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1. 发明公开

KR1020170132610A 광학필름의 결함 검출 시스템 및 광학필름의 결함 검출 방법 审中-实审
标题翻译：光学薄膜缺陷检测系统及光学薄膜缺陷检测方法
公开(公告)号：KR1020170132610A
公开(公告)日：2017-12-04
申请号：KR1020160063703
申请日：2016-05-24
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 김호진 , 양명곤 , 박창석 , 김재현 , 최항석
IPC分类号： G01N21/88 , G01N21/53 , G01N21/958 , G02B1/10
CPC分类号： G01N21/53 , G01N21/88 , G01N21/958 , G02B1/10
摘要： 본발명은광학필름의결함검출시스템및 검출방법에관한것으로, 더욱상세하게는스크린상에투영된광학필름의결함에대한영상을획득하여광학필름의결함을검출하는시스템및 그방법에관한것이다. 본발명의일 실시예로써, 광학필름의결함검출시스템이제공될수 있다. 광학필름의결함검출시스템은광학필름으로부터이격배치되고광학필름의일면을향하여광을조사하기위한조명부; 광학필름의타면으로부터이격배치되고조명부로부터조사된광이광학필름을통과함에따라광학필름에존재하는결함이투영되어나타나는스크린; 스크린으로부터이격배치되고스크린상에투영된광학필름의결함에대한영상을획득하기위한촬영부; 및획득된영상을분석하고, 분석의결과에기초하여광학필름의결함을검출하기위한분석부를포함할수 있다.
摘要翻译：本发明涉及用于光学膜的缺陷检测系统和方法，并且更具体地涉及通过获取投影在屏幕上的光学膜的缺陷的图像来检测光学膜的缺陷的系统和方法。作为本发明的一个实施例，可以提供用于光学膜的缺陷检测系统。一种用于光学膜的缺陷检测系统包括：照明单元，被布置为与光学膜间隔开并且朝向光学膜的一个表面照射光; 与所述光学膜的另一个面分开配置，在从所述照明部照射的光通过所述光学膜时，存在于所述光学膜中的缺陷出现的屏幕; 成像单元，用于获取投影在屏幕上并与屏幕间隔开的光学膜的缺陷图像; 以及分析单元，用于分析所获得的图像并且基于分析结果来检测光学膜的缺陷。

2. 发明授权

KR101587222B1 광학 필름의 이물 검출 장치 有权
标题翻译：用于检测光学膜的二氧化碳物质的装置
公开(公告)号：KR101587222B1
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：KR1020130041248
申请日：2013-04-15
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 김경식 , 장응진 , 신재옥 , 양명곤 , 한현수 , 방영선 , 하의봉 , 황동기 , 김태식
IPC分类号： G01N21/958
摘要： 본발명은제1 필름부재와, 상기제1 필름부재에도포된점착제층과, 상기점착제층에부착된제2 필름부재를구비하는광학필름의이물검출장치에관한것이다. 본발명은상기광학필름이통과할수 있는한 쌍의제1 롤러들; 상기제1 롤러들을통과한상기광학필름의상기점착제층으로부터상기제2 필름부재를분리시키고상기제2 필름부재를미리결정된간격만큼주행시킬수 있도록상기광학필름으로부터이격되게배치된분리/주행부재; 상기분리/주행부재의끝단을통과한상기제2 필름부재와상기광학필름의상기점착제층을라미네이션시킬수 있는한 쌍의제2 롤러들; 상기제1 필름부재와상기점착제층을순차적으로통과하는광을조사할수 있도록상기제1 롤러들과상기제2 롤러들사이에배치된조명유닛; 및상기점착제층을촬영할수 있도록상기광학필름을기준으로상기조명유닛과대응되는위치에배치된촬영유닛;을구비하는것을특징으로하는광학필름의이물검출장치를개시한다.

3. 发明授权

KR101313074B1 광학 필름의 결함 검사 장치 有权
公开(公告)号：KR101313074B1
公开(公告)日：2013-09-30
申请号：KR1020120003610
申请日：2012-01-11
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 양명곤 , 장응진 , 우지훈 , 김민식 , 오정민 , 박창석 , 김상태
IPC分类号： G01N21/88 , G01M11/00
摘要： 본 발명은 광학 필름의 결함 검사 장치에 관한 것으로서, 광학 필름의 일면에는 보호 부재가 부착되어 있고; 광학 필름에 광을 조사할 수 있는 조명 유니트; 광학 필름과 조명 유니트 사이에 배치된 제1 필터 유니트; 광학 필름을 촬영할 수 있도록 조명 유니트와 대향되게 설치된 촬영 유니트; 광학 필름과 촬영 유니트 사이에 배치되고 적어도 하나 또는 그 이상의 필터들을 포함하는 제2 필터 유니트; 및 광학 필름과 제2 필터 유니트 사이에 회전 가능하게 설치된 제3 필터 유니트를 구비한다.

