H02N2/02
CPC分类号： H01L41/0926 , B06B1/0603 , B06B1/0651 , B06B1/14 , H01L41/053
摘要： 내부공간을가지는하우징과, 상기하우징에고정설치되며디스크형상을가지는진동플레이트와, 상기진동플레이트에설치되며중공의디스크형상을가지는압전소자및 상기압전소자의변형시 진동플레이트와연동하여진동되는진동자를포함하는진동발생장치가개시된다.
摘要翻译：公开了一种振动产生装置。它包括具有内部空间的壳体，固定在壳体上并具有盘形的振动板，安装在振动板上并具有中空盘形状的压电元件和与振动板相互连接的振动器在压电元件的变形中振动。

10. 发明公开

KR1020090045802A 저장 장치의 오류 복구 방법, 저장 장치의 정보 저장 방법,오류 복구 시스템 및 오류 저장 시스템 失效
标题翻译：在存储装置中恢复错误的方法，存储装置中的信息存储方法，错误恢复系统和错误存储系统
公开(公告)号：KR1020090045802A
公开(公告)日：2009-05-08
申请号：KR1020070111797
申请日：2007-11-02
申请人： 한양대학교 산학협력단
发明人： 원유집 , 김영진
IPC分类号： G11B20/18
CPC分类号： G11B20/1889 , G11B2020/10907 , G11B2220/2516
摘要： 본 발명은 저장 장치의 오류 복구 방법, 저장 장치의 정보 저장 방법, 오류 복구 시스템 및 오류 저장 시스템에 관한 것이다. 본 발명은, 파일 시스템(file system), 디바이스 드라이버(device driver) 및 저장 장치(storage device)를 포함하는 전자 시스템에서 실행되는, 상기 저장 장치의 오류를 복구시키는 방법에 있어서, 상기 저장 장치에서 발생한 물리적 오류를 탐지하는 탐지 단계; 상기 물리적 오류가 배드 섹터(bad sector)의 발생에 해당하는지를 판단하는 배드 섹터 판단 단계; 상기 배드 섹터 판단 단계의 수행에 따라 상기 물리적 오류가 배드 섹터(bad sector)의 발생에 해당하는 경우, 상기 배드 섹터가 위치하는 영역을 분석하는 영역 분석 단계; 및 상기 분석 결과 상기 배드 섹터가 리매핑(re-mapping)이 가능한 영역인 경우, 상기 배드 섹터를 스페어 섹터(spare sector)와 리매핑하는 리매핑 단계를 포함하는 저장 장치의 오류 복구 방법과 이를 구현하기 위한 오류 복구 시스템을 제공한다. 또한 본 발명은 오류 복구를 위한 저장 장치의 정보 저장 방법 및 오류 저장 시스템을 제공한다.
저장 장치(storage Device), 오류(Error), 배드 섹터(Bad Sector), 오류 탐지, 오류 복구

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