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    • 1. 发明公开
    • 직류-직류 변환기의 시험회로
    • 直流到直流转换器的测试电路
    • KR1020130078181A
    • 2013-07-10
    • KR1020110146977
    • 2011-12-30
    • 주식회사 실리콘웍스
    • 우영진전인선권보민
    • G01R31/28
    • G01R31/40
    • PURPOSE: A test circuit of a dc-dc converter is provided to test the functionality of a DC-DC converter without an inductor or the flow of the large amount of current. CONSTITUTION: Current sources (IVIN, IVID) are respectively connected to power supply voltages (Vs1, Vs2). Current sources (IVO, IVIO) are respectively connected to power supply voltages (Vs4, Vs3). An output capacitor (340), the resistor of the output capacitor (370) and a capacitor (310) transformed from an inductor are connected to the power supply voltage. The switching states of each current source are different. The switching states of a current source (IVIN) are variable. A current source (IVID) and a current source (IVIO) are output dependent current source and the flow direction of current is varied from Vs3 to Vs2.
    • 目的:提供一个直流 - 直流转换器的测试电路来测试没有电感器或大量电流的直流 - 直流转换器的功能。 构成:电流源(IVIN,IVID)分别连接到电源电压(Vs1,Vs2)。 电流源(IVO,IVIO)分别连接到电源电压(Vs4,Vs3)。 输出电容器(340),输出电容器(370)的电阻器和从电感器变换的电容器(310)连接到电源电压。 每个电流源的开关状态不同。 电流源(IVIN)的开关状态是可变的。 电流源(IVID)和电流源(IVIO)是依赖于输出的电流源,电流的流动方向从Vs3变化到Vs2。