4. 发明公开

KR1020130043550A 광학 필름의 결함 검사 장치 有权
标题翻译：检查光膜故障的装置
公开(公告)号：KR1020130043550A
公开(公告)日：2013-04-30
申请号：KR1020120003614
申请日：2012-01-11
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 양명곤 , 장응진 , 우지훈 , 김민식 , 오정민 , 박창석 , 김상태
IPC分类号： G01N21/88 , G02F1/13 , G02B27/26
摘要： PURPOSE: A device for inspecting defects of an optical film is provided to prevent duplicated investment in a separate inspection system according to a kind of the optical film by selectively changing a polarizing filter sheet corresponding to optical properties whenever changing the kind of the optical film to be inspected, thereby reducing producing costs. CONSTITUTION: A device(200) for inspecting defects of an optical film(10) is comprises a lighting unit(220), a first PL filter unit(230), a photographing unit(240), and a second PL filter unit(260). The lighting unit irradiates lights to the optical film. The first PL filter unit is interposed between the optical film and the lighting unit. The photographing unit is installed to be faced the light unit, thereby photographing the optical film. The RED filter unit is interposed between the optical film and the photographing unit. The second PL filter unit is installed between the optical film and the RED filter unit and optically matched with the first PL filter unit.
摘要翻译：目的：提供一种用于检查光学膜的缺陷的装置，以防止根据光学膜的种类在单独的检查系统中重复投资，只要将光学膜的种类改变为与光学特性相对应的偏光滤光片，进行检查，从而降低生产成本。构成：用于检查光学薄膜（10）的缺陷的装置（200）包括照明单元（220），第一PL滤光器单元（230），拍摄单元（240）和第二PL滤光器单元（260 ）。照明单元将光照射到光学膜。第一PL滤光器单元插入在光学膜和照明单元之间。拍摄单元安装成面对光单元，从而拍摄光学膜。 RED滤光片单元插入在光学薄膜和拍摄单元之间。第二PL滤光器单元安装在光学膜和RED滤光器单元之间，并与第一PL滤光器单元光学匹配。

5. 发明授权

KR101960925B1 광학 필름의 총 피치 측정장치 有权
公开(公告)号：KR101960925B1
公开(公告)日：2019-03-21
申请号：KR1020150090725
申请日：2015-06-25
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 박창석 , 양명곤 , 최항석
IPC分类号： G01M11/02 , G02B27/26 , G02B5/30

6. 发明授权

KR101659333B1 광학 필름의 총-피치 측정 시스템 有权
标题翻译： - 用于测量其光学膜的总间距的系统
公开(公告)号：KR101659333B1
公开(公告)日：2016-09-23
申请号：KR1020120115940
申请日：2012-10-18
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 양명곤 , 박창석 , 이근유 , 우지훈 , 김민식 , 오정민 , 김상태
IPC分类号： G01N21/89 , G02B5/30
摘要： 본발명에따른복합광학필름총-피치측정시스템은미리결정된속도로주행하는광학필름의총-피치를측정하기위한시스템에관한것으로서, 광학필름이접촉되어주행할수 있는베이스롤러; 베이스롤러를향해광을조사할수 있는조명유니트; 베이스롤러의표면으로부터반사되는빛에의해광학필름의총-피치를촬영할수 있는촬영유니트; 및조명유니트와촬영유니트를동시에광학필름의폭 방향으로왕복이동시킬수 있는이송유니트를구비한다.

7. 发明授权

KR101311497B1 광학 필름의 결함 검사 장치 有权
标题翻译：光学薄膜的缺陷检测系统
公开(公告)号：KR101311497B1
公开(公告)日：2013-10-14
申请号：KR1020120003614
申请日：2012-01-11
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 양명곤 , 장응진 , 우지훈 , 김민식 , 오정민 , 박창석 , 김상태
IPC分类号： G01N21/88 , G02F1/13 , G02B27/26
摘要： 본 발명은 광학 필름의 결함 검사 장치에 관한 것으로서, 광학 필름에 광을 조사할 수 있는 조명 유니트; 광학 필름과 조명 유니트 사이에 배치된 제1 PL 필터 유니트; 광학 필름을 촬영할 수 있도록 조명 유니트와 대향되게 설치된 촬영 유니트; 및 광학 필름과 촬영 유니트 사이에 설치되고, 제1 PL 필터 유니트와 광학적으로 매칭될 수 있는 제2 PL 필터 유니트를 구비한다.
摘要翻译：用于光学膜的缺陷检查设备技术领域本发明涉及用于光学膜的缺陷检查设备，并且更具体地涉及用于光学膜的缺陷检查设备，第一PL滤光器单元，设置在光学膜和照明单元之间; 拍摄单元，与照明单元相对设置以拍摄光学膜; 并且第二PL滤光单元安装在光学膜和拍摄单元之间并且能够与第一PL滤光单元光学匹配。

