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    • 1. 发明授权
    • X-선 영상화용 실리콘 디텍터 어셈블리
    • - 用于X射线成像的硅检测器组件
    • KR101716911B1
    • 2017-03-15
    • KR1020117020100
    • 2010-02-01
    • 프리스매틱 센서즈 에이비
    • 다니엘슨,매츠칼슨,스테판
    • G01T1/24A61B6/03G01T1/29
    • G01T1/242G01T1/243
    • X-선영상화용실리콘디텍터는전체디텍터영역을형성하기위해함께배열된다중반도체디텍터모듈들(A)에기초하며, 여기서각 반도체디텍터모듈은결정질실리콘의 x-선센서로구성되며, 이 x-선센서는입사하는 x-선에대해엣지-온(edge-on) 배향되고, 상기 x-선센서에서광전효과및 콤프턴산란을통해상호작용하고 40 keV 및 250 keV 사이의입사 x-선에너지에대해상호작용하는 x-선들의등록을위한집적회로에결합되어, 이들상호작용으로부터공간및 에너지정보를제공하여사물의이미지를얻을수 있도록한다. 또한, 산란제거모듈(anti-scatter modules; B)은콤프턴산란된 x-선을적어도부분적으로흡수하기위하여반도체디텍터모듈의적어도일부세트사이에끼워넣어진다.
    • 用于x射线成像的硅检测器基于多个半导体检测器模块(A),其布置在一起以形成整体检测器区域,其中每个半导体检测器模块包括结晶硅的X射线传感器,其朝向入射的X射线 并连接到集成电路,用于通过光电效应和通过康普顿散射以及在40keV至250keV之间的入射x射线能量在x射线传感器中相互作用的X射线配准,以提供来自这些相互作用的空间和能量信息 以启用对象的图像。 此外,防散射模块(B)在半导体检测器模块的至少一个子集之间被折叠以至少部分地吸收康普顿散射的X射线。
    • 3. 发明公开
    • X-선 영상화용 실리콘 디텍터 어셈블리
    • 硅检测器组件进行X射线成像
    • KR1020110126645A
    • 2011-11-23
    • KR1020117020100
    • 2010-02-01
    • 프리스매틱 센서즈 에이비
    • 다니엘슨,매츠칼슨,스테판
    • G01T1/24A61B6/03G01T1/29
    • G01T1/242G01T1/243A61B6/03G01T1/24G01T1/29
    • X-선 영상화용 실리콘 디텍터는 전체 디텍터 영역을 형성하기 위해 함께 배열된 다중 반도체 디텍터 모듈들(A)에 기초하며, 여기서 각 반도체 디텍터 모듈은 결정질 실리콘의 x-선 센서로 구성되며, 이 x-선 센서는 입사하는 x-선에 대해 엣지-온(edge-on) 배향되고, 상기 x-선 센서에서 광전 효과 및 콤프턴 산란을 통해 상호 작용하고 40 keV 및 250 keV 사이의 입사 x-선 에너지에 대해 상호 작용하는 x-선들의 등록을 위한 집적 회로에 결합되어, 이들 상호작용으로부터 공간 및 에너지 정보를 제공하여 사물의 이미지를 얻을 수 있도록 한다. 또한, 산란 제거 모듈(anti-scatter modules; B)은 콤프턴 산란된 x-선을 적어도 부분적으로 흡수하기 위하여 반도체 디텍터 모듈의 적어도 일부 세트 사이에 끼워 넣어진다.
    • 用于x射线成像的硅检测器基于多个半导体检测器模块(A),其布置在一起以形成整体检测器区域,其中每个半导体检测器模块包括结晶硅的X射线传感器,其朝向入射的X射线 并连接到集成电路,用于通过光电效应和通过康普顿散射以及在40keV至250keV之间的入射x射线能量在x射线传感器中相互作用的X射线配准,以提供来自这些相互作用的空间和能量信息 以启用对象的图像。 此外,防散射模块(B)在半导体检测器模块的至少一个子集之间被折叠以至少部分地吸收康普顿散射的X射线。