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    • 1. 发明授权
    • 경질재료로 코팅된 접촉 표면을 구비한 테스트 부재 분석시스템
    • 带有接触表面的硬质材料测试元件分析系统
    • KR100842697B1
    • 2008-07-01
    • KR1020067018493
    • 2005-03-08
    • 에프. 호프만-라 로슈 아게
    • 드라이브홀츠요르크리벨슈테판아우그슈타인만프레트
    • G01N33/487
    • G01N27/26G01N33/4875
    • 본 발명은 샘플, 특히 체액의 분석 검사를 위한 테스트 부재 분석 시스템에 관한 것으로, 일 이상의 측정 영역을 가진 일 이상의 테스트 부재, 상기 테스트 부재 위에 배치되는 접촉 표면 특히 전극 또는 도전체를 포함하며, 검사 중의 샘플은 그 분석에 대해 특징적인 파라미터를 측정함으로써 분석을 행하도록 상기 측정 영역에 가해지며, 상기 테스트 부재를 측정 위치에 위치시키기 위한 테스트 부재 리테이너를 갖는 분석 장치 및 상기 특성 변화를 측정하기 위한 측정 장치를 포함하며, 상기 테스트 부재 리테이너는 그 테스트 부재의 접촉 표면과 테스트 부재 리테이너의 접촉 표면 사이에 전기적 접촉을 허용하는 접촉 표면을 갖는 접촉 부재를 포함하고, 상기 접촉 표면 중 하나는 전도성 경질재료 표면을 구비한 것을 특징으로 한다. 본 발명은 특히 테스트 부재 분석 장치상의 접촉 커넥션의 접촉 표면을 전도성 경질재료로 코팅하는 것에 관한 것이다.
    • 本发明涉及一种用于对样品,特别是体液进行分析检查的测试元件分析系统,该测试元件分析系统包括至少一个具有一个或多个测量区域的测试元件和位于测试元件,特别是电极或导体路径上的接触区域 要检查的样品进入测量区域进行分析,以确定用于分析的特征测量量,以及具有用于将测试元件定位在测量位置的测试元件保持器的评估仪器和用于 测量特性变化,所述测试元件保持器包含具有接触区域的接触元件,所述接触元件能够使所述测试元件的接触区域与所述测试元件保持器的接触区域之间的电接触,其特征在于,所述接触区域中的一个设置有 导电硬质材料表面。