8. 发明公开

KR1020130043548A 광학 필름의 결함 검사 시스템 有权
标题翻译：检查光膜故障的系统
公开(公告)号：KR1020130043548A
公开(公告)日：2013-04-30
申请号：KR1020120003612
申请日：2012-01-11
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 양명곤 , 장응진 , 우지훈 , 김민식 , 오정민 , 박창석 , 김상태
IPC分类号： G01N21/88 , G02F1/13 , G02B27/26
摘要： PURPOSE: A system for inspecting defects of an optical film is provided to improve the degree of finishing of optical product film and to maximize a detecting force of a black-and-white camera by using a long wavelength filter. CONSTITUTION: A system for inspecting defects of an optical film(10) comprises a first inspection device(1) and a second inspection device(70). A protective member(12) is attached on one surface of the optical film. The first inspection device includes a first photographing unit for inspecting first optical defects of the optical film. The second inspection device includes a second photographing unit for inspecting first optical defects and second optical defects of the other optical film. The optical film is a patterned retard film where L and R patterns having different optical shafts are formed.
摘要翻译：目的：提供一种用于检查光学膜的缺陷的系统，以提高光学产品膜的光洁度，并通过使用长波长滤光器来最大化黑白相机的检测力。构成：用于检查光学膜（10）的缺陷的系统包括第一检查装置（1）和第二检查装置（70）。保护构件（12）安装在光学膜的一个表面上。第一检查装置包括用于检查光学膜的第一光学缺陷的第一拍摄单元。第二检查装置包括用于检查另一光学膜的第一光学缺陷和第二光学缺陷的第二拍摄单元。光学膜是形成有不同光轴的L和R图案的图案化延迟膜。

9. 发明公开

KR1020170082079A 이동식 검사장비를 이용한 기재의 결함 유무 검출 시스템 및 그 시스템을 통한 기재의 결함 유무 검출 방법 审中-实审
标题翻译：使用移动检查设备检测衬底缺陷存在与否的系统以及通过该系统检测衬底缺陷存在与否的方法
公开(公告)号：KR1020170082079A
公开(公告)日：2017-07-13
申请号：KR1020160001251
申请日：2016-01-05
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 김재현 , 양명곤 , 최항석 , 박창석 , 김호진
IPC分类号： G01N21/89 , G01N21/892 , G01N21/896 , H05K1/02
摘要： 본발명의일 실시예로써이동식검사장비를이용한기재의결함유무검출시스템이제공될수 있다. 본발명의일 실시예에따른이동식검사장비를이용한기재의결함유무검출시스템은, 기재의운반을위한기재운반부, 기재운반부를통하여운반되는기재와소정의각도를이루도록배치된이동식검사장비, 이동식검사장비의움직임을가이드하기위한가이드부및 이동식검사장비와연결되어기재에대한데이터를실시간으로획득하기위한정보획득부를포함하고, 이동식검사장비에는카메라및 광원이포함되고, 이동식검사장비는가이드부를따라기재의폭만큼왕복이동할수 있다.
摘要翻译：作为本发明的一个实施例，可以提供一种使用移动检查设备来检测衬底中是否存在缺陷的系统。根据本发明实施例的使用移动检查设备检测衬底的存在/不存在的系统包括：衬底传送单元，用于传送衬底;移动检查设备，与通过衬底传送单元传送的衬底成预定角度设置; 用于引导检查设备的移动的引导单元和用于实时获取基板上的数据的信息获取单元，该信息获取单元连接到移动检查设备，移动检查设备包括照相机和光源，可以往复运动基材的宽度。

10. 发明公开

KR1020170001151A 광학 필름의 총 피치 측정장치 审中-实审
标题翻译：光电膜的总计测量装置
公开(公告)号：KR1020170001151A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：KR1020150090725
申请日：2015-06-25
申请人： 주식회사 엘지화학
发明人： 박창석 , 양명곤 , 최항석
IPC分类号： G01M11/02 , G02B27/26 , G02B5/30
摘要： 본발명의일 실시예에따른패시브방식의디스플레이에적용되며서로다른광축을갖는 L 패턴과 R 패턴을구비하는광학필름의총 피치측정장치는, 광학필름이안착되는스테이지, 스테이지에안착된광학필름의총 피치를촬영하며, 광학필름의 L 패턴과 R 패턴의수직방향으로이동가능하게스테이지에장착되는촬영유닛및 스테이지와촬영유닛사이에배치되며, 소정의편광축을갖는적어도둘 이상의필터를구비하는필터유닛을포함하는것을특징으로한다.

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