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1. 发明公开

KR1020010020354A 집적 회로 테스터를 위한 가상 채널 데이터 분산 시스템 失效
标题翻译：集成电路测试仪的虚拟通道数据分配系统
公开(公告)号：KR1020010020354A
公开(公告)日：2001-03-15
申请号：KR1019997009973
申请日：1998-04-27
申请人： 크레던스 시스템스 코포레이션
发明人： 일레스그레고리 , 스카라케네스엘. , 모리스리차드비. , 챔폭스듀안에이.
IPC分类号： G06F13/00
摘要： 집적회로 테스터(10)는 디바이스 언더 테스트(11)의 각각의 단자(27)를 위한 노드(24)를 포함한다. 각 노드(24)는 디바이스 단자(25)에서 테스트 동작을 실행하는 핀 전자 회로(32)와 상기 테스트 동작을 제어하기 위한 상기 로컬 핀 전자 회로(32)로 시퀀스(sequence)를 공급하기 위한 벡터 메모리 시스템(28)을 포함한다. 테스터를 포로그램하기 위해(to program the tester), 호스트 컴퓨터는 공통 버스(common bus)를 통해 각 벡터 메모리 시스템으로 적당한 벡터 셋트를 전송한다(transmit). 상기 벡터 메모리 시스템으로 벡터를 전송하기 전에, 호스트 컴퓨터는 하나 이상의 "가상채널(virtual channel)"을 할당하는 제어 데이터로서 각각 상기 벡터를 전송한다. 그러므로 동일한 벡터 셋트를 수신하는 모든 벡터 메모리 시스템은 동일한 가상 채널에 할당된다. 또한, 버스 상에 각 벡터 셋트를 전송하기 전에, 호스트 컴퓨터는 액티브로 하나의 가상 채널을 지정하는(designating) 모든 벡터 메모리 시스템으로 부가적인 제어 데이터(additional control data)를 동보한다. 그 후 액티브 가상 채널에 할당된 상기 벡터 메모리 시스템만이 전송된 벡터 셋트를 채택한다. 그래서 하나 이상의 벡터 메모리 시스템이 제어하는 핀 전자 회로가 동일한 테스트 동작을 실행할 경우 호스트 컴퓨터는 상기 벡터 메모리 시스템으로 동일한 벡터 셋트를 동시에 기록할 수 있다.

2. 发明授权

KR100465085B1 집적 회로 테스터를 위한 가상 채널 데이터 분산 시스템 失效
标题翻译： 집적회로테스터를위한가상채널데이터분산시스템
公开(公告)号：KR100465085B1
公开(公告)日：2005-01-05
申请号：KR1019997009973
申请日：1998-04-27
申请人： 크레던스 시스템스 코포레이션
发明人： 일레스그레고리 , 스카라케네스엘. , 모리스리차드비. , 챔폭스듀안에이.
IPC分类号： G06F13/00
CPC分类号： G01R31/31908 , G01R31/31921
摘要： An integrated circuit tester includes a node for each terminal of a device under test. Each node includes a pin electronics circuit for carrying out test activities at the device terminal and a vector memory system for supplying a vector sequence to the local pin electronics circuit for controlling its test activities. To program the tester, a host computer transmits an appropriate set of vectors to each vector memory system via a common bus. Before sending vectors to the vector memory systems, the host computer sends them control data assigning each to one or more "virtual channels" such that all vector memory systems that are to receive a similar set of vectors are assigned to a similar virtual channel. Also, before transmitting each set of vectors on the bus, the host computer broadcasts additional control data to all vector memory systems designating one virtual channel as active. Thereafter only those vector memory systems assigned to the active virtual channel accept the transmitted vector set. Thus the host computer can concurrently write the same set of vectors to more than one vector memory system when the pin electronics circuits they control are to carry out similar test activities.
摘要翻译：集成电路测试器包括用于被测器件的每个端子的节点。每个节点包括用于在设备终端执行测试活动的引脚电子电路和用于向本地引脚电子电路提供矢量序列以控制其测试活动的矢量存储系统。为了对测试仪进行编程，主计算机通过公用总线将适当的一组矢量传送到每个矢量存储器系统。在将矢量发送到矢量存储器系统之前，主计算机向它们发送控制数据，将其分配给一个或多个“虚拟通道” 使得要接收相似的一组矢量的所有矢量存储器系统被分配到类似的虚拟通道。而且，在总线上传输每组矢量之前，主计算机将附加控制数据广播到指定一个虚拟信道为活动的所有矢量存储器系统。此后，只有分配给活动虚拟通道的矢量存储器系统接受发送的矢量集。因此，当它们控制的引脚电子电路要执行类似的测试活动时，主计算机可以同时将相同的一组矢量写入多于一个矢量存储器系统。

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