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热词
    • 2. 发明公开
    • 불변 특징부를 갖는 표면에 대한 긴 물체의 팁의절대위치를 결정하는 방법과 장치
    • 用于确定具有不平衡面的平面表面上的最终对象提示的绝对位置的方法和装置
    • KR1020070015121A
    • 2007-02-01
    • KR1020067014617
    • 2004-12-22
    • 일렉트로닉 스크립팅 프러덕츠 인코포레이션
    • 부어맨데일에이치.만델라마이클제이.칼스튜어트알.장구앙후아지.곤잘레스-바노스헥토르에이치.
    • G06K11/06G06F3/03G06F3/0354
    • G06F3/03545G06F3/0321
    • A method and apparatus for determining a pose of an elongate object and an absolute position of its tip while the tip is in contact with a plane surface having invariant features. The surface and features are illuminated with a probe radiation and a scattered portion, e.g., the back-scattered portion, of the probe radiation returning from the plane surface and the feature to the elongate object at an angle 2 with respect to an axis of the object is detected. The pose is derived from a response of the scattered portion to the surface and the features and the absolute position of the tip on the surface is obtained from the pose and knowledge about the feature. The probe radiation can be directed from the object to the surface at an angle Q to the axis of the object in the form of a scan beam. The scan beam can be made to follow a scan pattern with the aid of a scanning arrangement with one or more arms and one or more uniaxial or biaxial scanners. Angle t can also be varied, e.g., with the aid of a separate or the same scanning arrangement as used to direct probe radiation to the surface. The object can be a pointer, a robotic arm, a cane or a jotting implement such as a pen, and the features can be edges, micro-structure or macro-structure belonging to, deposited on or attached to the surface which the tip of the object is contacting. ® KIPO & WIPO 2007
    • 一种用于在尖端与具有不变特征的平面接触的情况下,确定细长物体的姿态和其尖端的绝对位置的方法和装置。 表面和特征被探针辐射和从平面表面和特征向细长物体返回的探针辐射的散射部分(例如背散射部分)以相对于 检测到物体。 姿势是从分散部分到表面的响应导出的,并且从关于特征的姿势和知识中获得尖端在表面上的特征和绝对位置。 探针辐射可以以与扫描光束形式的物体轴线成一定角度Q从物体引导到表面。 借助于具有一个或多个臂和一个或多个单轴或双轴扫描器的扫描装置,可以使扫描光束跟随扫描图案。 角度t也可以变化,例如,借助于用于将探针辐射引导到表面的单独或相同的扫描布置。 该物体可以是指针,机器人手臂,手杖或笔记本记录工具,并且特征可以是属于,沉积在或附着到表面上的边缘,微结构或宏观结构,其表面的尖端 对象正在联系。 ®KIPO&WIPO 2007
    • 5. 发明授权
    • 불변 특징부를 갖는 표면에 대한 긴 물체의 팁의절대위치를 결정하는 방법과 장치
    • 用于确定长物体的尖端相对于具有不变特征的表面的绝对位置的方法和设备
    • KR101076938B1
    • 2011-10-26
    • KR1020067014617
    • 2004-12-22
    • 일렉트로닉 스크립팅 프러덕츠 인코포레이션
    • 부어맨데일에이치.만델라마이클제이.칼스튜어트알.장구앙후아지.곤잘레스-바노스헥토르에이치.
    • G06K11/06G06F3/03G06F3/0354
    • 본 발명은 불변 특징부를 갖는 평탄 표면에 팁이 닿아있는 긴 물체의 자세와 팁의 절대위치를 결정하는 방법을 제공한다. 이 방법은 상기 표면과 불변 특징부에 탐사광을 비추는 단계, 긴 물체의 축에 대해 각도 τ로 이 물체로 돌아가는 탐사광의 산란광을 검출하는 단계로 이루어진다. 물체의 자세는 표면과 불변 특징부에 대한 산란광의 반응에서 유도된다. 표면에 대한 팁의 절대위치는 자세와 불변 특징부로부터 구해진다. 본 발명을 실행하는 방법과 장치는 아주 다양하다. 경우에 따라, 탐사광은 긴 물체의 축에 대해 각도 σ로 물체로부터 표면을 향한다. 또는, 각도 τ가 역산란각을 이루어 산란광이 역산란광으로 된다. 긴 물체의 축에 대한 각도 τ는 각도 σ와 같은 것이 편리하다. 또, 절대위치를 구하는 반응이 산란광이나 역산란광의 강도변화일 수 있다. 탐사광은 조준된 스캔빔 형태로 표면과 불변특징부를 향하는 것이 바람직하다. 탐사광의 스캔빔이 향하는 각도 σ는 스캔빔이 스캔패턴을 따라가도록 변한다. 이런 각도변화는 1축이나 2축 스캔거울과 드라이버를 갖는 스캐너에 의해 이루어질 수 있지만, 이에 한정되지도 않는다. 경우에 따라, 스캔패턴은 1축 스캔패턴이나 2축 스캔패턴이고, 2축 스캔패턴으로 적당한 것은 래스터 패턴이나 리사주 도형이다.
