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    • 3. 发明公开
    • 시험체의 양품을 선별하는 와전류 검사 시스템 및 방법
    • EDDY电流系统和选择好的测试体的方法
    • KR1020120114570A
    • 2012-10-17
    • KR1020110032163
    • 2011-04-07
    • 에디웍스(주)
    • 이경규이봉규
    • G01N27/90G01R15/20G01R33/06
    • PURPOSE: An eddy current testing system and method for assorting good or bad testing specimens are provided to reduce measurement errors caused by a complex mechanical shape of a testing specimen or vibration, thereby enhancing the reliability of a specimen test. CONSTITUTION: An eddy current testing system comprises a reference sensor(13a), a test sensor(13b), and an eddy current testing device. The reference sensor detects reference signals from a master testing specimen. The test sensor detects object signals from an object testing specimen. The eddy current testing device constitutes a bridge circuit comprising the reference sensor and testing sensor. The eddy current testing device detects an impedance balanced state of the bridge circuit being changed by corresponding to the reference signals and object signals, thereby testing defects of the object testing specimen. [Reference numerals] (11) Sine wave generating unit; (12) Power amplifying unit; (15) Energy detecting unit; (16) Bridge balance controlling unit; (18) Amplifying unit; (19) Sampling cluck generating unit; (20) Phase signal generating unit; (21) DC offset eliminating unit; (22) Phase controlling unit; (23) Display unit; (24) Good/failure discrimination area setting unit
    • 目的:提供一种用于分类好或坏测试样本的涡流测试系统和方法,以减少由测试样本的复杂机械形状或振动引起的测量误差,从而提高样本测试的可靠性。 构成:涡流测试系统包括参考传感器(13a),测试传感器(13b)和涡流测试装置。 参考传感器检测来自主测试样本的参考信号。 测试传感器检测物体测试样本的物体信号。 涡流测试装置构成包括参考传感器和测试传感器的桥接电路。 涡流检测装置通过对应于参考信号和对象信号来检测改变的桥式电路的阻抗平衡状态,从而测试对象测试样本的缺陷。 (11)正弦波发生单元; (12)功率放大单元; (15)能量检测单元; (16)桥梁平衡控制单元; (18)放大单元; (19)采样灯发生单元; (20)相位信号发生单元; (21)直流偏移消除单元; (22)相控单元; (23)显示单元; (24)良好/故障判别区域设定单元
    • 5. 发明授权
    • 시험체의 양품을 선별하는 와전류 검사 시스템 및 방법
    • EDDY电流系统和选择好的测试体的方法
    • KR101252458B1
    • 2013-04-16
    • KR1020110032163
    • 2011-04-07
    • 에디웍스(주)
    • 이경규이봉규
    • G01N27/90G01R15/20G01R33/06
    • 본 발명은 와전류 검사 시스템 및 방법에 관한 것으로, 특히 와전류를 이용하여 시험체의 열처리, 재질 및 결함의 유무 등을 검사할 수 있는 와전류 검사 시스템 및 방법에 관한 것이다.
      이를 위해, 본 발명은 마스터 시험체로부터 기준신호를 검출하는 기준센서와, 상기 마스터 시험체로부터 조정신호를 검출하고, 일군의 군집 내의 양품 시험체들로부터 군집신호를 검출하며, 대상 시험체로부터 대상신호를 검출하는 시험센서와, 상기 기준센서와 상기 시험센서를 포함하는 브릿지 회로를 구성하고, 상기 기준신호와 상기 조정신호에 따라 상기 브릿지 회로의 임피던스 평형을 조정하고, 상기 조정신호, 상기 군집신호 또는 상기 대상신호에 응답하여 변화하는 상기 브릿지 회로의 임피던스 평형상태의 변동에 대응하는 차동신호를 출력하는 와전류 검사장치를 포함하고, 상기 와전류 검사장치는 상기 군집신호에 대응하여 변화하는 상기 차동신호를 이용하여 양품판별영역을 설정하고, 상기 대상신호에 대응하여 변화하는 상기 차동신호를 이용하여 상기 차동신호의 최고점이 상기 양품판별영역에 포함되는지를 판단하여 상기 대상 시험체를 검사하는 와전류 검사 시스템을 제공한다.
      따라서, 본 발명에 의하면, 검사항목을 모두 통과한 양품 시험체들로부터 검출된 군집신호를 이용하여 양품판별영역을 설정하고, 설정된 양품판별영역을 기준으로 대상 시험체의 합격 또는 불합격 여부를 판단함으로써 시험체의 열처리 유무 검사, 재질 검사, 가공형상 불량 검사시 신뢰성을 개선시켜 수율을 향상시킬 수 있다.