    • 本发明提供了一种用于确定在具有不变特征和尖端的绝对位置的平坦表面上具有尖端的长物体的姿势的方法。 该方法包括以下步骤:利用搜索光照射表面和不变特征,以及相对于长对象的轴以角度θ检测返回到对象的搜索光的散射光。 物体的姿态来自散射光对表面和不变特征的响应。 尖端相对于表面的绝对位置由姿势和不变特征确定。 用于实施本发明的方法和设备非常多样。 可选地,扫描光以相对于长物体的轴线的角度σ从物体指向表面。 或者,角度τ为逆散射角,散射光为逆散射光。 长物体相对于轴的角度τ等于角度σ是方便的。 另外,用于获得绝对位置的反应可以是散射光或背散射光强度的变化。 优选地,扫描光被引导到表面并且以准直扫描光束的形式不变的特征。 朝向扫描光束的扫描光束的角度θ改变,使得扫描光束跟随扫描图案。 这种角度变化可以通过但不限于具有单轴或双轴扫描镜和驱动器的扫描器来实现。 在某些情况下,扫描图案是1轴扫描图案或2轴扫描图案,并且2轴扫描图案是光栅图案或光刻图案。
    • 6. 发明公开
    • 긴 물체의 방향변수를 결정하는 장치 및 방법
    • 用于确定最终对象的方位参数的装置和方法
    • KR1020070007127A
    • 2007-01-12
    • KR1020067020550
    • 2005-02-16
    • 일렉트로닉 스크립팅 프러덕츠 인코포레이션
    • 장구앙후아지.부어맨데일에이치.만델라마이클제이.곤잘레스-바노스헥토르에이치.칼스튜어트알.
    • G06F3/0354G06F3/03
    • G01B11/002G01B11/272G01S17/46G06F3/0304G06F3/03545
    • An apparatus and method employing principles of stereo vision for determining one or more orientation parameters and especially the second and third Euler angles Theta, psi of an elongate object whose tip is contacting a surface at a contact point. The apparatus has a projector mounted on the elongate object for illuminating the surface with a probe radiation in a known pattern from a 'first point of view and a detector mounted on the elongate object for detecting a scattered portion of the probe radiation returning from the surface to the elongate object from a second point of view. The orientation 'parameters are determined from a difference between the projected and detected probe 'radiation such as the difference between the shape of the feature produced by the projected probe radiation and the shape of the feature detected by the detector. The pattern of probe radiation is chosen to provide information for determination' of the one or more orientation parameters and can include asymmetric patterns such as lines, ellipses, rectangles, polygons or the symmetric cases including circles, squares and regular polygons. To produce the patterns the projector can use a scanning arrangement or a structured light optic such as a holographic, diffractive, refractive or reflective element and any combinations thereof. The apparatus is suitable for determining the orientation of a jotting implement such as a pen, pencil or stylus. ® KIPO & WIPO 2007
    • 一种采用立体视觉原理的设备和方法,用于确定一个或多个取向参数,特别是尖端在接触点处接触表面的细长物体的第二和第三欧拉角度θa。 该装置具有安装在细长物体上的投影仪,用于从第一观点以及安装在细长物体上的探测器探测辐射以已知图案照射表面,用于检测从表面返回的探针辐射的散射部分 从第二个角度看待细长物体。 取向'参数由投影和检测的探针辐射之间的差异确定,例如由投影的探针辐射产生的特征的形状与由检测器检测的特征的形状之间的差异。 选择探针辐射的图案以提供用于确定一个或多个取向参数的信息,并且可以包括不对称图案,例如线,椭圆,矩形,多边形或包括圆形,正方形和正多边形的对称情况。 为了产生图案,投影仪可以使用扫描装置或诸如全息衍射,折射或反射元件的结构化光学元件及其任何组合。 该装置适用于确定诸如笔,铅笔或触针之类的记录工具的取向。 ®KIPO&WIPO 2007